CPK 制程能力分析.ppt

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1、Cpk制程能力分析7/27/20211SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment常态分配通常写为X~N(µ:σ2)其中µ:常态分配的中心值(Mean)σ2：常态分配的变异（Variance）σ:常态分配的标准差(StandardDeviation)常态分配特性(1)曲线与橫轴所围的面积为1;(2)以µ为中心呈对称性分布;(3)变异σ2代表分配函数的离散程度如图1所示,具有相同µ的二个常态分配(a)与(b),(a)的离散程度比(b)小,即σ2a<σ2b,所以常态分配(a)大多数的点倾向於集中µ的附近.μ图1(a)σ2a(b)σ2b7/27

2、/20212SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentPercentagesOfTheNormalDistribution7/27/20213SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment管制图与常态分配μμ+kσ图2X值在µ+kσ与µ-kσ之間之或然率(Probability)或称机率如右图.以图中斜线部分表示,其公式为:群体平均值=µ标准差=σ抽取一个x图1μ-kσσ7/27/20214SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment群体(制程)与样本间之关系分配之期望值分配之标准差设为

3、样本平均,µ为群体平均S=S为样本标准差为群体标准差在统计学上注:如可视为无限群体用上式为有限群体之修正系数设系有限数群体而則分配之标准差21437/27/20215SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment群体(制程)与样本间之关系样本平均值之分配群体平均值之分配µ7/27/20216SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentCpkVsDefectiveYield我們常用产品品质特性的常态分配与規格相比较,以決定产品的不良率.如右图所示产品品质特性的常态分配.规格上限:USL(UpperSpecific

4、ationLimit)规格下限:LSL(LowerSpecificationLimit)落在规格上,下限外的斜线面积即为产品的不良率.μLSLUSLμ-3σ-2σ-1σ+3σ+2σ+1σ68.27%95.45%99.73%0.135%0.135%StandardDeviationfrommean7/27/20217SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment目前在品管里常注重制程的分散宽度,故有定义制程能力为下式者:群体标准差每不易直接求得一般以样本资料推定之,其推定方法有下列三式:(1)直接由样本特性值計算时(2)由次数分配表計算时(2

5、)管制图計算时一般均采用公式(3)制程能力的数量表示法1..分散宽度以表示之.制程能力=(或)d2Cpk計算時用此公式(1)7/27/20218SilitekElectronics(GZ)VQMDepartment管制界限損失第二种错误第一种错误两种错误总和±1σ±3σ±4σ±5σ±6σ±2σ两种错误之经济平衡点Breakevenpoint,BEP通常,在管制图使中会有两种错(ERROR).第一种即是单制程仍属管制状态,但卻因随机性原因点落于管制界限外时,为了寻找不存在之问题而导致成本增加.第二种即是当制程已失去管制,但数据点由于随即问题仍落于管制界限內,因而误判

6、制程处于管制状态,因而造成更大之损失.7/27/20219SilitekElectronics(GZ)VQMDepartmentTheAccuracyofaninstrumentcanbeimprovedbyrecalibratingtoreduceitserror,butrecalibratinggenerallydoesnotimprovetheinstrument’sPrecision.(Repeatabilityalsosometimesknownas“Precision”)Accuracy&Precision7/27/202110SilitekElect

7、ronics(GZ)VQMDepartmentT/2Ca(制程准确度)Tux-Ca:(Capabilityofaccuracy)从生产过程中所获得的资料其实际平均值()与规格中心值(µ)之间偏差的程度=12.50%25%50%100%A級B級C級D級X(實績)规格中心值规格上限或下限X(實績)X(實績)等級A≦12.5%B12.5%<≦25%C25%<≦50%D50%

8、面检讨,必