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时间:2020-12-16
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1、第三章化学成分分析环境与资源学院孙红娟2021/8/292021/8/29本章主要内容1.X射线荧光谱分析(XRF)2.电子探针(EPMA)3.原子吸收光谱分析(AAS)4.等离子发射光谱(ICP)2021/8/29引言化学成分分析的方法主要有化学分析、物理分析。化学分析特点:历史悠久,分析精度高,一个独立学科。缺点:样品需破坏,分析时间较长,不能进行微区分析。物理分析方法,包括光谱类分析(X射线荧光光谱、等离子发射发光谱、原子吸收光谱、原子荧光光谱法等)及电子探针分析。特点:1)非破坏的方法;2)绝大多数物理分析方法的分析区域很小;3)物理分析方法多为表面分析
2、方法;4)分析速度快;5)灵敏度高,可测出痕量元素。2021/8/29X射线荧光光谱分析(XRF)1.X-射线荧光的产生及分析原理2.X-射线荧光光谱仪的类型3.X射线荧光光谱分析方法的应用4.X射线荧光光谱仪制样方法5.X射线荧光光谱法的特点2021/8/291.X-射线荧光的产生及分析原理(1)X射线荧光的产生原子中的内层(如K层)电子被X射线辐射电离后在K层产生一个空位。外层(L层)电子填充K层孔穴时,会释放出一定的能量,当该能量以X射线辐射释放出来时就可以发射特征X射线荧光。2021/8/29碰撞内层电子跃迁↑空位外层电子跃迁↓X射线荧光2021/8/2
3、9荧光产额俄歇效应与X射线荧光发射是两种相互竞争的过程。对于原子序数小于11的元素,俄歇电子的几率高。但随着原子序数的增加,发射X射线荧光的几率逐渐增加。重元素主要以发射X射线荧光为主。2021/8/29荧光产额各谱线的荧光产额K、L、M、N系列的顺序递减。因此原子序数小于55的元素通常用K系谱线作分析线,原子序数大于55的元素,考虑到激发条件,连续X射线和分辨率等因素,一般选用L系作分析线。2021/8/29(2)荧光分析原理每一种元素都有其特定波长(或能量)的特征X射线。通过测定试样中特征X射线的波长(或能量),便可确定试样中存在何种元素,即为X射线荧光光谱
4、定性分析。元素特征X射线的强度与该元素在试样中的原子数量(即含量)成比例。因此,通过测量试样中某元素特征X射线的强度,采用适当的方法进行校准与校正,便可求出该元素在试样中的百分含量,即为X射线荧光光谱定量分析。2021/8/29(3)Moseley定律元素的荧光X射线的波长()随元素的原子序数(Z)增加,有规律地向短波方向移动。K,S常数,随谱系(L,K,M,N)而定XRF定性分析的基础:只要获得了X射线荧光光谱线的波长就可以获得元素的种类信息。2021/8/292.X-射线荧光光谱仪的类型波长色散型(WDXRF):指使用晶体分光的波长色散型光谱仪,效率较低,
5、一般采用大功率光管激发。用于高精度高灵敏度定量分析。能量色散型(EDXRF):以带有半导体探测器和多道脉冲高度分析器为特征的X射线荧光光谱仪,探测效率高,一般采用放射源或小功率光管激发(几瓦到几十瓦)。用于执行快速定性分析和低水平定量分析。2021/8/292.1波长色散型X射线荧光光谱仪由X光管、滤波片、样品杯、分光晶体、探测器、多道分析器计数电路和计算机组成。2021/8/29。(1)X射线光管(X-rayTube)端窗型光管:阳极靶接正高压,灯丝阴极接地。内循环冷却水使用去离子水。综合考虑激发效率,杂质线,背景及更换X射线光管所需要的时间等因素,本仪器选用
6、Rh靶。Rh靶的最高电压60kV,最大电流125mA,最大功率2.4kw,kV与mA之间的调节会由软件自动完成。测量时,对于短波长元素使用高压低电流,对长波长元素使用低压高电流。Rh靶的窗口由75um厚的铍(Be)制成,这有利于Rh的L系特征线的传播,对低原子数元素的特征线激发很重要。2021/8/29(2)滤波片(TubeFilters)作用:利用金属滤波片的吸收特性减少靶物质的特征X射线、杂质线和背景对分析谱线的干扰,降低很强谱线的强度。位置:位于X光管与样品之间。仪器配有4块滤波片200umAl测定能量范围在6-10keV内的谱线,降低背景和检测限。750
7、umAl测定能量范围在10-20keV内的谱线,降低背景和检测限。300umCu削弱Rh的K系线,用于能量在20keV以上的谱线测定。1000umPb在停机状态时使用,保护光管免受粉尘污染,还可避免检测器的消耗。2021/8/29(3)样品杯(Samplecup)照射在单位面积试样上X射线的强度(I)与离开X光管焦斑距离(R)的平方成反比。因此放置样品杯时位置的重现性相当重要。I=K/R22021/8/29(4)准直器(Collimators)准直器由一组薄片组成,目的是使从样品发出的X射线以平行光束的形式照射到晶体。薄片之间的距离越小,越容易形成平行光,产生的
8、谱线峰形也更锐利,更容易
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