场发射电子显微镜系统技术参数.doc

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1、场发射扫描电子显微镜系统技术参数一、货物名称及数量:场发射扫描电子显微镜系统一台二、主要技术规格及要求2.1基本要求2.1.1发射源:热场发射电子枪*2.1.2物镜系统:电磁/静电式物镜系统,电子束无交叉光路设计*2.1.3分辨率:0.8nm@15kV1.6nm@1kV*2.1.4加速电压范围:20V-30kV,连续可调*2.1.5放大倍数范围:12X-1,000,000X,连续可调2.1.6探针电流:范围4pA-20nA,连续可调稳定度优于0.2%/h2.1.7减震方式:自动水平系统2.2真空系统2.2.1样品室极限真空度:≤2×10-4Pa2.2.2换样抽真空时间:小于3min。

2、2.3样品室及样品台*2.3.1样品室尺寸(不小于):内部直径520mm,高度300mm2.3.2集成8英寸样品交换室*2.3.3配备四个探测器:环形高效完全内置式In-lens二次电子探测器样品室内ETSE二次电子探测器4QBSDAsB背散射电子探测器样品室内红外CCD摄像机*2.3.4样品台:类型6轴全自动马达驱动超优中心样品台安装抽屉式控制双操纵杆控制盒*2.3.5样品台马达移动范围(不小于):152mm(X方向),152mm(Y方向),43mm(Z方向),10mm(Z’方向),-15-60°(倾斜),360°(旋转)2.3.6能谱仪工作条件:工作距离8.5mm,X射线出射角3

3、5°*2.3.7物镜光栏:数量不少于6孔更换与对中方式电磁式2.4图像处理系统2.4.1配套计算机系统(不低于):CPUIntelPentium2Quad;2.33GHzQuadCore,RAM4Gb,硬盘1TB,光盘刻录机,19″TFT显示屏,键盘,鼠标,USB接口。2.4.2显示图像分辨率:不小于1024×768像素2.4.3最大存储图像分辨率:不小于3072×2304像素2.4.4存储图象格式:TIFF、BMP与JPEG2.4.5降噪方式:像素平均、帧/行平均、帧/行叠加2.5控制系统2.5.1操作系统WindowsXP,电镜操作控制软件。2.5.2自动功能:自动电子枪启动,电

4、子枪自动对中,自动偏压调整,自动镜筒参数控制,磁滞校正,自动聚焦,聚焦补偿,动态聚焦,旋转补偿,自动消像散,图像混合,扫描旋转,倾斜补偿,图像降噪处理。2.5.3分屏显示,双放大,直方图,伪彩色,图像注释,图像测量。3、附件及备件3.1X射线能谱仪3.1.1探测器:3.1.1.1硅漂移晶体,超薄窗口,完全独立真空;晶体实际面积不小于30mm2,有效采集面积不小于20mm2,场效应管(FET)与晶体分离,独立封装;适合低电压或小束流分析,可以分析纳米尺度的元素成份,有效延长灯丝寿命。3.1.1.2活性区面积:20mm23.1.1.3分辨率:MnKa优于127eV;在不同计数率下谱峰稳定

5、,分辨率变化小于1eV。3.1.1.4探测元素范围:Be(4)到Pu(94)3.1.1.5免维护性:无需加液氮,帕尔帖制冷,随时可以断电,探头不结霜。3.1.1.6输出最大计数率:大于500,000CPS谱峰无畸变,可处理最大计数率优于750,000CPS3.1.2软件系统:3.1.2.1分析导航器。3.1.2.2全中文软件操作界面。3.1.2.3信息管理系统。3.1.2.4实验报告系统。3.1.2.5元素面分布分析软件。具备点、线、面扫描分析功能,高帽法扣除背景避免人为误差,可自动和手动进行全谱元素谱峰识别,并具有检验重叠峰剥离准确性以及合峰效应的有效方法。3.1.2.6电子束任意

6、定位和分析软件。3.1.2.7定性、定量分析软件。采用最先进的XPP修正技术,可对抛光表面或粗糙表面进行点、线和面的分析;具有虚拟标样法(间接标样法)以及有标样法(直接标样法);可以方便的得到归一化和非归一化结果。3.1.2.7离线分析:具备全谱离线分析功能,一次采集全谱元素可以重建和再定量。3.1.2.8轻元素分析准确可靠,空间分辨率好。3.1.2.9图像输出:可在能谱平台上采集电子图像,支持BMP,TIFF,JPEG等流行的图像格式,对视场上任选区域进行能谱分析和线、面扫描,可得到元素的线分布、常规面分布、快速面分布和定量面分布等。3.1.2.10实验报告:多种输出格式,支持WO

7、RD文档转换和存储。3.1.2.11与电镜联机的相关软件,直接读出电镜参数。3.1.2.12软件版本开放,可以在任意其他数据处理计算机上安装离线软件。3.1.3计算机系统(最低配置):3.1.3.1IntelCoreCPU3.1.3.2操作系统:WindowsXP3.1.3.3RAM:4GB3.1.3.4硬盘:500GB3.1.3.5显示器:22″彩色LCD显示器3.1.3.6打印机:彩色打印机3.1.3.7DVD/RW刻录光驱3.1.3.8和电镜室烟台一

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