《ic test timing测试时序》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库。
1、测试周期 测试周期(testcycle或testperiod)是基于器件测试过程中的工作频率而定义的每单元测试向量所持续的时间,其公式为:T=1/F,T为测试周期,F为工作频率。 每个周期的起始点称为timezero或T0,为功能测试建立时序的第一步总是定义测试周期的时序关系。 输入数据 输入数据由以下因素的组合构成: l 测试向量数据(给到DUT的指令或激励) l 输入信号时序(信号传输点) l 输入信号格式(
2、信号波形) l 输入信号电平(VIH/VIL) l 时序设置选择(如果程序中有不止一套时序) 最简单的输入信号是以测试向量数据形式存储的一个逻辑0或逻辑1电平,而代表逻辑0或逻辑1的电平则由测试头中的VIH/VIL参考电平产生。 大部分的输入信号要求设置为包含唯一格式(波形)和时序(时沿设定)的更为复杂的数据形式,主程序中会包含这些信息并通过相应的代码实现控制和调用。 一些老的测试机是资源分享结构,这意味着测试硬件可同时提供的输入时序、格式、电平都是有