纬创产品FQC检验规范14.pdf

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1、矽谷電子科技(東莞)有限公司OCUMENTNUMBESILICONVALLEYELECTRONICSTECHNOLOGY(DONGGUAN)CO.,SV-QA-W-0164LTD一.目的:明確緯創產品FQC檢查內容,使產品質量符合規格要求.二.适用範圍:適用於緯創產品.三.參考文件:緯創產品檢驗規範等四.表格与記錄:《最終檢驗報告》五.測量儀器及工具代號:S:樣辦V:目視R游標卡尺T:測具M:QC卡片六.FQC抽樣標準:MIL-STD-105MIL-STD-105ENormalInspectionLevelⅡAQL:重缺Criticaldefect=0.25

2、%主缺Majordefect=0.40%次缺Minordefect=0.65%尺寸：每批抽檢5PCS依工程尺寸圖進行檢查，有1PCS與尺寸規格不符【Reject】.七.檢驗條件:1.檢驗必須在20W日光燈下且無反射的視角內進行.2.光照度:600~800Lux3.檢驗距離:60±2.5CM4.檢驗環境:濕度25±3℃,濕度:57±10%RH八.檢驗內容:8.1外觀部分TITLE:緯創產品FQC檢驗規範SHEET1OF6核准:審查:制訂:REV1.4矽谷電子科技(東莞)有限公司DOCUMENTNUMBERSILICONVALLEYELECTRONICSTECH

3、NOLOGY(DONGGUAN)SV-QA-W-0164CO.,LTD檢查項目判定基準測試工具缺陷等級依工程規格(Byengineeringdiagram),5PCS/批1.尺寸(Dimension)，且依工程圖面上標識的主要檢測尺寸進行檢V/R重缺Critical測。依客戶IQC檢驗標準(常溫下,抽檢期限不可超過2.生產周期(D/C)V重缺Critical12個月)(1)龜裂ProgressiveCrack不允許【Reject】V主缺Major(2)一般GeneralCracka≦5mmb≦1/3kc≦t(3)角破CornerCracka≦2.5mmb≦2

4、.5mm2.玻璃破損(Crack)c≦t(a+b≦4mm、不可觸及框膠及ITO)V/R次缺Minor(4)玻璃間隙破損SealPortionCracka≦1/3sealwidthb≦2/3tc≦5mm(5)導電層破裂ITOPinCracka≦5mmb≦1/4pinlengthc≦tψ≦0.15mm不計【Ignore】3.偏光片及玻璃：黑/白0.15mm＜ψ≦0.20mm3EA斑、氣泡、平凹、點缺陷0.20mm<ψ不允許【Reject】V/M次缺Major(DirtySpots、Bubbles、1:ψ=(X+Y)/2Dots)2:IgnoreifoutofVi

5、ewingArea氣泡ψ≦0.5mm1EA4.偏光片不良V次缺Minor折痕、刺傷、凸出玻璃【Reject】TITLE:緯創產品FQC檢驗規範SHEET2OF6核准:審查:制訂:REV1.4矽谷電子科技(東莞)有限公司DOCUMENTNUMBERSILICONVALLEYELECTRONICSTECHNOLOGY(DONGGUAN)SV-QA-W-0164CO.,LTD8.1外觀部分檢查項目檢查要求測試工具缺陷等級1.W<=0.02mmL≦0.50mm不計【Ignore】V/M主缺Major2.0.05

6、線狀不良、刮傷(Fiber、Scratches)3:0.02

7、、異物【Reject】10.LCD的PAD面上(1)高度超出上偏光片【Reject】V次缺MinorSILICON膠(2)露出ITO【Reject】(3)Sillicon膠需打滿整個PAD面且要光滑平整11.黑色膠帶漏貼,貼歪【Reject】V次缺MinorCOF與FPC錫壓處正反面膠帶TITLE:緯創產品FQC檢驗規範SHEET3OF6核准:審查:制訂:REV1.4矽谷電子科技(東莞)有限公司DOCUMENTNUMBERSILICONVALLEYELECTRONICSTECHNOLOGY(DONGGUANSV-QA-W-0164)CO.,LTD8.1外觀部

8、分檢查項目檢查要求測試工具缺陷等級11.白色透明膠帶