光耦检验作业指引

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1、半导体光耦检验作业指引起草者：贺俊杰日期：2009年09月11日核对者：日期：2009年月日批准者：日期：2009年月日东莞市乐科电子有限公司文件名称文号管制印章半导体光耦类检验作业指引版本日期第7页共7页REVISERECORD文件修订记录REV版本ECO№更改通知REVISEDETALL修订简述DATE日期PREPART制定CHECK审核APPROVE批准A/0/首次发行09-9-11贺俊杰东莞市乐科电子有限公司文件名称文号管制印章半导体光耦类检验作业指引版本日期第7页共7页一、目的：规范半导体光耦检验过程和检验方法的一

2、致性和准确性。二、职责：1、技术员负责该标准的执行，并认真做好相关记录。所有的实验，在没有特殊规定的情况下，一律按本标准进行测试。2、零件承认工程师负责监督技术员的执行情况和相关报告的审核，并负责所属样件作业指引的制定。3、部门负责人负责本标准的审批。三、半导体光耦检测项目：1、外观检验项目：1.1、表面标识正确，清晰易辩、无模糊，内容符合文件要求。1.2、本体无裂痕、边角破损、刮花或凹陷等不良现象。1.3、引脚无氧化发黑、无断裂、锈蚀、批锋、压痕、变形、污渍等不良现象。1.4、尺寸参数与样品规格书规定的标准相符。2、性能检

3、验项目：2.1、输入端反向电压测试VR：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电流IR与部品规格书上的测试电流相同b)测试设备：半导体管特性图示仪XJ4810c)测试方法：把图示仪的正电极接光耦输入端负极（即二极管的负极）,负电极接光耦输入端正极（即二极管的正极），接上后，再调节Y轴电流按钮和X轴电压按钮到指定的电压电流；最后慢慢地把调制峰值电压按钮从0%往上调高，当LCD面板的坐标图显示被击穿图形时，其读数为光耦输入端的反向电压测试VR。d)测试结果判断：100%抽检品的击穿电压值一定在规格书的范围值内，否则NG

4、。2.2、输入端反向漏电流测试：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电压与部品规格书上的测试电压相同b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA）东莞市乐科电子有限公司文件名称文号管制印章半导体光耦类检验作业指引版本日期第7页共7页把测试设备和被光耦如图1线路连接起来，然后将可调直流电源输出电压VOUT调到指定的测试电压VR时，电流表所测的读数即为光耦的输入端反向漏电流测试IR值。d)测试结果判断：100%抽检品的漏电流IR值一定在规格书范围值内，否则NG。2.3、输出端反向电压测试VCE

5、：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电流IC与部品规格书上的测试电流相同。b)测试设备：半导体管特性图示仪XJ4810c)测试方法：把图示仪的正电极接光耦输出端三极管的C极,负电极接光耦输出端三极管的E极，接上后，再调节Y轴电流按钮和X轴电压按钮到指定的电压电流；最后慢慢地把调制峰值电压按钮从0%往上调高，当LCD面板的坐标图显示被击穿图形时，其读数为光耦输出端三极管的反向电压测试VCE。。d)测试结果判断：1、100%抽检品的击穿电压值一定在规格书的范围值内，否则NG；2、击穿电压VR值的CPK值大于1.0，

6、否则NG。2.4、输出端反向漏电流测试：a)测试条件：1、环境温度Ta=25℃；2、测试电压与部品规格书上的测试电压相同。东莞市乐科电子有限公司文件名称文号管制印章半导体光耦类检验作业指引版本日期第7页共7页b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA）把测试设备和被光耦如图2线路连接起来，然后将可调直流电源输出电压VOUT调到指定的测试电压VCE时，电流表所测的读数即为光耦的输出端反向漏电流测试ICE值。d)测试结果判断：100%抽检品的漏电流ICE值一定在规格书范围值内，否则NG。2.5、电流传输

7、比CTR测试：a)测试条件：环境温度Ta=25℃；b)测试设备：1、可调直流电源；2、电流表（最高精度为0.001uA）；3、限流电阻图3：光耦电流传输比测试方法东莞市乐科电子有限公司文件名称文号管制印章半导体光耦类检验作业指引版本日期第7页共7页把测试设备和被光耦如图3线路连接起来，然后将可调直流电源A2调到一定的输出电压，再把V1输出电压慢慢提升，当看到A1、A2表电流慢慢上升时，用公式：A2/1A就等于光耦的电流传输比值。d)测试结果判断：100%抽检品的电流传输比值一定在规格书范围值内，否则NG。2.6、输入与输出端

8、耐压测试：a)测试条件：环境温度Ta=25℃；4000VDC/1mA/60S。b)测试设备：高压仪c)测试方法：把高压仪的两端引线分别夹到光耦输入输出端，然后跟据测试条件4000VDC/1mA/60S来给光耦测试耐压，具体操作请参照高压仪的操作说明书。d)测试结果判断：100%抽检品必须通