电感耦合等离子体质谱法测定地质样品中稀散元素铬镓铟碲铊.pdf

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1、2010年6月岩矿测试Vol_29．No．3June2010R0CKANDMINERALANALYSIS255～258文章编号：0254—5357(2010)03—0255—04电感耦合等离子体质谱法测定地质样品中稀散元素铬镓铟碲铊李国榕，王亚平，孙元方。，董天姿。，王海鹰。(1．内蒙古大学化学化工学院，呼和浩特010021；2．国家地质实验测试中心，北京100037；3．内蒙古矿产实验研究所，呼和浩特010031)摘要：采用电感耦合等离子体质谱技术，研究了地质样品中稀散元素铬、镓、铟、碲、铊含量

2、的质谱分析方法。研究确定了最佳测定酸度、干扰元素的校正方法，结果令人满意。方法检出限为0．0013～0．063g／g，精密度(RSD，=l1)为2．00％～4．87％，优于其他方法，具有较好的灵敏度。方法快速、简便，结果准确，可用于地质样品中稀散元素铬、镓、铟、碲、铊含量的分析，适用于批量样品的快速测定。关键词：电感耦合等离子体质谱法；地质样品；稀散元素中图分类号：0657．63；P585；S151．93；P618．7文献标识码：ADeterminationofCr，Ga，In，TeandTIin

3、GeologicalSamplesbyInductivelyCoupledPlasma-MassSpectrometryL／Guo—rong，WANGYa-ping。，SUNYuan-fang。，DONGTian—zi。，WANGHai—ying(1．CollegeofChemistryandChemicalEngineering，InnerMongoliaUniversity，Hohhot010021，China；2．NationalResearchCenterforGeoanalysis，Be

4、ijing100037，China；3．InstituteofInnerMongoliaMineralExperiment，Hohhot010031，China)Abstract：AmethodforthedeterminationofCr，Ga，In，TeandT1ingeologicalsamplesbyinductivelycoupledplasma—massspectrometry(ICP-MS)wasdeveloped．Thesampledissolutionconditionsandi

5、nstrumentmeasurementparameterswereoptimizedthroughexperiments．Thedetectionlimitsofthemethodfortheseelementswereintherangeof0．0013～0．063Ixg／gwiththeprecisionof2．00％～4．87％RSD(n=11)．Themethodprovidestheadvantagesofhighsensitivityandaccuracy，simpleoperati

6、on，higheficiencyandissuitablefortheroutineanalysisofscatteredelementsofCr，Ga，In，TeandT1ingeologicalsamples．Keywords：inductivelycoupledplasma—massspectrometry；geologicalsamples；scatteredelement近年来，电感耦合等离子体质谱法(ICP—MS)cd、Ga、In等，黄铜矿和硫砷铜矿经常富含Te、Tl的应用日益广泛，涉

7、及地质、冶金、环境等多个领等元素，其信息在岩石成因和地球化学等地质环境域，并以其快速多元素同时测定、线性动态范围宽、中具有重要意义J。简便、快速、准确测定岩石精密度高、准确度好、检出限低等优点备受分析者及土壤样品中的Cd、Ga、In、Te、T1也是地质实验测的关注¨。稀散元素在自然界中主要以分散状试工作要解决的重要内容之一。态存在于有关的金属矿物中，如闪锌矿一般都富含目前检测Cd一般采用四酸溶样一石墨炉原子收稿日期：2010-03—22；修订日期：2010-04-01作者简介：李国榕(1987一)

8、，女，内蒙古呼和浩特市人，在读硕士研究生，化学专业。E—mail：779230678@qq．com。通讯作者：王亚平(1956一)，男，山西定襄人，研究员，从事环境地球化学研究和分析测试工作。E—mail：wangyaping@eags．net．CII。．—．——255．——第3期岩矿测试httpffWrCCW．ykcs．no．el2010正吸收光谱法分别测定，这种方法为单元素测定，效1．3实验方法率较低。文献[10]采用王水溶样一ICP—MS法同1．3．1样品前处理时测定Cd、I