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时间:2020-02-02
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1、規格數據實例研究案例─計算規格上限與下限允差設計驗證規格方法說明─主講人:林秀雄教授規格數據位置1-9位置1綜合建議位置1σs管制圖位置1σa管制圖位置1直方圖位置1Xbar-R圖如何計算出合理規格(1)由Cpk公式中:Cpk=(規格上限–Xbar)/3σa或(Xbar-規格下限)/3σa兩者取小值我們得知,當我們的Cpk值訂為1.5時,其規格上限、規格下限如何計算出來?1.5=(規格上限–304.562)/(3×0.058)規格上限=304.562+(1.5×(3×0.058))規格上限=304.8231.5=(304.562–規格下限)/(3×0.058)規格下限=30
2、4.562–(1.5×(3×0.058))規格下限=304.301如何計算出合理規格(2)由品管SIXSIGMA理念中我們得知當σa=σs時,PPM=3.4趨近於零缺點,因此由已知之中心值±6σa來訂定規格上限、下限。例如:位置1其中心值(Xbar)=304.562,σa=0.058,計算其規格上限、規格下限?Xbar+6σa=304.910….規格上限Xbar-6σa=304.214…..規格下限計算其Cpk、PPM?Cpk=2.00、PPM=2修改後位置1綜合建議修改後位置1σs管制圖修改後位置1σa管制圖修改後位置1直方圖管制圖修改後位置1Xbar-R管制圖位置2綜合
3、建議
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