千分尺校准教程

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1、千分尺千分尺检定规程（JJG21-2008）千分尺的检定或校准一、范围本规程适用于分度值为0.01mm，测量上限至500mm的外径千分尺;测量上限至25mm的板厚、壁厚千分尺；以及分辨力为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次检定、后续检定和使用中检验。二、概述千分尺是由尺架、测砧、测微螺杆、测力装置、锁紧装置和读数装置等组成。如图所示：二、概述二、概述二、概述二、概述二、概述三、计量性能要求1、测微螺杆的轴向串动和径向摆动测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。2、测砧与测微螺杆测量面的相对偏移测砧

2、与测微螺杆测量面的相对偏移量应不超过表1规定。表1测砧与测微螺杆测量面的相对偏移量mm三、计量性能要求三、计量性能要求3、测力千分尺的测力（系指测量面与球面接触时所作用的力）应为（5～10）N。4、刻线宽度及宽度差微分筒刻线宽度为（0.08～0.20）mm，固定套管上的刻线与微分筒上的刻线的宽度差均应不大于0.03mm。带刻度盘的刻线宽度为（0.20～0.30）mm，其宽度差应不大于0.05mm三、计量性能要求5、指针与刻度盘的相对位置板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30%～80%，指针末端上表面至刻线度盘表面的距离应不大于0.

3、7mm。指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。6、微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离微分筒锥面棱边至固定套管刻线表面的距离应不大于0.4mm。三、计量性能要求7、微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。三、计量性能要求8、测量面的平面度外径千分尺测量面的平面度度应补大于0.6μm。壁厚千分尺、板厚千分尺测量面的平面度应不大于1.5μm。数显外径千分尺测量面

4、平面度应不大于0.3μm。9、数显外径千分尺的示值重复性数显外径千分尺的示值重复性不大于1μm。三、计量性能要求10、数显外径千分尺任意位置时数值漂移应不大于1μm/h。11、两测量面的平面度外径千分尺锁紧装置紧固与松开时，千分尺两工作面的平行度均应不超过表2规定。三、计量性能要求表2外径千分尺示值的最大允许误差及两侧量面的平面度测量范围/mm最大允许误差/μm两测量面的平行度/μm0～25，25～50±4250～75，75～100±53100～125，125～150±64150～175，175～200±75200～225，225～250±8625

5、0～275，275～300±97300～325，325～350±109350～375，375～400±11400～425，425～450±1211450～475，475～500±13三、计量性能要求板厚千分尺两测面的平行度应不超过4μm数显外径千分尺两测面的平行度应不超过表3规定。三、计量性能要求表3数显外径千分尺示值的最大允许误差及两测量面的平面度5±6300～325，325～350350～375，375～4006±7400～425，425～450450～475，475～5004±5250～275，275～3003.5±4200～225，225～

6、2503±4150～175，175～2002.5±3100～125，125～1502.0±350～75，75～1001.5±20～25，25～50两测量面的平行度/μm最大允许误差/μm测量范围/mm三、计量性能要求12示值误差外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表2规定。壁厚千分尺、板厚千分尺示值的最大允许误差应不超过±8μm。数显外径千分尺示值的最大允许误差应不超过表3规定对于测量上限大于150mm的千分尺可只检测微头示值误差，测微头各点相对零点的示值最大允许误差不超过±3μm。三、计量性能要求13数显外径千分尺细分误差数显外径千分尺数显装置的

7、细分误差应不超过±2μm。14校对用的量杆14.1外径千分尺校对用的量杆外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表4规定。三、计量性能要求表4外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量校对量杆标称尺寸/mm尺寸偏差/μm变动量/μm25，50±2175±31.5100±32125±42150±42.5175±52.5200±53.5225，250±63.5275，300±73.5325，350，375，400±94425，450，475±115三、计量性能要求14.2数显外径千分尺校对用量数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量应不超过表5规定

8、。三、计量性能要求表5数显外径千分尺校对用量杆的尺寸偏差和变动量标称尺寸/mm尺寸偏差/μm变动量/μm25，50±1.2