X 射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量.pdf

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1、第44卷第6期当代化工Vo1.44.No.62015年6月ContemporaryChemicalIndustryJune.2015X射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量周成洪,蔡常新(广东省云浮市质量计量监督检测所,广东云浮527300)摘要:确定了用x射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中主量元素含量的最佳测定条件,该方法简单、条件易控制,SiO:、A1:0,、Ca0、MgO元素的相对标准偏差分别达到0.40%、0.78%、3.6%、5.9%。经大量实验证明,采用本方法测定,准确度较高,操作方便,结果令人满意。关键词:x射线荧光光谱法;硫铁矿选

2、矿尾砂;主量元素中图分类号:O657.34文献标识码:A文章编号:1671—0460(2015)06—1441—02Determination0fMai0rElementsContentsinResidueofProcessingPyrite0rebyX.rayFluorescenceSpectrometerMethodZHOUCheng—hong,CAIChang-xin(YunfuInstituteofQualityandMetrologySuperviseTestofGuangdongProvince,GuandongYunfu527300,Chi

3、na)Abstract:TheoptimumanalyticalconditionsfordeterminingmajorelementscontentsinresidueofprocessingpyriteorebyX—rayfluorescencespectrometrywereestablished.TheRSDwas0.40%,0.78%,3.6%and5.9%forsiliconoxide,aluminaoxide,calciumoxideandmagnesiumoxide,respectively.Thismethodischaracteri

4、zedbysimpleoperation,rapidanalysisspeed,andreliableandstableresults.Keywords:X-rayfluorescencespectrometrymethods;residueofprocessingpyriteore;majorelements硫铁矿选矿尾砂为浮选硫铁矿所残余的废弃仪进行测定,根据特征谱线强度计算待测元素的成物,由石英、碳酸盐等矿物组成,主要成分是SiOz、分含量。A1O,、CaO、MgO等,其资源量较大,堆放成本较1.2仪器与试剂高,需要进行综合利用。硫铁矿选矿尾砂中S

5、iOz、x射线荧光光谱仪。型号:帕纳科PW4400/40。A10,、CaO、MgO的测定目前无相应的检测方法,熔样机。型号:GHB—K1。本法用x射线荧光光谱法测定硫铁矿选矿尾砂中铂金坩埚(95%Pt+5%Auo规格:30mL。SiO:、A10,、CaO、MgO含量具有制样相对简单、混合熔剂:Li:B0(AR)与LiBO(AR),按分析速度快、确度较高、重复性较好、分析含量范比例2:1配比,在700℃灼烧2h。围宽、一次可测定多种组分等优点。x一射线荧光光氧化剂:硝酸铵(ARo谱法作为一种实时、在线分析,在工业生产、分析脱模剂:溴化锂溶液(25g/Lo研

6、究中的应用越来越广泛,已经成为国民经济中众1.3实验方法多领域的分析手段之一。1.3.1试样的制备将硫铁矿选矿尾砂试样磨细,粒度应小于741实验部分m,放置于(105±5)℃烘箱中烘干3~5h,取出后1.1原理放置干燥器中冷却至室温。采用熔融玻璃片法,用无水四硼酸锂和偏硼酸1.3.2分析方法锂的混合熔剂熔融样品,加硝酸铵作为氧化剂,用称取硫铁矿选矿尾砂试样(0.6000±0.0002g)溴化锂和碘化铵为助熔剂和脱模剂,在熔样机中熔与混合熔剂(6±0.001)g置于铂金坩埚内,加(0.3样,然后冷却,制成玻璃样片,用x射线荧光光谱收稿日期:2014-11—

7、11作者简介:周成洪(1969-),男,江西寻乌县人,高级工程师,1991年毕业于桂林冶金地质学院工业分析专业,研究方向:从事实验室管理及化工产品质量检验检测理论、方法的开发、设计、实践、应用、推广。E-mail:gdyfaaa@l63.com。化工2015年6月±0.O1)g硝酸按、0.5mL脱模剂,搅拌均匀,放人元素含量,要考虑硫铁矿选矿尾砂中低含量元素高频熔样机内,在650~700℃下氧化5rain,1050(CaO、MgO)的稳定性,适当延长测量时间对改c《=下熔融1O15rain,待形成32mm大小的玻璃样善方法的准确性有一定作用。片后,冷却,

8、则可成片。放入x一射线荧光光谱仪中2.2测定结果的准确度测量待测元素的x射线强度

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