cpld测试方法研究new

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1、2010年1月电子测试Jan.2010第1期ELECTRONICTESTNo.1CPLD测试方法研究于明（集成电路测试技术研究中心BJAST北京自动测试技术研究所）摘要：CPLD是集成电路中最常用的器件之一，CPLD的工艺不断改进，使得它的集成度和工作速度也在不断增加。因此，对于CPLD的测试变得越来越重要。本文在详细研究CPLD内部结构的基础上，基于“分治法”的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究，并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试。关键词：CPLD；测试模式；分治法中图分类号：TN407文献标识码：BStu

2、dyofCPLDtestingYuMing(CenterofICTestTechnology,BJAST,BeijingIntstituteofAuto-TestingTechnology,Beijing,100088)Abstract:Amongalltheelements，CPLD（ComplexProgrammableLogicDevice）isoneofthewidestusedchips．ThetechnicsoftheCPLDSissoimprovedthatitsintegrationdegreeandtheworkin

3、gspeedisgraduallyenhanced.Asaresult,theresearchofCPLDtestingbecomesmoreandmoreimportant.BasedonadetailedanalysisofthearchitechtureofCPLDs,thisdissertationgivesoutatechnologytotestCPLDsandatestingplatformforthetestingofactualCPLDdevices.Keywords:CPLD；testingplatform；deta

4、iledanalysis0引言路对CPLD的测试理论和方法做探索性研究。本文的研究基于集成电路测试系统BC3192V50CPLD（ComplexProgrammableLogicDevice）环境下进行。在该系统所提供的资源范围内进行的是一种可编程器件，它的出现使得新产品的开发周CPLD测试开发和测试方法研究工作。BC3192V50期大大缩短，开发成本得到节省。随着CPLD被测试系统是由北京自动测试技术研究所研制开发的，广泛应用到各个领域，对其准确性和可靠性的要基于当前国际先进VXI总线的数模混合集成电路测求也变得越来越高。所以，对C

5、PLD器件故障的试系统。适于大容量、多管脚的可编程芯片测试。检测和诊断方法技术的研究就显得尤为重要。本本文主要目的是通过基于BC3192V50测试系文正是针对上述问题，以AltraMAX7000系列统，对CPLD器件的测试方法测试模型进行研究。EMP7064SLC84-10为主要的研究对象，在详细研在同一个操作流程中完成对CPLD芯片的多次“配究器件内部结构的基础上，基于“分治”的基本思置一测试”过程，减少操作环节，提高CPLD芯片38集成电路测试技术2010.1的测试效率。其核心问题是建立什么样的测试模型全局总线相连接。以达到故障的

6、高覆盖率，以及针对模型施加什么样MAX7000系列，布线资源简单，且在测试其的激励可以使故障激活，并且便于在输出端观察结他资源中重复用到，本文以宏单元，触发器，I/O果。测试模型最少化，测试向量高效化是主要目标。资源测试为主要研究对象。最终提出分块测试模型，并给出相应优化测试向量，以在测试系统上实施测试。2有关PLA的研究1AltraMAX7000系列CPLD的主要PLA结构（见图2）类似于CPLD宏单元中与特点或阵列,有关CPLD的研究多集中在早期对于PLA的研究上。通过增加外围电路，建立可测性结构，MAX7000系列体系架构(见图

7、1）包括如下的并施加相应的测试向量来进行PLA的故障检测。组成部分：逻辑阵列块(Logicarrayblocks)，宏单元（Macrocells），扩展乘积项(Expanderproductterms)，可编程互联阵列(Programmableinterconnectarray)，I／0控制块(I/Ocontrolblocks)。图2PLA结构虽然这样的设计理论是可行的，但对实际CPLD器件，其操作和控制很困难。实际器件的与或阵列是混合在宏单元中的重要组成部分，技术上还不可能去控制阵列中的一个节点。要进而图1MAX7000系列的体系架

8、构对某一个节点加载外围电路做到对节点的控制和MAX7000构架当中包含有4个专用的输入管检测，在硬件或是软件上都是很难实现的。其次，脚，可以用来作为普通的输入管脚，或者作为每这些可测性的讨论大都需要引入外围电路作为可一个