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1、內部教育訓練1-統計製程管制(SPC)---管制圖2-製程能力分析(Cpk,Z值)3-量測系統分析(MSA)1製程能力分析(Cpk，DPMO，Z值)2目錄1-製程能力度量2-Cp3-Ca4-Cpk5-Z值,SigmaLevel6-短期能力與長期績效7-範例：計量型製程能力分析8-範例：計數型製程能力分析(不良率)9-範例：計數型製程能力分析(缺點數)31製程能力度量-1計量型數值(Variabledata)計數型數值(Attributedata)Ca、Cp、CpkPp、PpkDefect、DPUDPO、DPM
2、OZ值(SigmaLevel)1-傳統上,我們以Ca,Cp,Cpk作為衡量製程能力之指標;在SixSigma中,對於計量型數據主要是利用SigmaLevel(Z值)作為其製程能力指標2-對於計數型數據,我們計算DPU,DPO,DPMO;DPMO可再轉換成Z值41-製程精密度(CapabilityofPrecision)衡量製程分散寬度符合規格的程度2-Cp只考慮標準差,不考慮平均值3-Cp值愈高,表示製程能力佳A規格寬度USL–LSLVOCCp=--------=-----------------------
3、--=-------------------=----------B實際分散寬度6σVOP◎Cp等級評定基準：A：Cp≧2.00B：2.00＞Cp≧1.33C：1.33＞Cp≧1.00D：1.00＞Cp2Cp,製程精密度-1製程的聲音顧客的聲音ABA規格下限規格上限LSLUSL52Cp,製程精密度-2◎Z值＝3Cp◎若單邊規格,則USL–μμ–LSLCPU=---------------CPL=-------------------μ:規格中心值3σ3σACp=ACp=ACp=EX:製程精密度判斷63Ca,製
4、程準確度-11-製程準確度(CapabilityofAccuracy)衡量製程平均值與規格中心的偏移程度2-Ca只考慮平均值偏移,不考慮標準差(分散寬度)3-Ca值愈小,表示平均值偏離小C偏移量Xbar–μCa=--------=-------------------------=-------------------μ:規格中心值1/2A1/2規格寬度½(USL–LSL)Xbar:平均值◎Ca等級評定基準：ACa≦12.5%B：12.5%＜Ca≦25%C：25%＜Ca≦50%D：50%＜CaAC1/2A規格
5、下限規格上限LSLUSLXμ73Ca,製程準確度-2ALSLUSLALSLUSLXμEX:製程準確度判斷Ca=Ca=84Cpk,製程能力指數-11-綜合製程能力指數(IntegratedCapabilityIndex)同時考慮中心值偏移量與分散寬度(標準差)的狀況2-Cpk同時考慮平均值偏移及標準差3-Cpk值愈大,表示製程能力愈強,不良率愈低USL-XbarXbar–LSLCpk=Cp(1–Ca)=Min(-----------------，-----------------)=Min(CPU,CPL)3σ
6、3σ=製程精確度x(1-偏移率)=精確度x準確度◎Cpk等級評定基準：A：Cpk≧1.50B：1.50＞Cpk≧1.25C：1.25＞Cpk≧1.00D：1.00＞CpkA規格下限規格上限LSLUSL94Cpk,製程能力指數-2Cpk=Cp(1–Ca)=ALSLUSLALSLUSLCpk=Cp(1–Ca)=EX:製程能力指數判斷104Cpk,製程能力指數-3Cp=(103-97)/(6x0.5)=2.0Cpk=Cp(1–Ca)=2.0(1-(100–99.25)/3)=2.0(0.75)=1.5CPU=(10
7、3-99.25)/(3x0.5)=2.5CPL=(99.25-97)/(3x0.5)=1.5EX:假設產品品質特性的規格為100±3,今由生產線收集100件產品,量測後獲得平均值為99.25,標準差為0.5;試計算Cp,Cpk指標LSL=97USL=103Target=100μ=99.25σ=0.5規格寬度=6距離上限=3.75距離下限=2.25平均值偏移=0.75115Z值,SigmaLevel-11-Z值：衡量平均值與規格界限間之距離(D)相當於幾個標準差,也稱為SigmaLevel(Sigma水準)2-
8、Z值也可由不合格率來推算(適用於計數型資料)3-只有單邊規格時,平均值遠離規格,代表Z值越高,品質越好AUSLDσLSLADσ僅有規格上限僅有規格下限Z值=D/σ125Z值,SigmaLevel-2USL-XbarXbar–LSLCpk=Min(-----------------，-----------------)=Min(CPU,CPL)3σ3σUSL-XbarXbar–LSLZ=Min(---
