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时间:2019-03-17
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1、隊簡I,责f硕i学位论文^MASTERDISSERTATION'^8龜細:基吉的^指县教肺:白无蕊国内图书分类号:TN389密级:公开国际图书分类号:621.38西南交通大学研究生学位论文基于AIGaN/GaN异廣结的ESD防护器件研究年级2013级姓名陈协助申请学位级别K±专业电路与系统指导老师白天蕊二零一六年五月ClassifiedIndex:TN389U.D.C621.38:SouthwestJiao1;ongUniversityMasterDeree
2、ThesisgThestudinofESDro1:ectio打devicebasedonygpAlGaN/GaNheterunctionjGrade:2013Candidate;ChenXiezhuAcademicDereeAliedfor:MasterDereeofEnineeringppgggSpeciality;CircuitsandSys化msSuervisor;BaiTianruipMay2016,西南交通大学学位论文版权使用巧枚书本学位论文作者完全了解学校有关保留,、使用学位论
3、文的规定同意学校保留并向国家有关部口或机构送交论文的复印件和电子版,允许论文被查阅和借阅。本人授权西南交通大学可W将本论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可W采用影印、缩印或扫描等复印手段保存和汇编本学位论文。本学位论文属于1.保密□,在年解密后适用本授权书;2.不保密U(使用本授权书。‘‘V’’(请在W上方框内打)学位论文作者签名:指导老师签名:句又楚^%娘細-、曰期:()1曰期、:2口1?^^I西南交通大学硕±学位论文主要工作(贡献)声明本人在学位论文中所做的主要工作或贡献如下:(1)从原理、结构和仿真等角度对单向
4、GaN基ESD防护器件进行研究;从肖特-基接触面积,阳极阴极间距,AlGaN势垒层的A1组分对GaN基ESD防护器件的正向导通电流进行优化。(2)研充了短沟道单栅GaN基器件的栅极沟道的能带与所加漏端电压和栅极长度的关系,W及阔值电压漂移的现象。从器件栅下AlGaN势垒层厚度、栅下AlGaN势垒层惨杂浓度、W及AlGaN势垒层中A1组分角度对GaN基HEMT的阔值电压进行分析比较,优化出了常关的短沟道GaN基HEMT。一(3)利用器件的短沟道特性,提出了种双向触发的AlGaN/GaNESD防护器件。其导通原理是在源极或漏极加电压时,沟道产生漏致势垒降
5、低效应,使得导带弯曲到费米能级W下,沟道穿通,实现器件开启,器;其双向触发原理是当漏极加电压时件,,器件也可可^导通当源极加电压时^^导通。(4)对双向AlGaN/GaNESD防护器件触发阔值与直流特性进行了分析,结果表明双向AlGaN/GaNESD器件的触发阔值与栅极长度L有关,L越短,触发阔值电压越小。本人郑重声明,:所呈交的学位论文是在导师指导下独立进行研究工作所得的成果。除文中已经注明引用的内容外,本论文不包含任何其他个人或集体己经发表或撰写过的研究成果,。对本文的研巧做出贡献的个人和集体均己在文中作了明确说明。本人完全了解违反上述声明
6、所引起的一切法律责任将由本人承担。学位论文作者签名;蘇伽八.M曰期:西南交通大学硕±研究生学位论文第I页摘要由于GaN材料在高温、光电子、大功率、微波射频等领域表现出诸多的优势,GaN半导体技术在近20多年得到了快速发展。特别是GaN材料外延技术的发展,让GaN基器件得到了飞速发展。AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)因具有高的击穿电场与优秀的电子传输特性,而在微波射频与大功率领域具有广阔的应用前景。虽然GaN基HEMT具有很高的击穿电场,但对GaN基器件的现有静电放电(ESD)测试表明,GaN基朋MT也易受到ESD的危害。
7、一,本文在对A,针对此问题lGaN/GaNHEMT的原理进行研巧的基础上旨在探索种能在AlGaN/GaNHEMT中集成且工艺兼容性好,电压控制灵活的GaN基ESD防护器件。本文主要的研巧工作与成果为W下几点:1、分析了AlGaN/GaNHEMT的极化效应和二维电子气W及器件的工作原理。研究了短沟道单栅GaN基器件的栅极沟道能带与漏端电压^及栅极长度的关系,^>1及阔^值电压漂移的现象。研究了利用GaN短沟道效应实现器件工作。
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