利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析.pdf

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1、地质·勘察·测绘建材与装饰2015年1月利用荧光光谱法测定钨矿中主次元素探析曹克俊(安徽省地质矿产勘查局326地质队安徽安庆246003)摘要:钨矿在工业生产中起着重要作用,所以钨矿中主次元素的检测对于钨产业的发展至关重要。本文采用熔融玻璃片法,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素。所用的样本符合国家标准(1级),用α系数内标法和康普顿散射作内标校正基体效应所用校准。检测结果显示:主、次量组分方法的精密度(RSD,n=10),即0.37~6.80%。因此,X射线荧光光谱法测定钨矿石中主次元素的准确、快

2、捷和方便的方法,可以有效地减少对环境的污染。关键词:荧光光谱法;钨矿;主次元素中图分类号:P575.5文献标识码:A文章编号:1673-0038(2015)04-0114-03引言离玻璃片,并在背后张贴标签。采用X荧光光谱仪照射坩埚地钨的元素符号为W,原子序数为74,属于元素周期表中第六面,进行相应的光谱测定。周期(第二长周期)的VIB族,相对原子质量为183.85。钨是溶点1.3样本的选择最高、比重最大的金属,其硬度仅次于金刚石,具有良好的导电本文选择符合国家标准的GBW07240、GBW07241的钨矿,和传热

3、性能。钨矿作为重要的战略资源,属于国家保护性特殊资GBW07238、GBW07239钼矿、GBW07284钨铋矿、GBW07212磷源。虽然中国钨矿资源储量巨大,但是过度开采使得资源面临枯矿和GBW07311的水系沉淀物,将上述物质混合成人工样本,各个元素形成含量范围和含量梯度适中的样本[5~7]。在进行钨矿样竭。我国为了保护钨矿的优势地位,需要建立有效的元素分析方法,即X射线荧光光谱分析法[1~2]。该方法的使用可以更好地对钨本分析时,要满足WO3质量分数为0.015~20%,测定低含量钨矿资源进行评价,实现钨矿

4、的可持续发展。矿。X射线荧光光谱分析法广泛应用于地质学领域,但是对钨矿1.4光谱线重叠和校正主次元素的研究文献比较少。目前,铁矿、锌铁矿和锰铁矿可以融融方法可以有效地降低样本的粒度效应,矿物效应和团聚采用X射线荧光光谱分析法,并取得比较理想的效果。常规钨矿效应(静电导致),但是仍然需要一些基本的效应校正。对于质量样品中主次元素分析法为化学分析发展,该方法成本高、污染环分数低于W用TaL琢线作为内标,Cu、Zn采用康普顿散射线作境和步骤繁琐,所以不能进行大范围的主次元素检测。本文主要为内标,其采用琢系数进行基本体效应

5、。因此,本文用SuperQ软研究X射线荧光光谱分析法在钨矿中主次元素的分析。件进行校正,其数学公式为:1实验部分N1.1主次元素测量Ci=Di-撞LimZm+EiRi+(1+移琢ijZj)j=1本文采用顺序扫描式波长X荧光光谱仪(荷兰PANalytical式中:Ci为分析元素i的含量;Di为分析元素i的校准曲线公司生产),期参数为:PW4400,真空度小于10Pa,超尖锐(SST)截距;Lm为分析元素i的谱线受m干扰素的干扰校正系数;Zm陶瓷薄铍端窗(75滋m)X射线管,额定电压60kW,额度电流为干扰素m的含量(

6、计数率);Ei为分析元素i的校准曲线斜125mA。该X荧光光谱仪采用d=32mm的自动交换器,循环冷却率;Ri为分析元素的计数率;Zj为共存元素的含量;N为共存元水系统(LabTechKF700);中央处理器(DelloptipexGX270),定量素数目;琢为基体校因子;i代表分析元素、j代表共存元素、m代分析软件(SuperQ4.1D);输出设备为HP6500彩色打印机;X荧表干扰素[8~9]。光分析高频加热型自动熔样机(BBG-2型);分析天平的感量为1.5工作曲线的构建0.0001g[3~4];电热鼓风干燥

7、箱(101AB)。本文按照相应的方法和标准,构建含有40个检测标准的人1.2熔融片的制备工样本,并测量各种样本的纯净程度。最后,采用回归分析方法样品质量为0.20依0.0001g,通过200目筛研磨,进行2h的烘构建工作曲线。其中各个校对参数参见表1,钨矿中WO3工作曲干,烘干温度为105益烘干2h,Ta2O50.10依0.0002g,其中混合熔剂线如图1所示。为6.0g和NH4NO31.00g(作为氧化剂)。样本放置于铂金坩埚中,表1工作标准样本校正参数坩埚成分为95%Pt+5%Au。在坩埚中滴入5滴LiBr饱和

8、溶液,放元素(ELe)截距D(ks·S-1)斜率(E)标准差RMS(%)品质K(%)置于GGB-2型高频熔样机中。坩埚内成份在800益的条件下,进WO3-0.1520.1550.0980.054行5~6min预氧化,待氧化完成后,将稳定提高到1150益,以此防2讨论止铂金坩埚受损和玻璃片破裂。同时,不断旋转熔融坩埚,旋转2.1检出结果时间为6min,保证各测

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