《光耦检验作业指引》

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1、精品文档，欢迎下载！半导体光耦检验作业指引起草者：贺俊杰日期：2009年09月11日核对者：日期：2009年月日批准者：日期：2009年月日精品文档，欢迎下载！精品文档，欢迎下载！REVISERECORD文件修订记录REV版本ECO№更改通知REVISEDETALL修订简述DATE日期PREPART制定CHECK审核APPROVE批准A/0/首次发行09-9-11贺俊杰精品文档，欢迎下载！精品文档，欢迎下载！一、目的：规范半导体光耦检验过程和检验方法的一致性和准确性。二、职责：1、技术员负责该标准的执行，并认真做好相关记录。所有的实验，在没有特殊规定的情况下，

2、一律按本标准进行测试。2、零件承认工程师负责监督技术员的执行情况和相关报告的审核，并负责所属样件作业指引的制定。3、部门负责人负责本标准的审批。三、半导体光耦检测项目：1、外观检验项目：1.1、表面标识正确，清晰易辩、无模糊，内容符合文件要求。1.2、本体无裂痕、边角破损、刮花或凹陷等不良现象。1.3、引脚无氧化发黑、无断裂、锈蚀、批锋、压痕、变形、污渍等不良现象。1.4、尺寸参数与样品规格书规定的标准相符。2、性能检验项目：2.1、输入端反向电压测试VR：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电流IR与部品规格书上的测试电流相同b)测试设备：半导体

3、管特性图示仪XJ4810c)测试方法：把图示仪的正电极接光耦输入端负极（即二极管的负极）,负电极接光耦输入端正极（即二极管的正极），接上后，再调节Y轴电流按钮和X轴电压按钮到指定的电压电流；最后慢慢地把调制峰值电压按钮从0%往上调高，当LCD面板的坐标图显示被击穿图形时，其读数为光耦输入端的反向电压测试VR。d)测试结果判断：100%抽检品的击穿电压值一定在规格书的范围值内，否则NG。2.2、输入端反向漏电流测试：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电压与部品规格书上的测试电压相同b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA

4、）精品文档，欢迎下载！精品文档，欢迎下载！把测试设备和被光耦如图1线路连接起来，然后将可调直流电源输出电压VOUT调到指定的测试电压VR时，电流表所测的读数即为光耦的输入端反向漏电流测试IR值。d)测试结果判断：100%抽检品的漏电流IR值一定在规格书范围值内，否则NG。2.3、输出端反向电压测试VCE：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电流IC与部品规格书上的测试电流相同。b)测试设备：半导体管特性图示仪XJ4810c)测试方法：把图示仪的正电极接光耦输出端三极管的C极,负电极接光耦输出端三极管的E极，接上后，再调节Y轴电流按钮和X轴电压按钮到

5、指定的电压电流；最后慢慢地把调制峰值电压按钮从0%往上调高，当LCD面板的坐标图显示被击穿图形时，其读数为光耦输出端三极管的反向电压测试VCE。。d)测试结果判断：1、100%抽检品的击穿电压值一定在规格书的范围值内，否则NG；2、击穿电压VR值的CPK值大于1.0，否则NG。2.4、输出端反向漏电流测试：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电压与部品规格书上的测试电压相同。精品文档，欢迎下载！精品文档，欢迎下载！b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA）把测试设备和被光耦如图2线路连接起来，然后将可调直流电源输出电压V

6、OUT调到指定的测试电压VCE时，电流表所测的读数即为光耦的输出端反向漏电流测试ICE值。d)测试结果判断：100%抽检品的漏电流ICE值一定在规格书范围值内，否则NG。2.5、电流传输比CTR测试：a)测试条件：环境温度Ta=25℃；b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA）；3、限流电阻图3：光耦电流传输比测试方法精品文档，欢迎下载！精品文档，欢迎下载！把测试设备和被光耦如图3线路连接起来，然后将可调直流电源A2调到一定的输出电压，再把V1输出电压慢慢提升，当看到A1、A2表电流慢慢上升时，用公式：A2/1A就等于光耦的电流传输

7、比值。d)测试结果判断：100%抽检品的电流传输比值一定在规格书范围值内，否则NG。2.6、输入与输出端耐压测试：a)测试条件：环境温度Ta=25℃；4000VDC/1mA/60S。b)测试设备：高压仪c)测试方法：把高压仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，然后跟据测试条件4000VDC/1mA/60S来给光耦测试耐压，具体操作请参照高压仪的操作说明书。d)测试结果判断：100%抽检品必须通过，否则NG。2.7、输入与输出端绝缘电阻测试：a)测试条件：环境温度Ta=25℃；500VDC/60S。b)测试设备：绝缘电阻仪c)测试方法：把绝缘电阻仪的两端引线分别夹

8、到光耦输入输出端，然后跟据测试条件50