icp-oes性能对比表

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1、ICP-OES对比表项PE公司Optima5300DV热电公司iCAP6500DUOVarian公司730-ES目实物图光中阶梯光栅双光路二维色散分光系统中阶梯光栅+石英棱镜的二维交叉色散系统中阶梯光栅+CaF2棱镜构成二维交叉色散。学165~403nm中阶梯光栅+交叉色散光栅；光栅面积：60110mm光栅面积:？系403~782nm中阶梯光栅+石英棱镜；光栅刻线：52.6条/mm光栅刻线：94.7条/mm统中阶梯光栅面积：80160mm闪耀角：64.1度闪耀角：44.77度中阶梯光栅刻线密度：79条/mm透镜：

2、19度棱镜：？闪耀角：63.4狭缝：50100m狭缝：？交叉色散光栅刻线密度：374条/mm焦距：381mm聚焦：400mm石英棱镜色散角度：60波长范围：165-847nm波长范围：167-785nm采用了消除色差像差的光学元件。光谱级次：200-34光谱级次：88-19光谱范围：165~782nm光圈指数：f/8光圈指数：f/6.7象素分辨率：优于0.003nm(200nm处)象素分辨率：0.005nm在200nm处分辨率：0.0076nm在200nm处光学分辨率：优于0.006nm(200nm处)杂散光

3、：<0.3ppm，10000ppmCa在As193.696处，杂散光：<2ppm,10000ppmCa在As193.696处光通量：f/6.7测量时使用背景扣除，这是欺骗客户的做法Vista仅用70个光谱级次，每个级次所包含的波焦距：504mm光谱的级次过高，谱线重叠严重，而且同一条谱段很宽，而中阶梯分光光谱的分辨率在中央位置波长校正：自动汞灯校正线在检测器上多次出现。较好，离开中央位置越远的谱线分辨率越差，因入射狭缝：31m62m180m三档可调紫外光与可见光不能同时测定，分先后两次曝此Vista的分辨率

4、非常不一致，提供的分辨率是光室恒温：38C光，切换时间长，稳定性差。那些处在中阶梯分光光谱最佳位置的谱线，而同微机控制气动快门在测试样品时打开。N2或Ar气驱气，驱气流量连续可调，特别密封光一级次在检测器边缘谱系的分辨率较差。光学室安置在防震基座上。室，节省驱气。外光路系统需经三次才能进入入射狭缝，且存在低紫外(<190nm)采用氮或氩气吹扫。每一条谱线在使用前都需要用标准溶液进行谱线定可动部件（第二反射镜需经常调整）光损失大，位。稳定性差（1ppm标样RSD可达1.58％——从其其英文样本和中文样本的技术指标有很

5、大差距，因英文样本上查得）。而其从来不提供英文样本，以及英文原厂检出限的N2或Ar气驱气，驱气流量只有两档，0.7或数据。3.01/min，耗气量大且不灵活。采用Ar谱线波长校正，由于Ar线均在长波区域，330nm以下的谱线无法校正，而此区域的谱线在ICP中是最常用的，需经常校正谱线。在ICP辐射出的光中，可见光是紫外光强度的100倍以上，可见光和紫外光对光栅和三棱镜等光学器件的要求也不同，如果同时检测，则必须进行折衷紫外、可见共用一套分光系统，一套检测器。高波长和低波长分开积分、分开测量，不断通过光学系统的移动实现

6、切换紫外、可见两套分光系统，两套检测器（紫外、可见分别优化，检测器寿命长，从未出现检测器故障）紫外、可见共用一套分光系统，一套检测器（可见光是紫外光强度的100倍以上，可见光和紫外光对光栅和三棱镜等光学器件的要求也不同，必须进行折衷）其高波长和低波长采用的积分时间都不一仪器性能较差，而价格与PE公司产品接近，性样价比低，其销售人员一般宣称该型号已经停产，该型号在国内的用户也极少。ICP火焰的光谱主要是由工作气体(一般为氩气)产生的光谱、分子谱带及连续光谱三部分所组成。由干燥氩气所产生的ICP光谱具有下述特征：(1)在

7、400～450纳米波段内有—组极强的氩线，其中较强的谱线是ArI420.068nm以及ArI4l5.859nm；(2)在300～500纳米范围内有较强的连续光谱；(3)当氩气纯度不高时(含有N2、H2O、CO2等)则光谱中将出现一系列分子谱带，如OH、NH、CH、CN和NO谱带等。当试样中含有碳氢化合物时，在ICP光谱中会出现一系列C2分子谱带，也有很强的氰带光谱。在ICP光源中，连续光谱背景较强，产生连续光谱背景的因素有黑体辐射、轫致辐射及复合辐射三种。高浓度的碱土元素，如钙、镁，也能产生较强的散射光，叠加到连续光

8、谱背景上。在ICP中基体强光比要分析的谱线常常强度高出上百万倍，如果检测器不能解决避开这些强光，检测器必然寿命短，同时很弱的紫外线也无法准确测量，而分析工作者需要的谱线95％以上都是很弱的紫外线。检测器电荷注入CID检测器检测器与中阶梯光学系统的二维光谱图完全匹解决了检测器与二维光谱图的匹配问题，但没有91年投入生产，因为故障率极高而不断重新设