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时间:2020-09-11
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1、第五章火焰发射和原子吸收光谱分析法5.1.1干扰和消干扰1.火焰光谱法中的干扰可分为光谱干扰和非光谱干扰两类光谱干扰:在仪器检出分析质辐射的发射或吸收的同时,也检出了未被分离的其它物质的相应信号,则产生光谱干扰,对比不含分析质的空白溶液和溶剂空白液的信号,可确定是否存在光谱干扰。从分析线的一侧向另一侧作波长扫描连续测量被研究的试液,也能确认光谱干扰,光谱干扰的程度,主要取决于使用的通带宽度。用火焰发射法测量时,共存质发射的各种辐射(包括连续光谱,分子带,原子线及离子线),杂散光,光栅鬼线,只要被检出器检出,均引起光谱干扰。火焰背景发射虽在空白溶剂调零位时
2、可以清除掉,但共存杂质也会对火焰背景发射产生影响,它难以从共存杂质光谱干扰中区分出来。用原子吸收光谱测量时,光谱干扰既来自火焰,又来自空心阴极灯。比起发射法,火焰中共存杂质的基态原子产生吸收光谱干扰的机会要少得多,但分子吸收光谱干扰仍然存在;共存质未挥发微粒的光散射,造成表观吸光的光谱干扰在短波区尤其显著;此外,共存质有时对火焰背景吸收也产生影响。劣质的原子光谱灯,可能发射波长临近分析线的辐射。它可能和试样共存质吸收线一致,也可能是别的非吸收线,如果分光系统不能分辨开,分别会产生直接光谱干扰及使定标曲线严重弯向浓度轴。非光谱干扰的种类如下:输送干扰:由共
3、存质改变传(送分析)质引起。涉及改变吸喷速率F1,雾化效率εn及脱溶剂分数βs,从而改变单位内穿过火焰观察高度横断面的试样量,这属于非专一(物理)干扰。溶质挥发干扰:由共存质改变干燥气溶胶中微粒的气化速率引起,可加速或减缓这一速率。共存质使分析质挥发不完全,无共存质时分析质挥发不完全,或共存质存在与否分析质挥发均不完全,都会产生这种干扰。有时是专一性干扰,有时为非专一性干扰,常难区分。气相干扰:发生在分析质化合物解离分散,电离分数或激发分数遭到改变之时。分别称解离干扰,电离干扰和激发干扰。共存质一旦改变火焰温度,就会产生激发干扰。即使用孪雾化器分别吸喷分
4、析质和干扰质的溶液,气相干扰仍然存在。这类干扰由专一性。空间分布干扰:发生在共存质改变分析质的质量流动速率或质量流动模型之时,有时影响燃烧生成气体的体积及其上升速度。在极端场合,可明显见到火焰的形状,大小有改变,称发生火焰几何学干扰,无专一性。有时会改变扩散过程,如共存质推迟了雾滴或固体微粒的气化,缩短了到观察区前可用于横向扩散的时间,产生横向扩散的时间,产生横向扩散干扰,有专一性。2.消除干扰技术和光谱化学缓冲剂基线扫描法:校正发射背景光谱干扰。从分析线一侧扫描向其另侧,在记录器上获得完整的信息谱,把两侧背景内推到分析线峰位,得应扣除分析线峰位处的背景
5、值。参考元素法:按IUPAC建议,不再称内标法,用以极缩非专一性干扰。借助于参考元素与分析质两者测量值之比,补偿测量条件波动引起的偶然误差。分析质增量法:用以极缩光谱以外的干扰,主要是非专一性干扰。在增量法的定标系列中与共存质完全匹配。模拟技术:要求配制组成与分析试液匹配的定标用标准系列,以补偿干扰。光谱缓冲剂加入法:用以钝化干扰效应。光谱化学缓冲剂有以下几种。抑制剂:减弱干扰质的发射、吸收或光散射效应,从而消除或减弱光谱干扰。稀释剂:优先于干扰质生成稳定化合物,防止分析质生成热稳定的化合物,减小解离干扰。保护剂:与分析质或干扰质化合,利于分析质原子化,
6、减小发生于凝相中的非光谱干扰。电离缓冲剂:增加火焰气体中自由电子的浓度,抑制或稳定分析质原子的电离度。挥发剂:使分析质生成更易挥发的化合物,或增加所有分析质微粒的总表面积。如生成爆炸崩解性含分析质的化合物。饱和剂:本身是干扰剂。浓度足够高的饱和剂引入测量液时,使干扰曲线达饱和平台区,从而钝化共存质干扰。无干扰区技术:利用三位表的无干扰区的条件进行无干扰的直接测量,适用于产品分析,操作简单且无需任一光谱缓冲剂。后一优点可免除缓冲剂空白对测量的危害。5.2火焰发射光谱增量法测定锂5.2.1原理增量法的原理及注意事项已在上节叙述,欲测盐或卤水中的锂首先要考虑光
7、谱干扰,然后才是解离干扰和电离干扰的对策。用波长扫描法发现光谱干扰时,要选用足够窄的光谱通带,以获高特性因素的测量。特性因素Fs由下式计算:Fs=EaCi/EiCa这里E为发射值,C为测量试液的浓度;角标i为有光谱干扰的某一元素,a为分析质元素。特性元素越大光谱干扰越小。因SrOH发射带头恰重叠在锂670.8nm分析线上,故测量液中锶量应受严格限制,高灵敏的原子化条件+使用前提是必须确保高特性因素。增量法的使用,大大减弱多数非光谱干扰。5.2.2仪器和试剂1.仪器及测量条件见表5.4仪器带YM-2单色仪的火焰发射光谱仪检出器ΦЭY-22光电倍增管,直流1
8、460v狭缝宽度0.03mm分析线670.8nm检流计AC9/3型观察高度燃烧器
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