X射线荧光光谱法测定陶瓷、色料和釉等物料中主量及次量元素-论文.pdf

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1、第4卷第3期中国无机分析化学Vo1．4，NO．32014年9月ChineseJournalofInorganicAnalyticalChemistry52～56doi：10．3969／J．issn．2095‘1035．2014．03．011X射线荧光光谱法测定陶瓷、色料和釉等物料中主量及次量元素王川李小莉。李国会。刘峰(1甘肃省有色金属地质勘察局中心实验室，兰州730046；2天津地质矿产研究所，天津300000；3中国地质科学院物化探研究所，河北廊坊065000；4武警黄金二支队，呼和浩特010010)摘要采用熔融片制样用X射线荧光光

2、谱法对陶瓷、色料和釉物料中Na，Mg，A1，Si，P，S，K，Ca，Ti，Mn，Fe，Ba，Zr，Zn，Hf15种元素进行了测定，用理论系数校正基体效应。方法简便、快速、分析结果的准确度完全能满足上述物料分析的要求。还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品，弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难。又对zr和Hf元素分析线进行了选择，用ZrL和HfL作为分析线，而不采用ZrK。，不仅使制备的熔片达到ZrL线的饱和厚度，使分析结果的准确度和重现性好，而且还消除了ZrK的谱线对HfL。分析线的干扰。关键词波长色散X射线荧光光谱；陶瓷

3、；色料；釉；熔融片中图分类号：0657．34；TH744．15文献标志码：A文章编号：2095—1035(2014)03—0052—05DeterminationofMajorandMinorElementsinCeramic，StainGlazeMaterialsbyX—RayFluorescenceSpectrometryWANGChuan，LIXiaoli。，LIGuohui。，LIUFeng(1．CenterLaboratory，GansuBureauofGeologyandExplorationforNonferrousMet

4、als，Gansu，Lanzhou730046，China；2．TianjinInstituteofGeologyandMinerals，Tianjin300000，China；3．InstituteofGeophysicalandGeochemicalExploration，ChineseAcademyofGeologicalSciences，Langfang，Hebei065000，China；4．ArmedPoliceGolden2Team，Hohhot，InnerMongolia010010，China)AbstractThec

5、ontentsoffifteenelementsinceramic，stain，andglazematerials，etc．，whichincludingNa，Mg，Al，Si，P，S，K，Ca，Ti，Mn，Fe，Ba，Zr，HfandZn，weredeterminedinceramic，stain，glaze，etc．，usingX—rayfluorescencespectrometryusingfusionsamplepreparation．Thematrixeffectwascorrectedbythetheoreticalcoe

6、fficienta．Themethodissimpleandrapid，anditprovidesbetterprecisionandaccuracywhenitwasappliedtOthedeterminetheelementsintheaforementionedmaterials．Asimulatedstandardsamplewaspreparedbythemixingcertainproportionofpurechemicalreagentwithstandardsamplestomakeupthelackofstanda

7、rdsorstandardsamplesofglazesandstains．Atthesametime，thedeterminationlinesZrK。andHfL，whichareforZrandHf，werereplacedbyZrLandHfI81，respectively．Undertheoptimizedconditions，notonlythethicknessofthefusedfilmreacheduptOthesaturationvalueofZrL，whichimprovedtheprecisionandaccur

8、acyofthedeterminationresults，butalsotheinterferenceofZrKonHfLBlwereeliminated．KeywordsX-rayfluorescence