集成电路测试和可测性设计

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1、.集成电路测试和可测性设计ICTestingandDesignforTestability教学大纲课程名称：集成电路测试和可测性设计课程编号：M702004课程学分：3适用学科：集成电路工程、电子科学与技术一、课程性质本课程的授课对象为集成电路工程专业研究生和电子与科学技术专业研究生，课程属性为专业基础必修课（对电子与科学技术专业研究生为专业选修课）。本课程主要讲授集成电路测试尤其是大规模集成电路测试的基本概念、基本方法，数字集成电路测试向量生成算法、可测试性设计、可测试性度量、数模混合信号电路测试方法以及

2、测试设备和测试过程等内容。通过基本思想、基本算法的引入、推导并配以大量的实例进行分析，使学生能够对测试相关理论有全面的理解，并能够利用所学的方法解决实际的电路测试及可测试性设计方面的问题。二、课程教学目的...学生通过本课程的学习，应能够理解集成电路测试及可测性的基本概念、基本思想；掌握重要的测试向量生成算法以及典型的可测性设计的结构；了解集成电路测试的发展趋势及面临的主要问题。通过利用可测性设计方法构建实际的可测性方案，锻炼培养解决测试问题的实践动手能力。同时通过对主要算法的发展历程、思想演变等的学习，培

3、养发现问题、解决问题的能力以及创新思维。为今后从事集成电路测试方面的工程或研究工作打下基础。三、教学基本内容及基本要求第一章测试理论基础教学内容：1.1引言1.2VLSI测试过程和设备教学要求：　　1、掌握：集成电路测试的工作原理和工作过程。　　2、理解：集成电路测试的基本概念。3、了解：集成电路测试的特点，测试技术的发展及现状。第二章测试经济学故障和故障模拟教学内容：2.1测试经济学和产品质量2.2故障模型教学要求：　　1、掌握：测试的经济性和故障定义。　　2、理解：故障的含义和分类方法。3、了解：测试与

4、产品质量间的关系。第三章逻辑与故障模型教学内容：3.1   用于设计验证的模拟3.2用于设计评估的模拟3.3用于模拟的模型电路3.4用于真值模拟的算法...3.5故障模拟算法3.6故障模拟的统计学方法教学要求：　1、掌握：模型电路概念及类型，真值模拟的算法和故障模拟算法。　2、理解：用于真值模拟的算法以及故障模拟算法的原理及意义。　3、了解：设计验证和测试评估的模拟，故障模拟的统计。第四章可测试性度量教学内容：4.1   SCOAP可控制性和可观测性4.2   高层次可测试性度量教学要求：　1.掌握：集成电

5、路测试中SCOAP可控制性和可观测性概念理论。　2.理解：SCOAP可控制性和可观测性理论，以及VLSI电路可测试性的行为综合。　3.了解：集成电路测试的可控制性和可观测性概念。第五章组合电路测试生成教学内容：5.1   算法与表示5.2   冗余识别5.3   全局测试问题5.4重要的组合ATPG算法5.5测试生成系统5.6测试矢量压缩教学要求：　1、掌握：重要的组合ATPG算法，测试生成与压缩。　2、理解：冗余识别，全局测试相关理论。　3、了解：算法与冗余识别的概念；算法在集成电路测试中的作用。第六章时

6、序电路的测试矢量生成教学内容：...6.1   单时钟同步电路的ATPG6.2   时间帧展开方法6.3   基于模拟的时序电路ATPG教学要求：　1、掌握：时间帧的展开方法。　2、理解：基于模拟的时序电路ATPG和时间帧的展开理论。　3、了解：时序电路的测试矢量生成的具体过程。第七章数字电路DFT和扫描设计教学内容：12.1   特定的DFT方法12.2   扫描设计12.3   部分扫描设计12.4扫描的变种教学要求：　1、掌握：数字电路的可测性设计以及扫描设计的相关理论。　2、理解：扫描设计的原理和实

7、现方法。　3、了解：特定的可测性设计方法，扫描设计和它的演变。第八章内建自测试教学内容：13.1   BIST的经济性情况13.2   随机逻辑BIST13.3   存储器BIST13.4延迟故障BIST教学要求：　1、掌握：内建自测试的工作原理和实现方法。　2、理解：内建自测试的工作原理和实现方法。　3、了解：内建自测试的经济性情况。第九章边界扫描标准教学内容：...14.1   边界扫描的系统结构14.2   边界扫描的描述语言教学要求：　1、掌握：边界扫描标准定义的系统结构。　2、理解：边界扫描语言。

8、　3、了解：边界扫描的相关知识。第十章模拟测试总线标准教学内容：15.1   模拟电路的可测试性设计15.2   模拟测试总线教学要求：　1、掌握：模拟电路的可测性设计相关理论，模拟测试总线要求。　2、理解：模拟测试和测试总线的相关概念和具体要求。　3、了解：模拟电路可测试性和测试总线的具体实现方法。四、本课程与其它相关课程的联系与分工在学习本课程之前，应对数字集成电路、模拟集成电路和超大规模集成电路设计有深入的