X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅不确定度的评定111

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1、X-射线荧光光谱法测定硅铁合金中硅的测量不确定度评定鲍希波石毓霞(邯钢技术中心，邯郸　056015)摘　要：针对X-射线荧光光谱法(XRF)测定硅铁合金中Si的测量不确定度来源进行了详细的分析，对XRF法测定硅铁合金中Si的结果的测量不确定度进行了仔细的评定，最终给出了扩展不确定度。关键词：X射线荧光光谱法；测量不确定度；硅铁合金理化检验工作中，制约分析测试结果准确度的因素主要包括检测方法、标准物质、仪器设备、试剂、操作者水平等，多年来分析检验工作者们对这些因素的作用机理以及如何有效消除或降低影响的研究从没间断过，并获得了有益的结果。多种制约因素的

2、客观存在使分析测试工作永远不能穷尽测量值与真值之间的差异，因此产生误差这一概念用来表达测量结果的可靠程度，误差愈大，可靠性愈低，反之亦然。随着近年来对分析结果制约因素的深入研究，误差已不能准确客观表达测量工作的受阻和制约情形，于是一个新的概念"不确定度(Uncertainty)"被提出来了，不确定度这一概念对于我们许多分析检验人员来说还是比较陌生的，但又是我们必须尽快熟悉的，在今后的工作中，不确定度将会越来越多的出现，而误差的概念将逐渐被谈忘。JJF1059-1999给出了测量不确定度定义是“表征合理地赋予被测量之值的分散性，与测量结果相联系的参数

3、”。不确定度越小，则测量结果的可疑程度越小，可信程度越大，测量结果的质量越高，水平越高，其使用价值越高，反之亦然。测量不确定度根据评定方法的不同区分为A类标准不确定度和B类标准不确定度。前者是用对观测列的统计得出的不确定度，后者是不同于观测列的统计得出的不确定度，即根据许多已知信息来评定的标准不确定度。各因素引起的输入量的不确定度分量(包括A类和B类)评定以后，根据不确定度传播定律，对各分量进行合成，从而得到合成标准不确定度，再按所确定的置信概率将合成标准不确定度乘上包含因子，从而得到扩展不确定度，有时也称为展伸不确定度或范围不确定度或总不确定度。

4、　邯钢理化检验分析工作中，X-射线荧光光谱法测定铁矿石、耐火材料、铁合金等冶金材料化学成分已经被广泛应用。然而在X射线荧光光谱法的测量不确定度评定方面还处于探索阶段。ISO/IEC指南25：1990《校准与测试实验室资格的通用要求》中指出，实验室的每个证书或报告，必须含有评定标准或测试结果不确定度的说明。GB/T19001《质量管理和质量保证》中规定，对所用设备的测量不确定度应是已知的。以使报告使用者了解结果的可靠性，同时也使X射线荧光光谱法的测量结果与其他方法的测量结果具有可比性。根据国际标准化组织19935年发布公布于世的《测量不确定度表示指南

5、》(GUM)国际标准，中国国家质量技术监督局已于1999年发布了JJF1059-1999《测量不确定度评定与表示》[1]计量技术规范，近年来测量不确定度的评定在理化检验中越来越受到重视[2-4]。本文根据X射线荧光光谱法测量硅铁中硅含量的方法特点，经分析列出测量不确定度来源，建立数学模型，并进行分量评定，计算合成标准不确定度，评定扩展不确定度，最后完成不确定度报告，从而获得较为完整的定量分析报告。1实验部分1.1主要仪器和试剂日本理学SMX12波长色散X射线荧光光谱仪(X射线管电源50kV，50mA;P10气1L/h);岛津AUW120D电子天平(

6、分辨率0.0001g)。RYL-02型快速熔样炉（洛阳特耐试验设备有限公司）标准物质：BH0301-1~BH0301-6YSB14603-2001YSB14604-2001GBW01422等四硼酸锂(优级纯)混合熔剂(67%四硼酸锂和33%偏硼酸锂)碘化铵(分析纯)分散剂(分析纯)1.2环境条件温度设置为(23±2)℃，湿度为(60±5)%。电源220V，波动小于5%。1.3被测对象硅铁合金中硅(w(Si)=46.63%~77.38%)。1.4实验方法采用熔融制备玻璃熔片[5]荧光法测定硅含量。准确称取6.0000（±0.0005g）克已在110℃

7、烘干1h的Li2B4O7置于平底铂金坩埚内，加入30%分析纯碘化铵溶液数滴作为脱膜剂，在预先恒温1000℃的电热熔样炉内熔融15min，取出铂金坩埚挂壁制成熔剂坩埚。待冷却至室温后称取0.2000g硅铁试样和2.000g分析纯分散剂于挂壁后的铂金埚内，加5ml蒸馏水后于低温电炉上加热；待反应停止后，将电炉温度调高蒸干。待坩埚冷却到室温后，称取1.000g混合溶剂（67%四硼酸锂+33%偏硼酸锂）于坩埚内并滴加30%碘化铵溶液10滴，将坩埚放置于恒温1000℃熔样炉中，启动熔融程序进行熔融制片。熔样程序设置：炉温1050℃；前静置时间3分钟；炉体摆动

8、时间15分钟；后静置时间2分钟。熔融物在坩埚中自动成形，冷却后自动剥离。用X射线荧光光谱仪测量玻璃片中待分析元素的X射线荧