【精品】常用材料测试方法总结

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1、成分分析:成分分析按照分析对象和要求可以分为微量样品分析和痕量成分分析两种类型。照分析的目的不同又分为体相元索成分分析、表面成分分析和微区成分分析等方法。体相元素成分分析是指体相元素组成及其杂质成分的分析，其方法包括原子吸收、原子发射ICP,质谱以及X射线荧光与X射线衍射分析方法；其屮前三种分析方法需要对样品进行溶解后再进行测定，因此属于破坏性样品分析方法；而X射线荧光与衍射分析方法可以直接对固体样品进行测定因此又称为非破坏性元索分析方法。表面与微区成份分析：X射线光电子能谱(X-rayPhotoelectronSpectroscopy,XPS)；(10纳米,表面)俄歇电子能谱(Auge

2、relectronspectroscopy,AES)；(6nm,表面)二次离了质谱(SecondaryIonMassSpectrometry,SIMS)；(微米，表面)电子探针分析方法；(0.5微米，体相)电镜的能谱分析；(1微米，体相)电镜的电子能量损失谱分析；(0.5nm)为达此冃的成分分析按照分析手段不同乂分为光谱分析质谱分析和能谱分析。1.光谱分析：主要包括火焰和电热原子吸收光谱AAS,电感耦合等离子体原子发射光谱ICP-OES,X・射线荧光光谱XFS和X・射线衍射光谱分析法XRD；(1)原子吸收光谱(AtomicAbsorptionSpectrometry,AAS)又称原子吸收

3、分光光度分析。原子吸收光谱分析是基于试样蒸气相屮被测元索的基态原子对由光源发出的该原子的特征性窄频辐射产生共振吸收，其吸光度在一定范围内与蒸气相中被测元素的基态原子浓度成正比，以此测定试样中该元素含量的一种仪器分析方法。原子吸收分析特点：(a)根据蒸气相屮被测元素的基态原子对其原子共振辐射的吸收强度來测肚试样中被测兀素的含量；(b)适合对纳米材料中痕量金属朵质离子进行定量测定，检测限低，ng/cm3,10-10一10-14g；(c)测量准确度很高，1%(3—5%)；(d)选择性好，不需要进行分离检测；(e)分析元索范围广，70多种；应该是缺点(不确定)：难熔性元索，稀土元素和非金属元素，

4、不能同时进行多元素分析；(1)电感耦合等离子体原子发射光谱(Inductivelycoupledplasmaatomicemissionspectrometry,ICP-AES)ICP是利用屯感耦合等离子体作为激发源，根据处于激发态的待测元素原子回到基态时发射的特征谱线对待测元素进行分析的方法；可进行多元索同时分析，适合近70种元素的分析；很低的检测限，一般可达到10"〜10”g/cm3稳定性很好，精密度很高，相对偏差在1%以内，定量分析效果好；线性范围可达4〜6个数量级；但是对非金属元素的检测灵嫩度低。(2)X■射线荧光光谱(X-rayfluorescencespectrometry,

5、XFS)是一种非破坏性的分析方法，可对固体样品直接测定。在纳米材料成分分析中具有较人的优点；X射线荧光光谱仪有两种基本类型波长色散型和能量色散型；具有较好的定性分析能力，可以分析原子序数大于3的所有元素。木低强度低,分析灵敏度高,其检测限达到10-5~10-9g/g＜或g/cn?)；可以测定几个纳米到几十微米的薄膜厚度。(3)X■射线衍射光谱分析法(X-raydiffractionanalysis,XRD)1.质谱分析：主要包扌舌电感耦合等离子体质谱ICP-MS和飞行时间二次离子质谱法TOF-SIMS(1)电感耦合等离子体质谱(inductivelycoupledplasmamasssp

6、ectrometry,ICP-MS)ICP-MS是利用电感耦合等离子体作为离子源的一种元素质谱分析方法；该离子源产生的样品离子经质谱的质量分析黠和检测器后得到质谱；检出限低(多数元索检出限为ppb-ppt级)；线性范围宽(可达7个数量级)；分析速度快(1分钟可获得70种元素的结果)；谱图干扰少(原子量相差1可以分离)，能进行同位索分析。(2)E行时间二次离子质谱法(TimeofFlightSecondaryIonMassSpectrometry,TOF-SIMS)是通过用一次离子激发样品表而，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨

7、率的测量技术。工作原理：1・利用聚焦的一次离子朿在样品上进行稳定的轰击，一次离子可能受到样品表面的背散射(概率很小)，也可能穿透固体样品表面的一些原子层深入到一定深度，在穿透过程屮发生一系列弹性和非弹性碰撞。一次离子将其部分能量传递给晶格原子，这些原子屮有一部分向表面运动，并把能量传递给表面离子使之发射，这种过程成为粒子溅射。在一次离子束轰击样品时，还有可能发生另外一些物理和化学过程：一次离子进入晶格，引起晶格畸变；在具有吸附层覆盖