材料现代测试技术模拟试题ⅰ

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1、材料现代测试技术模拟试题Ⅰ1、Al为面心立方结构，a＝0.4049nm,求出（112）面和（110）面的面间距。（10分）1212122、CsCl为立方系晶体，单位晶胞中含有两个原子，坐标为Cs在[[000]]，Cl在［［］］，求其结构因数。（10分）3、Co的UK＝7.7kV,为获得特征X射线的最佳实验条件，应选用怎样的U管为好？并计算此时发射的连续X射线的λ0和λmax。（10分）4、用Cu靶Ka特征X射线（λ＝0.154nm）照射体心立方结构（a＝0.2866nm）的多晶体，①求出前四个衍射环的指数和掠射角；②如胶片距样品30

2、mm，求出各衍射环的半径。（20分）5、简述对单相物质进行物相分析的步骤。（10分）6、某面心立方结构物资的电子衍射花样如图示，已标出部分指数，试标出其余指数，并求出晶带轴指数r和晶格常数a。（15分）已知：R1=6.5mmR2=16.4mmLλ=3.98mm.nmφ=82.3°7、固体物质与高能电子相互作用会产生何种物理信号？各用于何种电子光学仪器？（15分）8、绘出体心立方晶体［012］晶带的标准衍射图。（10分）材料现代测试技术模拟试题Ⅰ参考答案1、解：由得：2、解：由Cl在［［000］］，Cs在［［1/21/21/2］］和得

3、：当H+K+L=偶数时F=fCs+fCl衍射加强当H+K+L=奇数时F=fCs-fCl衍射减弱3、解：由U管=（4～5）UK、λ0=1240/U管、λmax=1.5λ0得：U管=4×7.7=30.8kVλ0=1240/30800=0.04nmλmax=1.5×0.04=0.06nm　4、解：因是体心立方，故前四个衍射环指数为110、200、211、220。由可得掠射角为：θ110=22.3，同理θ200=32.5、θ211=41.2、θ220=49.5，各衍射环的半径为：R110=29.6mm、R200=64.3mm、R211=22

4、4.8mm、R220=189.4mm5、解：1.测衍射花样，求d值，强度分五级(最强、强、中、弱、最弱)；2.按d值递减为序，列出全部被测物花样的d值；3.将数据改排，在2θ＜90°内三强线先排，其余按强度递减跟上；4.查数字索引，按d1找可能卡片的小组，按d2找可能的卡片号；5.将可能相的卡片与被测花样数据仔细对照，最吻合者即为被测物。6、解：指数如图所示。晶带轴为晶胞常数为7、解：1、二次电子(SE)，对试样表面状态敏感，用于扫描电镜的形貌像。2.背射电子(BE)，被试样反弹回来的入射电子，可定性分析元素分布；用于扫描电镜。3.

5、吸收电子(AE)，入射电子经多次非弹性散射后，能量消耗殆尽而形成，用于扫描电镜、电子探针等的辅助成像。4.透射电子(TE)，穿透试样的电子。用于透射电镜成像和衍射。5.俄歇电子(Auger)，具有特征能量，能量极低，最适于表面分析和轻元素分析。用于俄歇电子能谱仪。6.特征X射线，具有特征能量，用于波谱仪或能谱仪进行成分分析。用于扫描电镜、X射线显微分析仪（电子探针）等。8、解：由hu+kv+lw=0，可得k+2l=0，可确定R1为200，并设其与R2相垂直，则可有方程：解出R2为。做图如下：000200