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1、AmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd.SPCTechnique统计制程管制技术Presentedby:NikeOuYangApril7,2005SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础描述变化常用的统计量:均值Xbar=∑X/nn众数Mo=L+∆1*i/(∆1+∆1)中位数Me=L+(N/2
2、-Sm-1)*i/fm标准差σ=Rt{[∑(Xi-Xbar)]/N}SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)直方图的定义:将所收集的数据(特性或结果值)在一定的范围轴上加以区分并将其分成几个相等的区间,依各组的次数,用柱形表示的图形.SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)直方图的作法:(1)找出样本数;(2)根据样本数分出组数;(3)算出每组之组距与组界;(4)根据
3、上述(1)(2)(3)来设计次数分配表;(5)依据次数分配表来绘制直方图.SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)例如:有如下测定值:636064626364636266646062616562636663676463626563656162646361SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)次数分布表:组别下组界上组界组中值次数累计次数159.5060.5060.0
4、022260.5061.5061.0035361.5062.5062.00611462.5063.5063.00819563.5064.5064.00524664.5065.5065.00327765.5066.5066.00229866.5067.5067.00130Xbar=63.1σ=1.72906SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)直方图的绘制:Xbar=63.1σ=1.72906SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnol
5、ogy(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)直方图的用途：1.直观地了解被观察对象的分布状况;2.测知制程能力:u=M？;3.计算产品不良率:4.调查是否混入两个以上不同群体;5.测知有无假数据;6.测知数据分配形态(偏左还是偏右?);7.借以订定规格界限:u+/-4*δδ或δ或u+/-3*δ;8.与规格或标准值比较;9.设计管制界限可否用于管制制程;SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)SPCTechniqueAmphenolEastA
6、siaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd一﹑SPC的理论基础(续)CPK值与PPM对照表CpCpk0.330.50.6611.331.6620.330.68%82.00%84.00%84.13%84.13%84.13%84.13%0.5087.00%92.72%93.32%93.32%93.32%93.32%0.6695.40%97.39%97.72%97.72%97.72%1.0097.73%99.8
7、7%99.87%99.87%1.3399.99%99.97%100.00%1.66100.00%100.00%2.00100.00%CPK=MIN((XU-X),(X-XL))*2.059/(3*R);(XU规格上限,XL规格下限)SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd二﹑管制图的引进SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(Shenzhen)Co.,Ltd二﹑管制图的引进SPCTechniqueAmphenolEastAsiaTechnology(
8、Shenzhen)Co.,Ltd二﹑管制图的引进(续)μ-3σμ-
