统计公差分析.ppt

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1、统计公差设计概要·什么是统计公差设计?-利用统计学的知识。基于产品的变差分布,和多重分布组合对产品设计结果的影响,来确定产品的名义尺寸和定义合理的公差。·为什么使用统计公差?-强调系统性的理解设计要求。-减低设计不足或设计过剩的风险。-合理定义零件的公差要求。-减少设计的重复计算和后续设计更改次数。-面向变差的设计,有别于常规设计。·使用统计公差至少有以下好处:-可以尽可能的避免设计过剩,降低产品的制造成本。-通过理解变差的概念,减少设计的重复计算和后续设计更改次数。·统计公差有哪些输入?-理解客户要求。-理解系统或产品的设计理论值(名义值

2、)。-过程能力数据。-过程公差。·前提,风险和需要考虑的方面:-前提1,知道客户的要求。-前提2,知道输入与输出的关系。-前提3,制造过程受控并能保持要求的过程能力,或满足公差要求。-要求工艺和技术协同设计工作。磁盘盒子的统计公差设计练习传统公差塑料磁盘盒子(内置10个磁盘)最差的情况会是怎么样呢?发生最差情况的可能性有多大呢?3.175±0.12733.274±0.254注:33.274=(3.175+0.127)x10+0.254如果我们假设磁盘和盒子的制造过程能力在±3σ水平,那么磁盘厚度尺寸的分布如下图:注1:3.175+0.127

3、=3.302mm3.175-0.127=3.048mm注2:=0.0423mm99.73%的磁盘有0.135%的磁盘厚度>3.302mm-3有0.135%的磁盘厚度<3.048mm+3公差上限公差下限传统公差一个磁盘厚度超过公差上限(3.302mm)的可能性是0.0135%,即0.00135。10个磁盘同时超过厚度公差上限的可能性是:0.00135的10次方=2.0107*=0.000000000000000000000000000020107这个设计好吗?传统公差统计公差让我们从不同的角度看这个问题:尺寸链关系如下图所示如果所有的零件测量

4、结果都符合正态分布。如果知道或能估计每个单独零件的标准差。有了这些信息我们就可以计算“间隙”的名义值和标准差了。磁盘#1磁盘#2磁盘#3磁盘#4磁盘#5磁盘#7磁盘#6磁盘#8磁盘#8磁盘#9磁盘#10间隙盒子“间隙”的标准差等于所有零件标准差的平方和的根(误差传递原理)。我们知道磁盘的制造过程的标准差是0.0423mm(等于公差除以6,即0.127*2/6=0.0423),而盒子的制造过程的标准差是0.0838mm,所以我们能够计算出“间隙”的标准差为:===0.1582统计公差然后,按照可以接受的缺陷率计算出盒子的名义宽度值(基于正态分

5、布的左边分布,单边概率)。使用正态分布的Z表查出缺陷率对应的是几个水平(见附表)。-假设我们准备接受0.01%的缺陷率。·查Z表可得概率为0.0001时(1.0E-4)·数学期望值Z=3.72·乘以Z值,计算得出“间隙”的名义值为:3.72x0.1582=0.5885·所以,盒子宽度的名义值应该是31.75+0.5885=32.3385结论:相比按照传统方法设计的盒子宽度33.274,哪个更好呢?统计公差99.9999%的合格率相当于0.0001%,即P(失效)=1.0E-6查Z表,可得Z=4.76.所以,“间隙”的名义尺寸为Z=4.76*

6、0.1582=0.7530盒子的名义宽度=31.75+0.7530=32.503练习如果要求99.9999%的合格率,计算盒子的名义宽度。+)0.⁵=0.2032-31.75=0.4826Z=0.4826/0.2032=2.38P(Z=2.38)=8.66*0.866%不良率(99.134%良品率)+)0.⁵=0.18540.127Z=0.4826/0.1854=2.60P(Z=2.60)=4.66*0.466%不良率(99.534%良品率)假设现有模具能生产出的盒子的名义宽度值为32.2326mm,标准差盒子为0.1524mm。请计算能够

7、预期的装配缺陷率。如果我们能把标准差盒子降低到0.127,结果会怎样呢?注:制造过程的标准差由0.1524降到0.127,装配不良率从8,660PPM降到了4,660ppm。产品装配不良率改善了46%!!!总结采用传统的公差尺寸计算方法,只是考虑到了理论上最差或者最好的情况,与现实是脱离的。当以磁盘的厚度及公差为依据,来设计盒子的宽度时,由于传统尺寸链公差计算方法考虑了理论上的最差情况,导致盒子的宽度过宽,磁盘装入后间隙太松,表现为设计不足问题。(UnderDesign)当以盒子的宽度及公差为依据,来设计磁盘的厚度时,为了保证合适的间隙,又

8、会导致对磁盘的公差定得太小,直接导致磁盘的制造要求提高,成本上升,表现为设计过头。(OverDesign)采用统计公差设计,考虑到了实际制造过程的能力和零件制造变差的分布,设计出

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