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时间:2020-03-26
《X-射线荧光光谱法测定废塑料表面金属涂层含量.pdf》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、化学工程师ChemicalEngineer2015年第02期分:析溯X一射线荧光光谱法试测定废塑料表面金属涂层含量黄世杰,张建波,应海松,李雪莲(北仑出入境检验检疫局,浙江宁波315800)摘要:本文提出了利用X一荧光仪测定废塑料各种金属涂层中金属元素含量的方法。以稳定性为优化原则选择了仪器针对不同元素的测量条件,研究了实验过程中样品杯、基材以及金属涂层中元素效应对检测结果的影响;方法精密度为0.008%~0.044%之间;将x一荧光检测结果与ICP检测结果进行比对并得出同样的数据,该方法为控制废塑料金属涂层产生的危害和污染提供更
2、为合理的检测手段,并已应用到实际检测当中。关键词:XRFS;金属涂层;铝;铜;铅;铬;镍中图分类号:0657.34文献标识码:AXRFSDeterminateofmetalliccoatingcontentofwasteplasticsHUANGShi—Jie,ZHANGJian—bo,YINGHai—song,LIXue—lian(BeilunEntry-ExitInspectionandQuarantineBureau,Ningbo315800,China)Abstract:Anewmethodfordeterminingev
3、erymetalelementsinthemetalliccoatingofwasteplasticsbyX—rayfluorescencespectrometerwasbronghtout.Theinstrumentworkingconditionsfordifferentelementswereopti—mizedaccordingtothestability,theeffectsofsamplecup,basematerialandmatrixelementsforthedeterminatedresultsweredisc
4、ussed;RSDswereintherangeof0.5%-1.5%.TheresultsweregivenindifferentbyXRFSandICP-OESwerecomparedandgaveuniformityresults.Thismethodcangivemorereasonableresultsforcontrollingdam—ageandcontaminationbymetalliccoatingofwasteplastics.Italsohasbeenappliedtopracticalsampleanal
5、ysis.Keywords:X-rayfluorescencespectrometer;metalliccoating;aluminum;copper;Pb;nickel;chromium进口再生物质是补充国内自然资源不足的重料”和SN/T1791.1—2006“进口可用作原料的废物检要途径之一,浙江作为塑料行业领先地区,占全国验检疫规程第1部分:废塑料”规定:涂有金属层的塑料产业将近20%t1,其中很大一部分原料依赖进塑料薄膜或塑料制品不得超过总质量的5‰,否则口废塑料,但废塑料回收利用中产生的二次污染却将做退运处理。对环境具有
6、很大的风险,特别是涂有金属层废塑料x一荧光技术在测定金属含量应用非常广泛,的回收利用对环境影响较大【。在测定有机涂层中金属含量也有报道【1引,但用x一塑料涂金属层一般有喷涂、电镀、真空溅镀、荧光技术测定废塑料表面金属涂层含量相关研究粘合和热压合等工艺。涂上去的金属主要是铝、铜、还未见报道。本文利用x一射线荧光光谱法测定废锌等第二类污染物,也有部分镍、铬、铅等第一类污塑料表面金属涂层含量,方法具有非破坏性和非接染物。由于目前大部份涂有金属层废塑料是采用化触性,无需试样前处理就可以直接进行检测。实验学方法去除涂层金属,涂层金属大部分变
7、成相应金结果表明,该方法简便、快速、精密度高,能够满足属离子溶解于清洗水中,如清洗水直接排放,将造检验检疫日常检测的需要。成水系严重污染,带来很大环境风险[¨]。随着国家对环境的要求越来越严格,标准GB16487.12—1实验部分2005“进口可用作原料的固体废物保护标准一塑1.1仪器及仪器工作条件s4Pioneer型波长色散x射线荧光光谱仪收稿日期:2014—10—29(BrukerAXS,德国),铑靶x光管,功率4kW,配有作者简介:黄世杰(1982一),男,工程师,硕士学位,主要研究方向:进MLQuanG软件。仪器的测量条件
8、见表1。口废物原料有毒有害物质检测。2015年第O2期黄世杰等:x一射线荧光光谱法测定废塑料表面金属涂层含量19将一废塑料样品剪成7块后,按上述测量方法经过结果对比,可以看出x一荧光方法与ICP—进行检测,结果见表3。AES方法相一致,完全能够满足
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