资源描述：
《品质管制统计方法SPC》由会员上传分享，免费在线阅读，更多相关内容在行业资料-天天文库。
1、品質管制之統計方法-----SPC快速學習一.統計方法的意義統計製程管制(StatisticalProcessControl)規劃資料的搜集,整理解釋資料,並據以導出結論或予以推廣的過程,稱為統計方法(StatisticalMethods).傳統的製造方法是製造負責生產,品管負責成品檢查並剔除不良品的方式來處理產品之品質,而在管理方面,則不斷的稽核工作情形以發現缺失,雖然各公司從事大量的此類工作,但實際上對品質水準的提昇毫無助益,因事后的查檢往往是無濟於事且不經濟的,因為生產的浪費已經是既成的事實了.若想要提昇產品品質水
2、準,均應設計導入,執行統計製程管制(SPC),即在生產當初就避免不良品的發生,將是更積極且有效的方法.二.建立統計製程管制的步驟1.確定製造流程2.製造流程解析(利用5W1H)3.決定管制項目4.實施標準化5.管制圖的運用6.製程能力解析7.問題分析解決8.製程之繼續管制三.管制圖的益處善用管制圖,則管制圖可以1.直接由操作人員繪制管制圖,而管制製程.2.使製程穩定,且可以預測而掌握品質與成本.3.幫助製程,使達到:(1)更好的品質(2)降低單位成本(3)使產量有效應用4.作為討論解決製程問題的工具.5.可使工業生產之[
3、設計][製造][檢驗]三個階段連成一體,並解決生產過程中的問題.四.管制圖(ControlChart)管制圖是一種用於調查製造程序是否在穩定狀態下,或者維持製造程序在穩定狀態下所用的圖.管制圖管制界限的確定,是根常態分配的性質,中心線是常態分配的平均數,管制上限是平均數加上三倍的標準差,管制下限則為平均數減去三倍的標準差,即所謂常態的三個標準差準則.五.管制圖點會原則依照下述這些原則點會管制圖,容易整齊劃一有助於資料之整理與研究.1.製程名稱,管制特性,測定單位,規格值,設備號碼,操作者,抽樣方法,樣本數,期間,製程要因
4、(人員,設備,材料,方法,環境)之任何變更等資料需清楚填入,以便資料之分析整理.2.中心線(CL)記以實線,管制上限(UCL)及管制下限(LCL)記以虛線,中心線及管制上下限,分別記入其數值及CL,UCL,LCL等符號.3.CL,UCL,LCL之位數比測定位數多兩位即可.4.根據UCL與LCL距離決定座標.六.名詞解釋:1.群體,PopulationN吾人用以判定一群類似的項目數量。2.樣品,Samplen由一群類似的項目中隨機抽取代表性的小部份數量3.規格界線:品質特性之最大許可值4.管制界線:探討製程變異之準則5.機
5、遇原因:不可避免之原因,非人為原因,不易控制之原因6.非機遇原因:可避免之原因,人為原因,異常原因,特殊原因,可控制原因7.平均值,Mean(Average)X-bar抽樣中,其所有讀數的總和除以其共有多少讀數8.規格中心Meanofspecification,μ設計者之理想(規格中心)值9.標準差,StandardDeviationσ(Sigma)一種(與群體)平均值所產生的平均偏差10.變異數,VarianceV=σ*σ偏差平方和的平均數(標準差的平方)11.全距,RangeR最大讀值與最小讀值的差值七.管制圖之種類
6、:依用途來分類:管制用管制圖-維持製程在穩定狀態中解析用管制圖-調查製程是否處於穩定狀態依數據性質來分類:計量值管制圖(ControlChartsforVariables)數據由量具實際量測而得,數值為連續性的計數值管制圖(ControlChartsforAttributes)數據由單位計數而得,數值為離散性的計量值管制圖平均值與全距管制圖(X-bar-R)平均值與標準差管制圖(X-bar–S)中位值與全距管制圖(X-R)個別值與移動全距管制圖(X-Rm)計數值管制圖不良率管制圖(p-chart)不良數管制圖(np-ch
7、art)缺點數管制圖(c-chart)單位缺點數管制圖(u-chart)1.平均值與全距管制圖(X-bar-R)適用製程:可用以管制分組之計量數據,即每次同時取得幾個數據之工程如長度,重量,濃度,成份,強度,電壓,電阻等.是把握工程狀態最有效的一種管制圖.2.中位值與全距管制圖(X-R)適用製程:與上相同,但檢出率較差,故不常用3.個別值與移動全距管制圖(X-Rm)適用製程:以上兩種皆不能完成,耗用時間很多方能完成,屬極為均勻一致之產品(氣體,液體),破壞性實驗或測量不易,產品係非常貴重之物品,產量不大,批量很小.4.平
8、均值與標準差管制圖(X-bar–S).適用製程:與X-bar–R管制圖一樣,但N>10時,則使用X-bar–S管制圖.5.不良率管制圖(p-chart)適用製程:以計數表示之特性,換言之其數據僅有兩種類別,如合格/不合格,可以/不可以,通過/不通過.6.不良數管制圖(np-chart)適用製程:基本上與P管制圖相等,
