《DOE分析案例》PPT课件

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1、改善SC312FT測試穩定性測試一廠R340黃敬晉中正大學電機系華邦電子測試二廠測試工程師林廷慶台灣技術學院機械系華邦電子測試二廠測試工程師許瑞仁義守大學電子系華邦電子測試二廠測試工程師R340DOEIMPROVETEAMOUTLINE現況分析要因分析第一階段實驗第二階段實驗第三階段再現性實驗標準化選題理由SC312TESTERFT測試容易發生兩頭差異，使得機台穩定性不佳。因兩頭差異的產生，造成良率loss，批結良率不高。利用“D.O.E”手法，找出最佳生產條件，以提升測試效率。現況分析R340現況分

2、析(1)SC312測試FT7/8/9月各機台MTBF比較TestingI/R340現況分析(2)TestingI/R340現況分析(3)TestingI/R340SC-4測試SB55213/4/5/6/7/8月平均良率預期目標求穩–1.機台MTBF>1500分鐘2.兩頭差異當機INDEX貢獻<2.0%求準–1.正批測試良率(批結不重測)>97%TestingI/R340要因分析R340特性要因圖為何FT測試會有兩頭差異Tester有問題PE/card有問題PE/card品質不良PE/cardlevel

3、shiftTestheadmount機不佳Head與handlermount機位置不佳Tester位置不佳head沒水平Head水平位置不正支撐架支撐不當太緊太鬆Contact不良Contact壓力不當太大太小Socket不良Socket阻值太大測太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測太久變形Contactblade不良壓痕太深壓座損壞Contactblade安裝不良墊片厚度不當線貨有問題包裝有問題膠體太厚膠體太薄POGOpin有問題凹陷線貨yield不佳太厚太薄測太久壓2顆ICContact壓

4、力太大L/Board有問題L/B上焊點不佳L/B斷線豐田原則像話原則特性要因圖為何FT測試會有兩頭差異Testheadmount機不佳Head與handlermount機位置不佳Tester位置不佳head沒水平Head水平位置不正支撐架支撐不當太緊太鬆Contact不良Contact壓力不當太大太小Socket不良Socket阻值太大測太久氧化沾有異物Socket損壞壓2顆IC測太久變形Contactblade不良壓痕太深壓座損壞Contactblade安裝不良墊片厚度不當太厚太薄測太久壓2顆ICC

5、ontact壓力太大豐田原則像話原則要因分析TestingI/R340實驗因子篩選表因子選擇步驟一:控制力篩選步驟二:技術性篩選母數1.水準可被指定2.指定之水準有自主權策略一:第一階段實驗–篩選主要因子策略二:第二階段實驗–找出最佳生產條件策略三:再現性實驗實驗策略有清楚的實驗策略比急著去做實驗更重要第一階段實驗R340直交配置TestingI/R340實驗因子篩選表實驗策略:篩選主要因子第一階段實驗目的:篩選因子因子:多水準:少ANOVA結果:顯著建議配置:2N型(L16)直交配列表Testing

6、I/R340121315104121411356GBAFDCe798L162點線圖15ExperimentPlan實驗隨機編號實驗配置順序A-SupporterB-Tester水平角度C-Socket測試次數D-DropIn測試F-Machine速度G-Contact壓力14A1B1C1D2F2G125A2B1C2D1F2G1311A1B2C1D2F1G2412A2B1C1D2F2G2514A2B2C2D1F1G262A2B2C1D1F2G171A1B1C1D1F1G188A2B1C2D2F1G199

7、A2B1C1D1F1G2103A2B2C1D2F1G11116A1B1C2D2F1G2126A1B2C2D1F1G1137A1B2C2D2F2G11410A1B2C1D1F2G21513A1B1C2D1F2G21615A2B2C2D2F2G2TestingI/R340TestingResultTestingI/R340ANOVAanalysis(1)TestingI/R340St=4725.00@(%).=81.69%St=3263.75@(%).=86.74%Yield_DifferentANOVA

8、分析表TotalYieldANOVA分析表ANOVAanalysis(2)TestingI/R340TotalYieldVARIANCEYield_DifferentVARIANCEANOVAanalysis(3)TestingI/R340Totalyield貢獻度柏拉圖Yield_different貢獻度柏拉圖TestingI/R340ANOVAanalysis(4)Total_yield交互作用分析Yield_different交互作用分析Testi