场发射扫描电子显微镜

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1、实用标准文案（一）场发射扫描电子显微镜（SEM）送样须知应用范围：固体样品的微观形貌、结构，样品的微区元素成份及线分布、面分布，广泛应用于纳米技术、材料、物理、生物、化学、热能、地球科学、环境、光电子等领域。²☆粉末、微粒样品形态的测定；²☆金属、陶瓷、矿物、水泥、半导体、纸张、塑料、食品、农作物、细胞等材料的显微形貌分析；☆复合材料界面特性的研究；²☆材料中元素定性分析、定量分析、线分析、面分析；²☆材料及电子器件失效分析。来样须知：²☆样品中不得含有铁（Fe）、钴(Co)、镍(Ni)；²☆样品不得具有磁性，并且不易被磁化；²☆样品中不得含有水分；²

2、☆样品粉末状为宜，形状不规则样品需加工表面整洁，厚度小于0.5cm；²☆多孔类或易潮解的样品，请提前真空干燥处理；²☆样品应具有导电性，若样品不导电，需要进行镀金导电膜的处理。检测项目：☆表面形貌观察；☆微区元素分析；可以检测的元素范围B5～U92。可以检测微区元素的线分布、面分布。提供EDS数据分析处理。（二）激光粒度分析仪（PCS）送样须知应用范围：²☆测量纳米颗粒的粒径，同时给出粒径的分布；²☆应用于纳米材料、生物分子（如蛋白质、脂质体）、化工产品、食品、农业化学品、日用化学品、制药等领域。来样须知：²☆样品应该为澄清溶液，溶液中无肉眼可见的絮状

3、物或漂浮物；²☆样品浓度不低于0.1mg/ml，不高于40%固含量；²☆样品量大于5mL；²☆被测颗粒形状应尽可能接近球形，且尽可能是单分散样品（即样品中的颗粒尺寸单一）。²☆请提供被测颗粒的折射率，分散介质的折射率和粘度数据。检测项目：²☆纳米颗粒粒径。文档实用标准文案（三）X射线荧光光谱仪（XRF）送样须知应用范围：☆样品可以是固体、粉末、熔融片，液体；☆适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。来样须知：☆样品有足够的代表性；☆试样在Ｘ射线照射及真空条件下应该稳定、不变形、不引起化学变化；☆固体：试样均匀，表面平整、光洁、无裂纹，无

4、污染；尺寸要求（mm）大小：10×10～45×45；厚度：金属陶瓷1～20、塑料等有机质基体5～20。☆粉末：a)压片法：样品均匀、粒度>200目，样品量>5g，样品需干燥处理，压片成形性较好；b)熔片法:样品均匀、粒度>200目，样品量>2g，硫化物、金属单质样品需特殊注明。☆定量分析须用户自备标样。检测项目：☆无标样半定量；☆标样定量。（四）X射线衍射仪（XRD）送样须知应用范围：☆广泛应用于冶金，石油化工，航空航天，材料生产等领域；☆样品的物相分析（定性分析）。来样须知：☆粉末样品要求：干燥、在空气中稳定，粒度均匀，粒径小于20μm，粉末样品量约

5、需2-4g；☆块状样品要求：测试面清洁平整，也可是板状、片状或丝状，带衬底材料的薄膜或带基材的镀层等原始形状，厚度≤1cm，直径≤3cm；☆特殊样品：极少量的微粉、非晶条带、液体样品等。微粉样品需要颗粒均匀细小，且物质性质稳定，对Si无腐蚀性。条带需要平整光滑且不能太厚。告知测试的起始角度，2θ角扫描范围须在3°～120°之间若样品中含有Fe、Co、Ni等荧光物质，请告知；☆送样人需尽量提供样品中所含的元素种类；☆易变质样品需提前与仪器操作人员联系，预约测试时间；☆剧毒样品需特别注明；☆请注明样品保存条件，如常规、冷冻、干燥、冷藏、避光等。检测项目：☆

6、粉末样品物相分析。文档实用标准文案(五)电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)送样须知应用范围：²☆玩具中药材样品中有毒有害重金属元素As、Pb、Hg、Cd等的检测；☆土壤、植物叶子样品中营养元素K、Ca、Na、Mg等的检测；²☆不锈钢产品中Cr、Ni、Mo等元素的检测；²☆贵金属金银钯样品及紫铜、锗样品中杂质元素的分析。来样须知：²☆客户需提供足量、完整、均匀的样品供检测，元素含量在mg/kg级的需1g以上样品。²☆金属样品需提供粉末状或者碎屑状样品。检测项目：☆定性分析：对未知样品进行全谱扫描，给出样品中无机元素（包括非金属磷和硫元素）的种类及元素含

7、量的范围。☆定量分析对样品中元素含量进行准确定量分析，检测元素下限为0.1mg/kg，上限为20%。超出范围的元素需结合其他分析手段共同分析。(六)红外显微光谱仪（FTIR-660+610）送样须知应用范围：²☆可用于样品的无损检测；☆污染物、异物、微区红外分析；²☆失效分析、故障分析；²☆电子材料；²☆文物保护领域；²☆涂层、包装和层压材料；²☆有机样品、无机样品和高分子材料等的鉴定以及混合物分布图；²☆公安法院物证鉴定、环境检测、商检等领域；²☆应用于医药、农药、精细化工、环境、纺织、检测、矿物、等各领域。来样须知：²☆样品尽量干燥，固体或冻干粉样

8、品，避免水的羟基峰对其他官能团红外峰的影响；²☆来样请注明样品保存条件（干燥、冷冻、冷藏、避光