制程能力指数培训教材摘要.ppt

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1、摘要-名詞介紹USL:產品之規格上限LSL:產品之規格下限μ:規格中心值χ:樣本算術平均(平均值)::母體標準差:s:樣本標準差:T:規格公差=規格上限-規格下限(USL-LSL)(雙邊)公差:如18.0±0.5,單邊公差:18.0+0/-0.5不平衡公差:如18.0+0.5/–0.2or18.0+0.3/–0.5PPM(PartsPerMillion):每百萬個單位的不合格數=XΣNi=1Xi/N1摘要-製程能力分析最重要的三個參數Ca製程準確度(CapabilityofAccuracy)Cp製程精密度(CapabilityofPrecision

2、)Cpk製程能力指數(CapabilityofProcess)‧..+‧‧+.............+..…...............準確Ca佳,Cp不佳例如:人準,槍不準精密Cp佳,Ca不佳例如:槍準,人不準既準確又精密Ca,Cp,Cpk佳例如:槍準,人準射箭/打靶/射飛鏢為例:2摘要-Ca製程準確度Ca=製程平均值-規格中心值規格公差的一半=X-μT2╳100%-3σ-2σ-1σTARGET+1σ+2σ+3σ+∞-∞uxLSLUSL╳100%Ca:製程準確度:表示製程平均值相對於規格中心值的偏移程度.=自然公差工程公差註:1.單邊規格因為沒

3、有規格中心值,故不能算Ca.2.Ca值為制程中心值偏移規格中心值時制程能力之矯正值(Non-centeringCorrection).T=規格公差=USL–LSL規格中心值=(USL+LSL)/23摘要-Cp製程精密度Cp:製程精密度:表示製程特性的一致程度,用來評估流程自然的變異(6)是否在規格界線之內,值越大越集中.也可定義為規格上下之間可以容納多少個+/-3σ(亦即6σ).Cp=規格上限-規格下限6標準差=T6σ=USL-LSL6σ-3σ-2σ-1σTARGET+1σ+2σ+3σ+∞-∞uLSLUSLσ1σ2=自然公差工程公差雙邊規格:Cp=

4、規格上限-規格下限6標準差=T6σ=USL-LSL6σ-3σ-2σ-1σTARGET+1σ+2σ+3σ+∞-∞uLSLUSLσ1σ24摘要-Cpk製程能力指數Cpk:製程能力指數:是評估制程平均數到最近規格距離的程度,即同時考慮偏移及一致程度.也是Ca和Cp兩個值的綜合指標,也稱為“短期的制程能力指標”公式一:(日本)雙邊規格Cpk=Cp(1-

5、Ca

6、),當Ca=0時,Cpk=

7、Cp

8、公式二:(美國)Cpku=USL-X3σCpkl=3σX-LSLCpk=Min(Cpku,Cpkl)=(Cpku,Cpkl)之最小值Cpk愈大,代表品質愈好5摘要-Ca

9、/Cp/Cpk等級判定等級CaCpCpkA0≦

10、Ca

11、<6.25%1.67≦Cp1.67≦CpkB6.25%<

12、Ca

13、≦12.5%1.33≦Cp<1.671.33≦Cpk<1.67C12.5%<

14、Ca

15、≦25%1.00≦Cp<1.331.00≦Cpk<1.33D25%<

16、Ca

17、≦50%0.67≦Cp<1.000.67≦Cpk<1.0E50%<

18、Ca

19、Cp<0.67Cpk<0.676摘要-Cpk的應用(奈電)不同的Cpk值有不同的做法:1)Cpk≧1.33理想狀況，保持。2)1.0≦Cpk<1.33須進行工作及品質改善，以求降低變異，提高品質。確實做到

20、工作站管理，並做必要的處理及回饋改善工作。3)0.67≦Cpk<1.0採取積極除錯工作，有時須全檢。將全檢所得之資料分析原因，找出問題來源，防止再發生，並徹底解決改善。4)Cpk<0.67立即停止生產,找出問題來源，防止再發生，並徹底解決改善后,才可恢復生產。5.5σ5.5σ4.5σ4.5σ3.5σ3.5σ7摘要-Cp,Cpk,PPM對照表SPEC.LIMIT±σ0.51.01.52.02.53.03.54.04.55.05.56.0精密度指標CpPPM0.176171000.333173100.501336140.67455000.83124191

21、.0027001.174651.33631.5071.670.61.830.042.000.002綜合能力指標CpkPPM-0.33864100-0.176976700.005013500.173087700.331586870.50668100.67227500.8362101.0013501.172331.33321.503.48PpCpkPpkCp11:改善Control能力PpkPp2:固有技術的提升PpCpk3:短期提升控制能力CpkCp規格的中心點實際流程平均值的位置最佳可能性實際(全部)變異23摘要-長期v.s.短期流程能力91.

22、Ca:表示製程平均值相對於規格中心值的偏移程度.2.Cp:定義為規格上下之間可以容納多少個+/-3σ(亦即6