材料现代测试技术模拟试题Ⅳ.doc

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1、材料现代测试技术模拟试题Ⅳ一、选择题:(10分)1、对样品进行表面形貌分析时应使用()。A.X射线衍射(XRD)B.透射电镜(TEM)C.扫描电镜(SEM)2、X射线连续谱中存在一个短波极限,其波长入=(  )。A.1.24/V(千伏)nmB.12.4/V(千伏)nm C.12.4/V伏nm3、电子枪中给电子加速的称为()。  A.阳极 B.阴极 C.栅极4、倒易点阵中的某二维平面代表的是正点阵中的(   )。A.一个晶带  B.一个晶面  C.一组晶面。5、在入射电子束作用下被轰击出来并离开样品表面的样品的核外电子叫做(    )。   A.二次电子 B.背散射电

2、子 C.俄歇电子二、填空题:(20分)1、特征X射线是由元素原子中()引起的,因此各元素都有特定的()和()电压,特征谱与原子序数之间服从()定律。2、布拉格公式λ=2dsinθ中λ表示(),d表示(),θ表示()。3、利用衍射卡片鉴定物相的主要依据是(),参考()。4、TEM中物镜的作用是(),中间镜在成像时的作用是(),在衍射时的作用是()。5、等厚条纹是衍射强度随试样()的变化而发生周期性变化引起的,图像特征为()的条纹。6、真正能够保持其特征能量而逸出表面的俄歇电子仅限于表层以下()nm的深度范围。7、电子探针显微分析的基本分析方法有()、()和()。8、当

3、X射线照射在一个晶体时,产生衍射的必要条件是(),而产生衍射的充要条件是()。三、判断题:(A.是B.否)(10分)1、当X射线管电压低于临界电压时仅可以产生连续X射线;当X射线管电压超过临界电压就可以产生特征X射线和连续X射线。()2、布拉格方程的物理意义是指原子面对X射线的反射并不是任意的,只有当λ、θ和d三者之间满足此方程时才能发生反射。()3、面心点阵的系统消光规律是H+k+L为偶数时出现反射,而H+K+L为奇数不出现反射。()4、电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。()5、扫描电镜的表面形貌衬度是采用背散射电子形成的电子像。()四、计算题:(2

4、0分)1、求出立方晶系中[321]晶向与[401]晶向的夹角。2、铜的晶格常数为0.3608nm,计算(311)面的面间距。五、问答题:(40分)1、具有fcc结构晶体的(100)、(110)、(111)、(200)、(210)、(311)对应的倒易点在衍射时都有可能落在反射球面上,请问,哪些面将出现反射?为什么?2、α-Fe属立方晶系,点阵参数a=0.2866nm。如用CrKαX射线(λ=0.2291nm)照射,试求前三个衍射线的指数及衍射的掠射角。3、何谓板织构?织构的表示方法有哪些?4、简述衍衬成像原理。材料现代测试技术模拟试题Ⅳ参考答案一、选择题:1、C  

5、;2、A;3、A  ;4、 A  ;5、A  ;二、填空题:1、电子跃迁,结合能,激发,莫赛莱;2、入射线波长,衍射(干涉)面的面间距,掠射角;3、d值,强度;4、形成第一幅高分辨电子放大像或电子衍射花样,将物镜的电子像再放大,将物镜的衍射花样投倒像面上;5、厚度,明暗相间;6、1;7、点分析,线分析,面分析;8、满足布拉格方程;同时满足结构因数不等于零;三、判断题:1、A;2、A;3、B;4、B;5、B;四、计算题:1、带入立方系夹角公式得cosθ=0.842故其夹角为θ=32.5°2、五、问答题:1、(111)、(200)、(311)将出现反射,因为对于fcc结

6、构的面指数需为全奇或全偶才出现反射。2、α-Fe为体心立方晶格,故前三个衍射线的指数平方和为2、4、6,其指数为110、200和211,而110的掠射角为34.4°、200掠射角为52.9°及211的掠射角为77.8°。3、材料中晶粒的某一晶面倾向于与材料的特征外观平面相平行,同时某一晶向倾向于平行该材料的特征外观方向,即为板织构。表示方法有取向分布图、极图和反极图三种。4、设薄膜有A、B两晶粒,B内的某(hkl)晶面严格满足Bragg条件,或B晶粒内满足“双光束条件”,则通过(hkl)衍射使入射强度I0分解为Ihkl和IO-Ihkl两部分。A晶粒内所有晶面与Bra

7、gg角相差较大,不能产生衍射。在物镜后焦面上的物镜光阑,将衍射束挡掉,只让透射束通过光阑孔进行成像(明场),此时,像平面上A和B晶粒的强度不同,分别为IA»I0,IB»I0-Ihkl。则形成衬度,B晶粒呈暗像,A晶粒呈亮像。

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