晶片来料检验标准.docx

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1、晶片来料检验标准受控状态：内部参阅文件编号：版本：页数：生效日期：发文编号：文件版本修订章节修订说明编制部门批准审核工程编制研发工程部1/4一、目的制定检验规范。制定原物料入库正常程序，以确保我司产品品质。二、范围我司采购所有晶片。三、内容检验测试项目光电性检验外观检验数值标准检验抽样计划（片数定义：晶片片数）光电性检验（）抽样位置：分页片边缘，分叶片内部，均匀取样。（）抽样数量：每片。（）每片抽样数，每不良，则列一个缺点。（）每批次材料至少随机抽取张晶片检验光电性。（）光电性缺点均为主缺。主缺超过个为不合格。外观检验（）外观项目为必检项。（）标签规格下限值；标签规格上限值。（红外芯片测试

2、λ值，其它测λ值）（）、δ为测试系统差异值，具体参考各型号规定。测试条件：λ或λ、、、与μ，测试设备为积分球和角度测试机。芯片用规定物料封胶制作。银胶高度（）控制在芯片高度（）的～，最佳为芯片高度，适应于双电极芯片；银胶高度（）控制在芯片高度（）的～，最佳为芯片高度，适应于单电极芯片；绝缘胶高度（）控制在芯片高度（）的～，最佳为芯片高度，适应于双电极芯片。根据不同芯片评估采用银胶或绝缘胶制程缺点等级代字主要缺点代字：（）。次要缺点代字：（）。依抽样计划检验，非光电特性抽样数不良超过或光电特性不良超过一个，不合格。2/4每片筛选后的蓝、绿光产品每片不得出现芯片排列跳行或因品质不稳定而出现的二

3、次筛选的状况。芯片高温高湿实验箱芯片包装蓝膜尺寸最小为。东莞市科文实验设备有限公司专业生产：恒温恒湿实验箱，高低温实验箱，高温老化箱，冷热冲击实验箱，紫外线老化实验箱，高温老化房，高温高湿实验箱，步入式恒温恒湿实验室，恒温恒湿实验箱，高低温实验箱，高温老化箱，冷热冲击实验箱，紫外线老化实验箱，高温老化房，步入式恒温恒湿实验室，高温高湿实验箱等。精心为用户提供最优质的可靠性测试解决方案。订购热线：销售工程师陈建斌期待您的来电！3/44/4