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1、X射线荧光光谱法分析岩石中的化学成分丁啸,李功振(成都理工大学,四川成都610059)摘要:采用粉末压片制样方法,利用X射线荧光光子数量(即含量)成比例,因此,通过测量试样中某元素特谱法分析了岩石中的化学成分,具有简便、快速、准确等征X射线的强度,采用适当的方法进行校准与校正,便可优点。本文系统地介绍了实验整个过程,有助于增进对X求出该元素在试样中的百分含量,即为X射线荧光光谱定射线荧光光谱分析技术的全面了解和应用。量分析。关键词:X射线荧光光谱法;粉末压片法;化学成分2)样品制备:样品的制备是XRF分析的一个重要环中图分类号:P575.4文献标志码:B节,其结果直接关系到分析的
2、精准度。进行X射线荧光光文章编号:1672-4011(2016)09-0167-02谱分析的样品,可以是固态,也可以是液态,但所测样品DOI:10.3969/.jissn.1672-4011.2016.09.077中不能含有水、油和挥发性成分,更不能含有腐蚀性溶剂[4-9]。制样方法也是多种多样,本次实验主要采用粉末AnalyzetheChemicalCompositionofRockby压片法制作样品。粉末压片法是X射线荧光光谱分析粉末样品的主要办X-rayFluorescenceSpectrometry法之一,其具体操作步骤为:干燥、焙烧、混合、研磨、DINGXiao,LIG
3、ongzhen压片。①干燥将样品放置在120℃的干燥箱中干燥8~12h,(ChengduUniversityofTechnology,Chengdu610059,Ch-i其目的是除去附着水,提高制样的精度。②焙烧。可改变na)矿物的结构,从而克服矿物效应对分析结果的影响,焙烧Abstract:Thechemicalcompositionofrockhasbeen也可以除去结晶水和碳酸根,但若样品中存在还原性物质,analyzedinthisexperimentbyX-rayfluorescencespectrom-在空气中焙烧,也会引起氧化。③混合。为了消除样品由etrywith
4、samplepreparationmethodofPowdertabletform-于不均一性而引起的实验误差。④研磨。将块状试样放置ingmethod,andX-rayfluorescencespectrometryhasmany在粉碎机中研磨至200目以上的粉末。⑤压片。采用铝盒advantagessuchassimple,rapidandaccurate.Thispaper做盛样容器,或以聚酯环镶边,或以硼酸镶边衬底,在30introducesthewholeprocessoftheexperiment,thiscanbeMPa压力作用下保持30s,直接压成光滑圆片,圆片外
5、径helpfultounderstandandapplytheanalyticaltechniquebyX为40mm,内径35mm,厚约8mm,该方法简单快速,但-rayfluorescencespectrometry.矿物效应大,制样再现性差,测量精密度差,适合生产现Keywords:X-rayfluorescencespectrometry;powder场的控制分析或定性、半定量分析。tabletformingmethod;chemicalcomposition3)实验结果:本次实验采用XF1800型X射线荧光光0前言谱分析仪,最大工作电压为40kV,最大工作电流为90mA,
6、8个位置的自动样品交换器。实验结果如表1所示。X射线荧光光谱(XRF)分析法因其光谱干扰少、精度表1实验结果%高、准确度好、分析速度快、检测元素多、测量范围广编号(0.0001%~100%),又可进行无损检测,得到了众多领域12345的青睐,逐渐成为实验室中不可缺少和替代的方法[1-2]。成分目前,不管冶金、建材,或地质、机械,还是石油、SiO277.954683.455481.226866.221656.0217电子等行业都离不开X射线荧光分析,其独特的优点被各Al2O315.047311.301713.240123.686811.8889个行业所看好。本文就利用X射线荧光光谱
7、分析法分析岩K2O2.82422.25472.41902.55152.7436石中的化学成分进行简单介绍。Fe2O31.25021.14151.11453.42426.32911实验Na2O0.88670.77340.50850.62270.8945SO30.75660.37550.33260.402911.51341)基本原理:试样受X射线照射后,其中各元素原子的内壳层(K,L或M层)电子被激发逐出原子而引起电子TiO20.46770.00000.36081.08840.392
