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时间:2020-03-27
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1、2011年3月学硕独食lJ件声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标志和致谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得金胆王些太堂或其他教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢意。学位论文作者签字瓣钔飙M年铲月护学位论文版权使用授权书本学位论文作者完全了解金壁王些太堂有关保留、使用学位论文的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件
2、和磁盘,允许论文被查阅或借阅。本人授权金胆王些太兰L可以将学位论文的全部或部分论文内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。(保密的学位论文在解密后适用本授权书)学位敝者虢印霄景导师躲易巍净签字日期:俨//年/./-月功旧签字日期:)011年乒月旋芦学位论文作者毕业后去向:工作单位:通讯地址:电话:邮编:系统芯片芯核联合测试优化技术摘要随着集成电路设计技术及制造工艺的不断发展,集成电路已经进入了系统芯片(SystemonChip,SoC)时代。然而随着SoC集成的
3、芯核数目的增多,芯核结构复杂性的提高,测试数据量的膨胀等,为SoC的测试带来更大的挑战。测试是芯片产品规模化生产的重要环节,其目标是检测芯片在制造过程中引起的电路故障。VLSI测试方法主要有基于ATE的外部测试、内建自测试(Built.InSelf-Test,BIST)和基于测试资源划分(TestResourcePartition,TRP)的优化测试。目前,基于嵌入式芯核的SoC测试技术已经成为学术界研究热点。本学位论文在综述SoC测试理论及关键技术基础的前提下,重点针对SoC多芯核联合测试和SoC芯核
4、层次化并行测试,开展创新的技术研究。平衡划分芯核测试链可以降低芯核测试应用时间,论文针对测试访问机制(TAM)约束的硬核测试链划分问题,应用最佳适应递减算法BFD,可以生成更加平衡的芯核测试链。论文以最小化SoC测试应用时间为目标,构建了一种可重配置的多芯核串行联合扫描测试结构,实现多个芯核测试向量的联合扫描。实验将建议方案结合BFD算法应用于典型ITC’02SoC测试基准电路,结果表明,与现有的芯核独立测试相比,有效降低SoC测试应用时间。为了解决层次化芯核的并行测试问题,论文通过扩展标准测试盒结构,
5、给出一种新的子核测试盒结构,该结构与两个测试访问机制(TAM)相连接的:1)子核的测试访问机制(TAM),为子核传递测试激励:2)父核的测试访问机制(TAM),为父核传递的测试激励。应用这种测试盒单元,通过芯核internal和external模式,父核和子核的的测试数据能够同时被扫描。实验将建议的结构应用于ITC’02基准电路,实验结果表明,该结构有效实现了层次化芯核中父核和子核的并行测试问题,并且在芯核并行测试条件下父核的测试时间相对芯核独立测试条件下父核的测试时间增加的很少。关键词:系统芯片;层次
6、芯核;测试应用时间;测试盒;芯核联合测试Core--unifiedSoCTestOptimizationTechniqueABSTRACTIntegratedcircuithascomeintotheageofSystemonChip(see)withthequickdevelopmentofdesignandmanufacturingtechniques.However,withtheincreaseofthenumberofcoresandthearchitecturecomplexityofcor
7、e,SoCtestdatavolumegrowsrapidlyandSoCtestingisagreatchallenge.TestingisallimportantprocessforindustrialproductionofVLSIchips,thegoalofwhichistodetectcircuitfaultscausedbymanufacturingprocess.ThemethodsoftestingVLSIcircuitsmainlyincludeATE-basedexternalte
8、st,build—inself-test(BIST)andtestresourcepartition(TRP)basedoptimizationtest.nletechniquestudyfortestingSeebasedonembeddedcoreshasbecomeahottopic.TIlisdissertationsummarizestheSoCtestingtechnologyandstrategiesandthenexplor
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