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时间:2019-03-22
《实验4.利用核磁分析物质的结构实验报告》由会员上传分享,免费在线阅读,更多相关内容在应用文档-天天文库。
1、湖北大学材料科学与工程学院硕士研究生生实验报告课程名称《现代高分子实验》实验项目核磁共振法测聚合物的结构和构型专业班级2008应用化学姓名袁婷婷学号2008111106000508一、实验目的1.了解NMR核磁共振法的测试原理及核磁共振的基本结构。2.掌握核磁共振图谱的分析方法。3.了解核磁共振在化学分析中的应用。4.掌握试样的制备方法。二、实验原理(摘选)核磁共振谱(NMR)与红外、紫外一样,实际上都是吸收光谱,它的频率范围是兆周(MC)或兆赫兹(MHz),属于无线电波范围。红外光谱来源于分子振动-转动能级间的跃迁,紫外—
2、可见吸收光谱来源于分子的电子能级间的跃迁。在NMR中电磁辐射的频率为兆赫数量级,属于射频区,但是射频辐射只有置于强磁场F的原子核才会发生能级间的跃迁,即发生能级裂分。当吸收的辐射能量与核能级差相等时,就发生能级跃迁,从而产生核磁共振信号。核磁共振谱常按测定的核分类,测定氢核的称为氢谱(1HNMR);测定碳-13的称为碳谱(13CNMR)。核磁共振谱不仅给出基团的种类,而且能提供基团在分子中的位置。在定量上NMR也相当可靠。高分辨1HNMR还能根据磁偶合规律确定核及电子所处环境的细小差别,从而研究高分子构型和共聚序列分布等结构
3、问题的有力手段。而13CNMR主要提供高分子碳—碳骨架的结构信息。1.1HNMR的测试原理:当测定1H1核磁共振谱时,将磁铁线圈通电,使磁场达到23847Gs(100MHz的仪器),射频振荡器产生的100MHz无线电波,通过发射线圈照射样品,扫描线圈中通人电流且改变其强度,即改变外磁场强度,当三个互相垂直的线圈不满足共振条件时,接受线圈没有电流通过,如果满足共振条件时,则有电流通过,将它放大记录下来就得到了核磁共振谱图。lH_核磁共振(1H-NMR)也称为质子核磁共振,是研究化合物中1H1原子核(即质子)的核磁共振。可提供化
4、合物分子中氢原子所处的不同化学环境和它们之间相互关联的信息,依据这些信息可确定分子的组成、连接方式及其空间结构。1.1屏蔽作用与化学位移:依照核磁共振产生的条件,由于1H1核的磁旋比是一定的,所以当外加磁场一定时,所有的质子的共振频率应该是一样的,但在实际测定化合物中处于不同化学环境中的质子时发现,其共振频率是有差异的。产生这一现象的主要原因是由于原子核周围存在电子云,在不同的化学环境中,核周围电子云密度是不同的。当原子核处于外磁场中时,核外电子的运动要产生感应磁场,核外电子对原子核的这种作用就是屏蔽作用。实际作用在原子核上
5、的磁场为H0(1–σ),σ屏蔽常数。在外磁场Ho的作用下核的共振频率为:υ=γHo(1-σ)/2π当共振频率发生了变化,在谱图上反映出了谱峰位置的移动,这称为化学位移。由于质子所处的化学环境不同,σ值也不同,在谱图的不同位置上会出现了不同的峰,所以在核磁共振中,可用化学位移的大小来测定化合物的结构。1.2影响化学位移的主要因素:电负性的影响:在外磁场中,绕核旋转的电子产生的感应磁场是与外磁场方向相反的,因此质子周围的电子云密度越高屏蔽效应就越大,核磁共振就发生在较高场,化学位移值减小,反之同理。与质子相连的强电负性基团会使自
6、治的电子云密度减小,使吸收峰移向低场由电负性基团而引发的诱导效应,随间隔键数的增多而减弱。电子环流效应:实际发现的有些现象是不能用上述电负性的影响来解释的,例如乙炔质子的化学位移(σ=2.35)小于乙烯的质子(σ=4.60),而乙醛中的质子的σ值却达到9.79,这需要由邻近基团电子环流所引起的屏蔽效应来解释,其强度比电负性原子与质子相连所产生的诱导效应弱,但由于对质子是附加了各向异性的磁场,因此可提供空间立构的信息。2.耦合常数:在高分辨的仪器上可以观察到更精细的结构,谱峰发生分裂,这种现象称为自旋—自旋分裂。这是由于在分子
7、内部相邻碳原子上氢核自旋也会相互干扰。通过成键电子之间的传递,形成相邻质子之间的自旋—自旋耦合,而导致自旋—自旋分裂。分裂峰之间的距离称为耦合常数,一般用J表示,单位为Hz,是核之间耦合强弱的标志,说明了它们之间相互作用的能量,因此是化合物的结构属性,与磁场强度的大小无关。分裂峰数是由相邻碳原子上的氢数决定的,若邻碳原子氢数为n,则分裂峰数为n+1。三、仪器和试剂VARIAN公司INOVA600型核磁共振仪,由磁体、探头、CONSOLE机柜、SUN工作站、空压机几大部分组成。四、实验步骤1取有机物样品3mg左右放入核磁管中,
8、加入CDCl3溶解。2进入核磁测试区前,先检查身上有无金属物品,磁卡等,确保没有后打开换气扇,使室内N2,He等排出。3选用1H谱探头,调节仪器参数,使之工作稳定(锁场,匀场,调谐)。4将装有样品的核磁管放入金属套管中,再从仪器上部将套管送入仪器测试区。5打开计算机控制软件,调节设定合适的
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