基于扫描设计的集成电路可测试性设计研究

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1、分类号：TP29密级：公开论文编号：2013021046贵州大学2016届硕士研究生学位论文基于扫描设计的集成电路可测试性设计研究学科专业：微电子学与固体电子学研究方向：微电子科学与工程导师：丁召研究生：李健铎中国﹒贵州﹒贵阳2016年6月目录摘要......................................................................................................................................................IAbstract................

2、...............................................................................................................................II第一章绪论.......................................................................................................................................11.1论文选题背景....................

3、.................................................................................................11.1.1SOC现阶段面临的困难..........................................................................................11.1.2SOC测试时间分析................................................................................

4、..................21.2国内外研究现状.................................................................................................................21.2.1国外研究及应用情况.............................................................................................21.2.2国内研究及应用情况..................................

5、...........................................................31.3主要研究工作.....................................................................................................................31.4论文组织架构.......................................................................................................

6、..............4第二章可测性技术...........................................................................................................................52.1扫描设计.............................................................................................................................52.2边界扫描............

7、.................................................................................................................92.3内建自测试....................................................................................