多应力加速模型及加速系数研究

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圈圜脚IAcademic·Papers多应力加速模型及加速系数研究StudyofAcceleratedModelandAcceleratedFactorUnderMultiple-stress康劲松景诗毅张烨徐国卿(同济大学电气工程系,上海201804)摘要:介绍了可靠性及加速寿命试验的重要性,概述了国内外可靠性加速寿命试验(ALT)及加速模型的研究情况。鉴于电子产品最常见的两种应力分别是温度和电应力,对应的加速模型分别是阿伦尼斯和逆幂率模型,文章在分析驱动电机系统中直流母线电容单一加速模型及加速系数的基础上,推导出直流母线电容在温度一电应力同时作用下的加速模型和加速系数。关键词:加速寿命试验加速模型加速系数多应力doi:10.3969/i.issn.1007—080X.2009.08.002Abstract:nlispaperintroducestheimportanceofthereliabilityandacceleratedlifetesting(ALT),andsummarizestIleresearchesOnALTandacceleratedmodels.Forelectronicproducts.thetemperatureandelectric—stressareeommo~ybeusedinALT.TheirmodelsareArrheniusmode1andinversepowermode1.ItpresentstheacceleratedmodelandacceleratedfactorforDCbuscapacitanceindrivemotorsystemundermultiple—stressmodels(temperatureandelectrie-stress)basedonanalyzing£hesinglestressmodels.Keywords:acceleratedlifetesting(ALT)acceleratedmodelacceleratedfactor(AF)multipie—stress0引言验应力来缩短了试验周期.采用加速应力水平来进行产品的寿随着社会进步.产品可靠性问题得到消费者和厂家越来越命试验,从而缩短试验时间.提高试验效率,降低了试验成本。多的关注。为了获得在正常使用条件下产品的可靠性信息需加速寿命试验属于统计试验范畴.试验中对产品所加的应力.要确定产品寿命与外界应力之间的数学关系即加速模型.需要可以是电压、电流、功率、温度、湿度和机械应力等。通过加速寿命试验(ALT)过程中获得的观测值来外推断正常1加速模型及加速系数I3-~t条件下的产品可靠性.因此加速寿命试验的关键就是研究加速加速寿命试验中。加速系数是一个关键参数。有一个基本模型。作为估计产品可靠性寿命的重要因子.加速系数(AF)是假定:在正常应力水平和加速应力水平下,产品的失效机理不加速寿命试验研究中的一个重点变,这项假定已被大量的加速寿命试验所证实。加速寿命试验根据文献『1,21,加速寿命试验的统一定义最早由美罗姆航的许多研究都是基于此假定展中心于1967年提出该试验在进行了合理工程及统计假设根据可靠性理论。提出加速系数(AF)的定义。后。在超出正常应力水平的加速环境下获得一些可靠性信息.定义:S为施于产品加速应力.正常应力水平记为,加速利用与物理失效规律相关的统计模型对获得的信息进行转换.应力水平So<.s。<⋯系统将学生的操作信息提交给服务器端.由服务器端作出响数据库中。教师作为管理员登录后可以批改学生的实验结果,</bean>并负责维护相应的实验元件。其实验操作界面见图2。。3-3客户端与服务器端的通信虚拟实验平台客户端与远程服务器端的通信采用了BlazeDS技术。BlazeDS是Adobe公司发布的Java端Remoting程序.是一个基于服务器的Java远程控制(remoting)和Web消息传递(messaging)~d(z.它能够使得后端的Java应用程序和运行在浏览器上的Flex应用程序相互通信。为了实现该通信,只需在创建Flex应用程序时加载相应的包(blazeds.war)并对图2气动实验的操作界面相应文件进行配置。其关键配置如下:5结束语a.为了在Flex中集成Spring.在service—eonfig.xml中配置良好的虚拟实验平台可以启发学生的兴趣.提供更接近真实实验的环境.模拟真实实验,让学生在虚拟的环境下更好地相应的factory:了解真实实验.掌握牢固的实验知识技能:虚拟实验借助了计成部分.成为推动学生动手实践的原动力.成为解决我国实验</factories>。资源紧缺和远程教育实验难等问题的重要途径。b.为了在客户端调用远程JavaBean.在remoting—eonfig.xml中配置相应的destination:参考文献[1]施加根.虚拟实验的现状分析与应对策略[J].电脑知识与技术,2007(8):1349—1351.spring</factory>[2]邱彦林.Flex第一步[M].北京:清华大学出版社,2007.userService</source>[3]尹金发.基于Flex和J2EE技术的RIA系统的设计与实现[D].成</properties>都:西南交通大学.2005.</destination>[4]夏志翔.对FlexCairngorm框架的探究和改进[D].杭州:浙江大学.2008.4示例演示(上接第34页)[7]李晓阳,姜同敏.加速寿命试验中多应力加速模型综述[J].系统[2]CHANHA,PAULJE.Acceleratedstresstestinghand-book,guide工程与电子技术,2007,29(5):828—831.ofachievingqualityproducts[i].IEEEPress,2001.『81LANTII~RIP,GUI~RINF,DUMONB.Acceleratedtestwithunk—[3]杨宇航,周源泉.加速寿命试验的理论基础(I)[J].推进技术,nownaccelerationmodelfC].RAMS,2005.2ool。22(4):276—278,318.[9]JAYATILI正KASARATH,OKOGBAA0GEOFFREY.Accelerated[4]茆诗松.加速寿命试验的加速模型[J].质量与可靠性,2003(2):lifetestingforspeedierproductdevelopment:Problemsand15一l7.strategies[C].Proceedings-AnnualReliabilityandMaintainability[5]林震,姜同敏,程永生,等.阿伦尼斯模型研究[J].电子产品可Symposium,2006.靠性与环境试验.2005,12(5):12—14.[1O]ZHAOWENBIAO,ELSAYEDELSAYEDA.Generalmodelfor[6]杨宇航,周源泉.加速寿命试验的理论基础(1I)[J].推进技术,variable—stressacceleratedlifetesting[C].IIEAnnualConference2oo1.22(5):353—356.andExhibition,2004.20098l机电一体化37

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