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1、千分尺的使用和校准CTI检测机构校准实验室齐凡通用量具知识讲解内容千分尺的概述1千分尺的结构、工作原理和读数2千分尺的校准和技术要求3千分尺的正确使用和注意事项4千分尺----概述特点：符合阿贝原理、精度高、使用方便阿贝原理：被测量线应与测量线相重合或在其延长线上外径千分尺的分度值一般为0.01mm和0.001mm,移动量为25mm.有测力装置,保持恒定的测量力.千分尺的分类和结构千分尺的分类和结构千分尺的分类和结构千分尺的分类和结构数显外径千分尺固定测砧微分丝杆紧固螺钉微分筒测力装置数字显示屏功能按钮隔热装置千分尺的工
2、作原理和读数方法工作原理:运用螺旋副传动原理，借助测微螺杆与螺母配合，将螺杆的回转运动变为直线运动，从固定套管和微分筒上读出长度尺寸。读数原理:微分筒读数以固定套管的纵刻线为基准线，纵刻线上下有50个分度，每个分度为0.5mm.微分筒圆周刻有50个等分,测微螺杆的螺距为0.5mm,微分筒旋转一周.微分螺杆移动0.5mm,微分筒旋转一个分度时（1/50转）测微螺杆移动0.01mm.千分尺的工作原理和读数方法读数举例：5051005.544mm8.465mm千分尺的校准和技术要求按现行有效版本JJG21-2008主要校准设备
3、3、4等量块（专用量块）平面平晶、平行平晶、刀口尺专用测力仪杠杆千分表、百分表,塞尺，立式接触式干涉仪或测长机校准所需设备实物图示千分尺的校准和技术要求校准项目、方法及通用技术要求一、外观和各部分相互作用:目力观察和手动试验二、测微螺杆的轴向窜动和径向摆动：手感检查必要时使用杠杆千分尺检查（）要求≤0.01mm千分尺的校准和技术要求三、测力：用分度值不大于0.2N的专用测力计测力应为（5～10）N四、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离：用0.4mm的塞尺置于固定套管上比较测量（≤0.4mm）五、微分筒锥面的端面与
4、固定套管毫米刻线的相对距离：当测量下限调整正确后，读取微分筒的零刻线与固定套管纵向刻线右边缘的偏移量要求：压线≤0.05mm离线≤0.1mm千分尺的校准和技术要求六、测量面的平面度:用平面平晶以技术光波干涉法对于后续校准的可用刀口尺以光隙法要求:外径千分尺≤0.6um壁厚、板厚千分尺≤1.5um数显外径千分尺≤0.3um七、数显外径千分尺的示值重复性：在相同条件下重复测量5次分别读数，以最大与最小读数差确定要求：≤1um千分尺的校准和技术要求八、两测量面的平行度：测量上限至100mm用平行平晶检查，或可用量块检查。采用量
5、块时，其4块尺寸差为1/4螺距，每个量块以其同一部位放入下图所示的测量面间的4个位置上分别读数，以四组差值中最大值来确定。要求：见下表千分尺的校准和技术要求千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平行度测量范围/mm最大允许误差/um（外径/数显）两测量面的平行度/um（外径/数显）0～25,25～50±4/±22/1.550～75,75～100±5/±33/2.0100～125,125～150±6/±34/2.5150～175,175～200±7/±45/3.0200～225,225～250±8/±46/3.5250～27
6、5,275～300±9/±57/4.0300～325,325～350±10/±69/5.0350～375,375～400±11/±6400～425,425～450±12/±711/6.0450～475,475～500±13/±7千分尺的校准和技术要求九、示值误差:外径（壁厚、板厚）用5等量块,数显用4等量块校准.或用千分尺专用量块.在测量范围内均匀分布5点放入量块直接测量.(A+5.12,A+10.24,A+15.36,A+21.50,A+25.00)A---测量下限值示值误差要求上表千分尺的校准和技术要求十、数显千分尺
7、的细分误差:在任意位置上,沿测量方向转动微分筒,每间隔0.04mm检查一次,共计12次,分别读出各受检点数显值与微分筒读数值之差,以其最大差值确定.要求≤±2um十一、校对用量杆（尺寸及变动量）:外径:在光学计或测长机上用4等量块以比较法数显:在光学计或测长机上用3等量块以比较法尺寸:如图所示5点中最大偏差变动量:如图所示5点中最大与最小尺寸之差千分尺的校准和技术要求千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量校对量杆标称尺寸/mm尺寸偏差/um（外径/数显）变动量/um（外径/数显）25,50±21.25175±31.51.51
8、100±3221125±42.521.5150±42.52.51.5175±52,52.51.5200±53.53.51.5225,250±63.53.51.5275,300±743.52325,350,375,400±94.542.5425,450,475±11553千分尺的正确使用和注意事项测量前应将测量面及被测
