X射线荧光分析在矿石分析中的应用

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1、EDXRF应用报告矿石分析基本参数法#1034摘要此应用采用理学RPF-SQX基本参数法对Rocklabs公司的三个岩石标样进行分析，展示了仪器的优越性能。样品类型为松散粉末和压制样品。应用背景元素分析在矿业应用中主要包括有三个方面：1，分析采石场及矿区的岩石和矿石样品；2，在选矿、萃取方法的选择及过程控制等中的元素分析；3，痕量元素特别是贵重金属分析等。纵观整个采矿的流程，各个环节都需要一种快速方便又不需大量的标样进行仪器校准的分析方法，以适应各种矿物样品类型的需求。理学推出的NEXCGEDXRF分析仪完全有能力满足这些工业需求。NEXCG采用间接偏振激发，操作简单，适用于非专业操作人员；而

2、对于行业专家及专业人士，NEXCG同样是一款功能强大的研究工具。仪器型号:RigakuNEXCG光管:50W钯电极靶：标靶和轻元素靶检测器:硅漂移（SDD）检测器样品:压片样品和松散粉末分析时间:500秒分析室环境:充氦气或真空标配样品盘:15位样品盘(32毫米)选购样品盘：10位样品盘(32毫米)选购样品盘：9位自旋样品盘中国总代理：北京兰友科技有限公司BeijingLanyoTechnologyLtd.liuguangke@lanyo.cn·(+8610)51626911·13801015045#EDXRF应用报告1034样品此报告所用样品全部来自Rocklabs公司，且已经鉴定了金元素的

3、含量而其它元素含量为未经鉴定的参考值。样品编号分别为OxP61,OxL63和Oxi67。样品制备样品均为精细研磨、干燥的粉末。精细粉末（<200目）可减少矿物学效应并降低X光的散射。分析粉末样品只需将5克的松散粉末放入样品杯并压紧封好。为获得最佳的分析，需将5克的粉末样品利用水压制成饼状，方法为20吨压力，20-30秒。校准及测量对于粉末和压制饼状样品，采用理学RPF-SQX基本参数模型分别建立两种校准方法。RPF-SQX是一种先进的基本参数程序，能够自动处理谱峰并采用基本XRF方程模拟样品的基质。第一种方法，使用理学散射FP基本的分析模型。理学散射FP通过采用特殊的方式评估不能测量的元素（氢

4、—氟）、X射线源产生的自然散射谱峰和样品的基体优化基体模型。这种方法不需已知的校准标样，适合元素含量的半定量分析。另一种方法是利用两个Rocklabs样品(OxP61andOxi67)建立匹配程序（模型）库来进一步优化结果。建立匹配程序（模型）库所选的样品应与被测的特定基体一致，已知的含量值输入系统并与其强度相关联。匹配程序（模型）库与标准的FP程序（模型）库一起配合使用建立矿石基体模型，并计算出含量。定性谱图–金Oxi67(red),OxL63(green)andOxP61(purple)三个样品的重叠谱图Au-La为了验证匹配程序（模型）库对基体建模的改善，OxL63样品分别用RPF-SQ

5、X和匹配程序（模型）库两种方法测试中国总代理：北京兰友科技有限公司BeijingLanyoTechnologyLtd.liuguangke@lanyo.cn·(+8610)51626911·13801015045#EDXRF应用报告1034RPF-SQX结果–压制样品OxL63ComponentUnitsStandardValueRPF-SQXStatistical%RelativeResultStdDevDifferenceAuug/g5.86516.310.91178%Na2O%6.857.500.049%MgO%2.461.480.0140%Al2O3%17.5716.010.029%S

6、iO2%62.2863.550.032%P2O5%0.230.26<0.0113%K2O%3.363.290.012%CaO%2.402.320.013%TiO2%0.700.62<0.0111%MnO%0.050.05<0.010%Fe2O3%3.743.26<0.0113%Rb2O3%---0.02<0.01---SrO%---0.03<0.01---RPF-SQX与匹配程序（模型）库联用结果–压制样品OxL63ComponentUnitsStandardValueRPF-SQXStatistical%RelativeResultStdDevDifferenceAuug/g5.8655.3

7、80.868%Na2O%6.857.430.058%MgO%2.462.740.0211%Al2O3%17.5716.820.034%SiO2%62.2859.640.034%P2O5%0.230.23<0.010%K2O%3.363.080.018%CaO%2.402.430.011%TiO2%0.700.72<0.013%MnO%0.050.06<0.0120%Fe2O3%3.743.77<0