高分辨XRD测量及分析方法

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时间:2019-11-26

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1、HRXRD测量及分析方法衍射基本原理布拉格公式:2dsinnX射线衍射仪X射线衍射是一种无损的研究材料结构的方法,高分辨X射线衍射(HRXRD)非常适合研究单晶和外延膜等晶体取向很好的材料。Cu(Kα)源样品台单色器探测器HRXRD基本光路图XRD图解扫描模式uOmega-scanuOmega-2thetascanuPhi-scanuChi-scanRockingCurveScan(ω扫描)ω扫描,也称摇摆,就是探测器固定在2θ位置,样品在θ左右摇摆,这时候探测器前面不加狭缝,处于开口状态。Omega-2theta(θ-2θ)扫描θ-2θ扫描,也叫联动,就是样品和探测器都在转

2、动,从衍射峰位可以确定样品的晶格常数,从而确定外延膜样品晶格的应变。这时,探测器前一般要狭缝。衍射峰的半高宽与薄膜的厚度、组分及应变的不均匀性有关。Phi-scanφ扫描:取与样品表面有一定夹角的晶面衍射,如六方ZnO的表面为(0001),(1011)面与表面的夹角χ为61.60º,先将样品倾斜61.60º,然后样品绕表面法线旋转360º,是为φ扫描,可以观察(1011)面衍射的空间分布。极图极图:样品从0º-90º逐步倾斜,每一步倾斜,做φ扫描,一系列φ扫描的数据合起来作图,就可以得到极图。可以研究特定的衍射,即固定的θ-2θ,在空间两个方位(φ和χ)上的分布。六方晶系的(000

3、1)标准极图(c/a=1.863)

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