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1、版本日期修改原因A/02011-01-25首次发行发行审核批准部门品管部品管部主管管理者代表日期2011-01-22签名受控状态(盖章处)分发号分发日期2011-01-25实施日期2011-02-01目录1、目的----------------------------------------------------------------2-22、适用范围----------------------------------------------------------------2-23、定义------------------
2、----------------------------------------------2-24、职责----------------------------------------------------------------2-25、工作程序----------------------------------------------------------------2-81.Objective目的在相关的过程使用控制图和过程能力指数,确保过程具有能力,从而预防缺陷的产生。2.Scope适用范围适用于控制计划中规定的过程
3、。3.TermsandDefinition定义无4.Responsibilities职责4.1制造部负责X-R图的使用.4.2品管部负责PPK及CPK值,并负责X-R图的相关使用人员的培训.4.3行政人事部负责培训的计划安排及组织5.Procedure工作程序5.1说明5.1.1本公司目前只适用使用X-R图,所以本标准书规定使用的控制图特指X-R图。5.2控制图格式5.2.1采用美国三大汽车之标准格式,若有客户要求时,则采用客户的规定格式。5.3描绘控制图的具体步骤5.3.1收集数据a.选择子组大小.频率和数据*子组大小本公司的X
4、-R图的子组大小为5,即每次连续抽5个产品.*子组频率一般情况下,为25组以下b.建立控制图及记录原始数据由控制图使用者将相关的日期/时间/度数/X-R等记录于客户的规定格式中.c.计数每个子组的均值(X)和极差(R)按下列公式计算,并将结果记录于客户的规定格式中的相关字段.X1+X2+……XnnX=------------------R=Xmax–Xmind.选择控制图的宽度X图上的坐标之max–min=2x(max-min),R图上的坐标之最大刻度值=2Xrmaxe.将均值X和极差R画到控制图上。5.3.2计数控制限a计算平均
5、极差(R)及过程平均值(X)R1+R2+……+RKKR=----------------------K為子組的數量X1+X2+……XKKX=----------------------b计算控制限UCLR=D4╳RUCLX=X+A2╳RLCLR=D3╳RLCLX=X-A2╳R式中之D4.D3及A2为常数c在平均值(X)和极差图(R)中用水平虚线将各自的控制限画上去,在初始研究阶段,这些控制限叫试验控制限。5.4过程控制解释5.4.1分析极差图(R)上的数据点a超出控制限的点----出现一个或多个点超出任何一个控制限,是该点处于失控
6、状态的主要证据.因为在只存在普通原因引起变差的情况下,超出控制限的点会很少,我们便假设该超出的是由于特殊原因造成的,因此,任何超出控制的点是立即进行分析,找出存在的特殊原因的信号.超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种:*控制限计算错误或描点时描错:*零件间的变化性或分布的宽度已经增大(即变坏),这种增大可以发生在某个时间上,也可能是整个趋势的一部分;*测量系统变化(例如,不同的检验员或量具):*测量系统没有适当的分辨力.有一点位于控制限之下(对于样本容量大于等于7的情况),说明存在下列情况的一种或几种:*控制限或
7、描点错误;*分布的宽度变小(即变好)*测量系统已改变(包括数据编辑或变换)b链------有下列现象之一表明过程已改变或出现这种趋势:*连续7点位于平均值的一侧;*连续7点上升(后点等于或大于前点)或下降;高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或全部:*输出值的分布宽度增加,其原因可能是无规律的(例如设备工作不正常或固定松动)或是由于过程中的某个要素变化(例如,使用新的不是很一致的原材料),这些都是常见的问题,需要纠正；*测量系统改变(例如,新的检验员或量具)低于平均极差的链,或下降链表明存在下列情况之一或全部:*输出值分布
8、宽度减小,这常常是一个好状态,应研究以便推广应用和改进过程:*测量系统改变,这样会遮掩过程真实性能的变化.注:当子组数(n)变得更小(5或更小)时,低于R的链的可能性增加,则8点或更多点组成的链才能表明过程变差减少.c.明显的非随机图形:各点于与R
