dmaic方法在高精细化彩色滤光片质量改进中的应用

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1、DMAIC方法在高精细化彩色滤光片质量改进中的应用摘要:六西格玛管理中的DMAIC方法是实现质量改进的有效方法,本文通过对S企业在高清彩色滤光片的精细化间隔柱(PS)制作过程中实施六西格玛DMAIC改进方法,来提高关键质量特性PS的质量水平,获得了客户满意,从而为企业带来了经济效益并提高了市场竞争力。关键词:高精细化;彩色滤光片;间隔柱;DMAIC方法中图分类号:C931文献标识码:A文章编号:1673-1069(2016)18-47-21概述六西格玛(6o)概念作为品质管理概念,最早是由摩托罗拉公司的比尔?史密斯于

2、1986年提出,其目的是设计一个目标:在生产过程中降低产品及流程的缺陷次数,防止产品变异,提升品质。实施6Sigma管理可以解决困扰公司的重要而复杂的难题,降低不良质量成本,建立持续改进和创新的企业文化,消除沟通壁垒,全面提升公司的核心竞争力。六西格玛管理思想包括六西格玛改进和六西格玛设计,前者是实施六西格玛项目的最主要方法。它通过界定(D)六西格玛项目以及对现行系统的测量(M)和统计分析(A),进而采取有效的改进(I)措施和控制(C)手段,以保证所改进的项目达到六西格玛的绩效水平[1]。故本文将六西格玛DMAIC方

3、法应用于高精细化彩色滤光片的间隔柱PS的质量改进中,验证了DMAIC方法在质量改进中的高效性。2高清彩色滤光片精细化过程的质量改进S公司是液晶显示行业彩色滤光片生产厂家,产品覆盖智能手机、平板电脑、笔记本电脑、车载显示和专业工控显示等领域。目前从技术发展的角度来看,高精细化的潮流势不可挡,并成为本领域技术发展的主要挑战。随着智能手机和平板电脑的爆发性发展,对显示面板的清晰度要求也越来越趋向于极致,从iphone开始采用视网膜级(326PPI)分辨率屏,到最新的iPhone6采用400PPI分辨率屏,甚至有部分品牌的手

4、机已经用到了500PPI分辨率屏,各液晶面板厂家正为此展开激烈的技术竞争。S公司为了满足高清液晶面板的技术需求,也在积极开展技术研发和工艺改进,开发和生产高清彩色滤光片以符合用户的技术要求。2.1定义在精细化的过程中,间隔柱PS的高度均一性的提升是公司面临的最大的技术挑战。高清彩色滤光片对PS高度的均一性的要求很高,而且影响均一性的因素也很复杂,如何解决这一复杂的系统课题,是公司急需突破的一项重大技术难题。因此,S公司决定成立六西格玛项目组采用DMAIC流程来改进现有的过程质量。由于精细化的要求,客户提高了PS高度的

5、规格,由原来的±0.15um收紧至±0.10Pm,规格的收紧,导致目前的PS制程的过程能力无法满足客户需求,不良率较高。所以只有改进PS高度的均一性,提升过程能力指数大于1.33,才能满足客户需求。该项目的SIPOC图如图1所示[1]。2.2测量关键质量特性PS高度的测量采用测高机,为了保证测试数据的可靠性,我们对PS高度测量系统进行了精准性分析。分析结果%61<1<为8.461%,<10%;ndc=17,^5;测量系统的偏倚及线性、稳定性、重复性及再现性均满足测量要求。然后对新旧规格下的PS高度的过程能力进行评价,

6、旧规格下(±0.15m)PS高度的过程能力指数可达到1.36,满足客户需求,但是在新规格下,PS高度的过程能力指数Cpk只有0.9,如图2所示,过程能力明显不足。2.3分析与改进通过过程能力分析可知,测量阶段PS高度的过程能力不足,因此,PS的制作过程亟待改进提高。组织团队人员进行头脑风暴,按照人、机器、材料、方法、环境、测量六个环节分析,得到了PS高度的因果图(鱼骨图),如图3所示[2]。从因果图可见,影响PS高度特性的因素又多又复杂,所以还需要借助因果矩阵分析,来筛选关键的影响因子。矩阵图的上方填入关键过程输出变

7、量,并确定其重要度,即给定权重数。PS高度的相关特性分为PS高度的均值及PS高度的Range。矩阵图的左侧列出所有可能的影响因素,再评价每一影响因素与输出特性间的相关程度,将这些相关程度分为四个等级,分别赋予0、1、3、9的分值。如表1所示,根据重要度累计分值可知,影响PS高度过程能力的主要因素为:涂布机吐出量、Oven温度和Oven时间。通过数据分析及实验验证,确认此三个因子都是关键要因。逐一分析关键要因,找到最优水平[2]。2.4控制通过多因子(涂布机吐出量、Oven温度、Oven时间)的实验设计,确定了PS制程

8、的最优生产条件。为了保证改进的成果得以保持,团队将关键影响因子的改进措施纳入技术标准文件,明确了新的流程,并用X-R控制图实施监控。3改进成果及展望通过对间隔柱PS制作过程实施六西格玛改进DMAIC方法,S公司的PS高度的过程程能力得到大大的提高。经过一段时间的跟踪,我们发现:PS高度的过程能力由先前的Cpk为0.9提高到Cpk为1.5,过程不

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