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时间:2020-03-23
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1、第41卷分析化学(FENXIHUAXUE)研究简报第6期2013年6月ChineseJournalofAnalyticalChemistry927—930DOI:10.3724/SP.J.1096.2013.20966溴化分离-电感耦合等离子体质谱法测定高纯锡中的16种杂质元素魏建军郎春燕林龙飞郑林李佳宣(成都理工大学材料与化学化工学院应用化学系,成都610059)(四川阿波罗太阳能科技有限责任公司,成都610207)(中国海洋大学地求科学院,青岛266100)摘要高纯锡样品经HC1和H:0:消解,HBr挥发分离,去除基体sn,
2、采用电感耦合等离子体质谱(ICP—MS)法测定其中的16中杂质元素。通过溴化分离基体锡,有效克服了基体对所测杂质元素的干扰和对仪器进样系统的污染。在选定的实验条件下,方法检出限(3)介于0.001—0.004g/g之间;相对标准偏差(RSD)为2.3%一5.6%;加标回收率在95.2%一103.6%范围内。本方法简单实用,能够满足纯度为99.99%和99.999%的高纯锡中16种杂质元素的测定要求。关键词电感耦合等离子体质谱;高纯锡;溴化分离;杂质元素1引言高纯锡是一种具有独特理化性质的低熔点金属。随着现代科技的发展,高纯锡被越
3、来越广泛地应用于金属保护膜⋯、锡基合金、催化剂j、电极J、光电等材料的制备及其它领域。锡作为中间材料,其纯度对后续研究具有重要影响。因此,建立高纯锡中杂质元素的测定方法具有重要意义。高纯锡中杂质的分析方法已有多篇报道_9。这些方法或因污染环境,或因基体分离不完全而难以推广。电感耦合等离子体质谱(ICP—MS)以其灵敏度高、干扰少和多元素同时分析等特点,已广泛应用于地质、材料、生物和环境等领域J,被分析界视为一种强大的检测工具。-20]。本实验以HC1和H:0消解,HBr挥发基体,用ICP-MS同时测定高纯锡中16种杂质元素。结果
4、表明,方法精密度和回收率较好,能很好地满足纯度为99.99%和99.999%高纯锡的分析需要。本方法不仅简单、实用,适合于大批量样品的分析,而且污染相对较小。2实验部分2.1仪器与试剂TAS990原子吸收分光光度计(北京普析通用仪器有限公司);NexION300D型电感耦合等离子体质谱仪(美国PerkinElmer公司),仪器参数设置:RF功率为1250kW,冷却气流量为17L/rain,辅助气流量为1.2L/min,雾化气流量为0.9L/min,测量方式为跳峰,重复次数为3次,检测器电压为一12V。待测元素的标准储备液(1L)
5、:国家标准物质研究中心提供。根据测试需要,用5%HNO现配各元素的系列混合标准溶液,即0.00,0.02,0.20和2.00mg/L。HCI和HBr(优级纯),经过二次亚沸提纯,储存于FEP容器中;H02和H:SO(优级纯);实验用水为超纯水,电阻率18.25MQ·cm,由成都雄泰环保科技开发有限公司生产的超纯水机制备。所用器皿均经30%王水浸泡,超纯水洗净。本实验以Sc和Ga为内标元素,以2%HNO3稀释至20L。2012-09-25收稿;2012—11-18接受+E—mail:langchunyan@cdut.cm928分析
6、化学第41卷2.2样品制备准确称取0.5000g试样于15mL的石英小坩埚中,加入5mL热HC1,待反应平稳后,逐滴滴加H:0至试样基本消解,微热至完全反应,加入0.2mLH:SO(1+1),在温度约90℃下将溶液蒸至粘稠,加2mLHBr,载挥发至溶液粘稠,重复添加HBr至基体挥发完全,待石英坩埚冷却后,用5%HNO,定容至5mL,摇匀,随批带空白样品。3结果与讨论3.1最佳挥发温度、试剂量和基体分离效率考察了温度为80—120oC时样品的回收率。结果表明,在此区间内,所测元素回收率均在100%±5%之内;但8O℃时需要时间太长
7、;温度超过120oC时,样品容易飞溅,难以控制,故选择温度为90℃。此条件下挥发速度适中,耗时在2h以内。溶样过程所需HC1和H0用量与样品比表面积有关。比表面积大,所耗费的试剂量少。本实验所使用的样品为水淬样,比表面积较大。实验表明,当加人5mLHC1和3mLH:0时,溶样效果最佳。加入HsO以确保易挥发的杂质元素更加稳定。结果表明,在加入0.2mLH:SO(1+1)时,易挥发的杂质元素不易损失,HSO也不过量。表1HBr加入量对基体残留量的影响分次加入HBr,采用质谱吸收光谱(AAS)Table1Efectofhydrobr
8、omicacidonmatrixresidues法测定样品溶液中的残留sn,计算其残留百分率。由表1可知,当加入3.2mLHBr时,基体残留率小于0.001%,故本实验中HBr的体积选择为3.2mL。3.2不同分析方法的比较目前,去除高纯锡基体的方法主要有氯化分
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