现代材料测试技术试题(开卷).doc

《现代材料测试技术试题(开卷).doc》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在工程资料-天天文库。

1、材料现代测试技术模拟试题I1、A1为面心立方结构，a=0.4049nm,求出（112）面和（110）面的面间距。（10分）2、CsCl为立方系晶体，单位晶胞中含有两个原子，坐标为Cs在［［000］］,C1在［［丄丄丄］］,求其结构因数。（10分）2223、Co的UK=7.7kV,为获得特征X射线的最佳实验条件，应选用怎样的U管为好？并计算此时发射的连续X射线的入0和入I118X。（10分）4、用Cu靶K特征X射线（入=0.154nm）照射体心立方结构（a=0.2866nm）的多晶体，①求出前四个衍射环的指数和掠射角；②如胶

2、片距样品30mm,求出各衍射环的半径。（20分）5、简述对单相物质进行物相分析的步骤。（10分）6、某面心立方结构物资的电子彳汀射花样如图示，已标出部分指数，试标出其余指数，并出晶带轴指数r和晶格常数ao（15分）已知：Ri=6.5mmR2=16.4mmL入=3.98mm.nm（1）=82.3°7、固体物质与高能电子相互作用会产生何种物理信号？各用于何种电子光学仪器？（15分）8、绘出体心巫方晶体［012］晶带的标准衍射图。（10分）材料现代测试技术模拟试题I参考答案解：由〃=。/丽+疋+厂得：£2=0.4049/+『+2

3、?=0.165卩"rf110=0.4049/W+r+02=o.286nw2.解：由Cl在[[000]],Cs在[[1/21/21/2]]和F=ZAexp^^Hx,+阿+LZj)]J=1得：F=fCsexp[/2^(0)]+faexp[/>r(H+K+L)]当H+K+L=偶数时F=fCs+fCi衍射加强当H+K+L=奇数时F=fCs-fCi衍射减弱3.解：由U肓<4~5)山、入产1240/U管、入max=l.5入。得：U管=4x7.7=30.8kV入o=1240/30800=0.04nm入max=1.5x0.04=0.06n

4、m4.解：因是体心立方，故前四个衍射环指数为110、200、211、220。由sin0=2V/P^TPTZ7/2a可得掠射角为：sjnOxI0=0.154^12+12+02/2x0.2866=0.3796no=22.3,同理0200=32.5、02I1=41.2、6220=49.5,各衍射环的半径为：Rno=29.6mm、R20o=64.3mm、R211=224.8mm.R22o=l89.4mm5.解：1.测衍射花样，求d值，强度分五级(最强、强、中、弱、最弱)；2.按d值递减为序，列出全部被测物花样的d值；3•将数据改排

5、，在26<90°内三强线先排，其余按强度递减跟上；4•查数字索引，按dl找可能卡片的小组，按d2找可能的卡片号；5•将可能相的卡片与被测花样数据仔细对照，最吻合者即为被测物。6.解：指数如图所示。带轴为r=(111)x(242)=[123]胞常数为420--•331*2>242111/••Q5ina=dylh2+k2+l2JnT=3.98/6.5=0.61a=0.61xA/3=l.Q5nm242•■331*4207、解：1、二次电子(SE),对试样表面状态敏感，用于扫描电镜的形貌像。2.背射电子（BE）,被试样反弹回来的入

6、射电子，可定性分析元素分布；用于扫描电镜。3.吸收电子（AE）,入射电子经多次非弹性散射后，能量消耗殆尽而形成，用于扫描电镜、电子探针等的辅助成像。4.透射电子（TE）,穿透试样的电子。用于透射电镜成像和衍射。5.俄歇电子（Auger）,具有特征能量，能量极低，最适于表面分析和轻元素分析。用于俄歇电子能谱仪。6.特征X射线，具有特征能量，用于波谱仪或能谱仪进行成分分析。用于扫描电镜、X射线显微分析仪（电子探针）等。8、解：由hu+kv+lw=O,可得k+21=0,可确定Ri为200,并设其与R?相垂直,则可有方程:k2+2

7、l2=02h2=0解出R?为0420做图如下:121