制程能力培训教材.ppt

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1、制程能力培训教材ProcessCapability(CP/CA/CPK/PP/PPK)7/21/20211目录第一章制程控制中的基本概念第二章概率与常态分布第三章抽样计划与管制图第四章过程能力指数(CPCACPKPPPPK)第五章置信度及假设检验2第一章制程控制中的基本概念BasicConceptsinProcessControl7/21/20213两种产品特征值计量值:可用物理单位量度的特性值单位举例:毫米、伏、安培、分贝、秒等;对应计量值:长度、电压、电流、噪音、读碟时间等一般服从正态分布计数值:可以用诸如“好”或“坏”的标准来衡量的值例如:刮伤、黑点(外观品质)一般服从二项

2、分布或泊松分布4影响制程/系统偏差的因素5M1E设备方法环境人物料客户满意度测量5制程的两种状态正常变化----由于固定的因素引起的稳定制程:制程中的变化都是由于固定的因素造成的不正常的变化----由于特殊因素引起的不稳定制程:制程中的变化是由于固定的和特殊因素共同造成的所有制程都有以下两种状态:6引起变化的两种因素固有因素制程设计造成的,且影响制程所有输出结果的影响因素;需用诸如试验设计(DOE)的方法来识别这类影响因素。(DOE:DesignofExperiment)改进这类因素需要花费大量人力物力7引起变化的两种因素特殊因素在制程中不常发生,且不影响所有的输出结果,但在特殊

3、条件下发生;特殊因素(异因)可用统计过程控制(SPC)的方法识别。有哪些因素呢?又如何识别?这是在利用统计方法发现问题后,需要研究分析的。8公差Tolerances公差是指某特性值允许变动的最大范围。中间值规格上限规格下限可接受范围不可接受范围不可接受范围9测试报告大多数情况下,只测量某个生产线中的主要/关键或客户关注的功能值来作测试报告。关键数据:应测量多个样品。10第二章概率与常态分布ProbabilityandNormalDistribution7/21/202111正态分布形成条件典型的连续概率分布(计量值)为正态分布。当质量特性(随机变量)由为数众多的因素影响,而又没有

4、一个因素起主导作用的情况下,该质量特性值的变异分布一般都服从或近似服从正态分布。从直方图来看,当n∞,h0时,直方图趋于光滑曲线,此时曲线代表总体的质量特性分布规律(n表示组数,h表示组距)。μ-∞+∞如稳定状况下,SDV17-A3耳机右声道THD+N的数据直方图12正态分布曲线特征说明输入的变量随机地影响过程;数据以顶点为中心线左右平均分布;意味着随机变量X在μ附近出现的机率最大,当X向左右远离时,X出现的概率随分布曲线的降低而迅速下降;数学上,分布曲线与横坐标所夹的面积为1;任一正态分布仅由两个参数:总体均值μ和总体标准差σ决定;σ越小,曲线越陡,数据的离散越小。反之,曲

5、线越扁平,离散越大。(简单画图说明)13标准正态分布+/-σ区间:68.26%;+/-2σ区间:95.46%;+/-3σ区间:99.73%;+/-4σ区间:99.99327%;+/-5σ区间:99.9999427%;+/-6σ区间:99.9999998%;(无偏状态下)假设以σ为取值的规格限,在正态分布前题下,产品的不合格率就是定值14标准正态分布在总体平均值μ=0,总体标准差σ=1时的正态分布为标准正态分布,记为N(0,1)。如果μ≠0σ≠1,此时分布N(μ,σ)的累积概率是多少?累积概率即从-∞到数轴上某一指定点X分布曲线所包含的面积。步骤1:换算Z=(X-μ)/σ步骤2:查

6、正态分布表,得出Φ(Z),即累积概率(下图阴影部分)15举例即在已知平均值、标准偏差时,可以计算某测量对象小于某个测量值的百分比是多少。已知SDV185的耳机失真+噪音服从分布N(-71.44,0.987),求耳机THD+N小于及大于-70dB的机子各占多少百分比?(耳机THD+N的标准为<-65dB)小于-70dBZ=(X-μ)/σ=(-70+71.44)/0.987=1.459Φ(Z)=Φ(1.459)=0.92785=92.79%(查正态分布表得到)大于-70dB1-Φ(Z)=1-Φ(1.459)=7.21%大于-67dBZ=(X-μ)/σ=(-67+71.44)/0.98

7、7=4.498Φ(Z)=Φ(4.498)=0.9999966021-Φ(4.498)=3.398*10-616正态分布曲线参数-平均值:是对中心线趋势的量测,是总体所有数值的平均值。如果只描述总体中的一组时,平均值为:平均值说明了分布的位置。例如:X1=7X2=5X3=4X4=6X5=1平均值X=(X1+X2+X3+X4+X5)/5=4.617正态分布曲线参数-变化范围量测变化最简单的是:变化范围R。样本的变化范围可定义为:子样本中所有值中的最大值与最小值的差。例如,一样本有5个

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