线性系统的根轨迹分析.doc

线性系统的根轨迹分析.doc

ID:49980365

大小:156.50 KB

页数:6页

时间:2020-03-03

线性系统的根轨迹分析.doc_第1页
线性系统的根轨迹分析.doc_第2页
线性系统的根轨迹分析.doc_第3页
线性系统的根轨迹分析.doc_第4页
线性系统的根轨迹分析.doc_第5页
资源描述:

《线性系统的根轨迹分析.doc》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库

1、自动控制原理课程实验报告实验题目:线性系统的根轨迹分析1.实验目的1.根据对象的开环传函,做出根轨迹图。2.掌握用根轨迹法分析系统的稳定性。3.通过实际实验,来验证根轨迹方法。2.实验设备PC机一台,TD-ACC+(或TD-ACS)教学实验系统一套。3.1实验原理及内容1.实验对象的结构框图:如图2.1-1所示。2.模拟电路构成:如图2.1-2所示。3.绘制根轨迹(1)由开环传递函数分母多项式S(S+1)(0.5S+1)中最高阶次n=3,故根轨迹分支数为3。开环有三个极点:p1=0,p2=-1,p3=-2(2)实轴上的根轨迹:①起始于0、-1、-2,其

2、中-2终止于无穷远处。②起始于0和-1的两条根轨迹在实轴上相遇后分离,分离点为显然S2不在根轨迹上,所以S1为系统的分离点,将S1=-0.422代入特征方程S(S+1)(0.5S+1)+K中,得K=0.193(3)根轨迹与虚轴的交点将S=jW代入特征方程可得:4.根据根轨迹图分析系统的稳定性根据图2.1-3所示根轨迹图,当开环增益K由零变化到无穷大时,可以获得系统的下述性能:R=500/K(1)当K=3;即R=166KΩ时,闭环极点有一对在虚轴上的根,系统等幅振荡,临界稳定。(2)当K>3;即R<166KΩ时,两条根轨迹进入S右半平面,系统不稳定。(3

3、)当0166KΩ时,两条根轨迹进入S左半平面,系统稳定。上述分析表明,根轨迹与系统性能之间有密切的联系。利用根轨迹不仅能够分析闭环系统的动态性能以及参数变化对系统动态性能的影响,而且还可以根据对系统暂态特性的要求确定可变参数和调整开环零、极点位臵以及改变它们的个数。这就是说,根轨迹法可用来解决线性系统的分析和综合问题。由于它是一种图解求根的方法,比较直观,避免了求解高阶系统特征根的麻烦,所以,根轨迹在工程实践中获得了广泛的应用。3.2实验步骤1.绘制根轨迹图:实验前根据对象传函画出对象的根轨迹图,对其稳定性及暂态性能做出理论上的判断。并

4、确定各种状态下系统开环增益K的取值及相应的电阻值R。2.将信号源单元的“ST”端插针与“S”端插针用“短路块”短接。由于每个运放单元均设臵了锁零场效应管,所以运放具有锁零功能。将开关设在“方波”档,分别调节调幅和调频电位器,使得“OUT”端输出的方波幅值为1V,周期为10s左右。注意:实验过程中,由于“ST”端和“S”端短接,运放具有锁零功能。而该对象的响应时间较长,看不全整个响应过程,此时只需在响应过程中将信号源中的“ST”端和“S”端之间的短路块拔掉即可。3.按模拟电路图2.1-2接线,并且要求对系统每个环节进行整定,详见附录一;将2中的方波信号加

5、至输入端。4.改变对象的开环增益,即改变电阻R的值,用示波器的“CH1”和“CH2”表笔分别测量输入端和输出端,观察对象的时域响应曲线,应该和理论分析吻合。注意:此次实验中对象须严格整定,否则可能会导致和理论值相差较大。3.3实验截图及现象分析等幅R=122K发散R=10k衰弱1衰弱2R=186k.3.4分析讨论将跟轨迹保持在虚轴左侧,对提高系统性能有较大作用,R的不同对系统也有较大英雄。实验中问题:因为R变化过大,导致图象峰值出现饱和,这提醒我们以后实验不能过于急躁

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文

此文档下载收益归作者所有

当前文档最多预览五页,下载文档查看全文
温馨提示:
1. 部分包含数学公式或PPT动画的文件,查看预览时可能会显示错乱或异常,文件下载后无此问题,请放心下载。
2. 本文档由用户上传,版权归属用户,天天文库负责整理代发布。如果您对本文档版权有争议请及时联系客服。
3. 下载前请仔细阅读文档内容,确认文档内容符合您的需求后进行下载,若出现内容与标题不符可向本站投诉处理。
4. 下载文档时可能由于网络波动等原因无法下载或下载错误,付费完成后未能成功下载的用户请联系客服处理。