esd防护器件测试系统性能研究

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1、øøQRø%Øø%ø†OM¼†OM¼第32卷JournalofHebeiUniversityofScienceandTechnologyVol.32文章编号:1008-1542(2011)07-0067-04ESD防护器件测试系统性能研究王振兴,武占成,张希军,高永生(军械工程学院静电与电磁防护研究所,河北石家庄050003)摘要:静电放电(ESD)的测试方法主要为人体模型(HBM)、人体-金属模型(BMM)和机器模型(MM)等,近年来传输线脉冲(TLP)测试方法得到广泛使用。基

2、于TLP测试理论建立了ESD防护器件测试系统,并对测试系统的性能进行了测试研究。测试发现不同脉宽的测试方波对器件的峰值电流、峰值电流时间和箝位时间影响不大,但脉冲结束电流和箝位电压随着脉宽增大而减小,同时较长的传输线会产生较宽的延迟脉宽,对测试结果并未产生影响。关键词:ESD;TLP;脉宽;传输线线长中图分类号:TN710文献标志码:A静电放电(ESD)严重影响电子器件和集成电路的可靠性。ESD测试模型使用较多的是人体模型(HBM)、人体-金属模型(BMM)和机器模型(MM)等[1]。近年来传输线脉冲(TLP)测试方法被Intel等大公司发明,由于TLP测试方法可以描绘出器件在

3、ESD作用下的电流、电压特性,因此得到广泛使用[2],但当前TLP测试方法并没有制定出统一的标准。瞬态电压抑制管等保护器件是现在电子线路中必不可少的组成部分,而器件的箝位电压和响应时间等参数是反映其性能的重要参数。ESD防护器件测试系统当前主要的TLP测试方法有以下几类[3]。1)时域反射TDRTLP:直接使用示波器测量被测器件的入射波和反射波。2)时域传输和反射TDRTTLP:利用传输和反射波混合的测量方式。3)时域传输TDTTLP:在示波器上直接测量传输波形的TLP测试方式。4)电流源(CurrentSource)TLP:在DUT上串联500Ω的电阻,然后测量DUT的电压和

4、电流。1笔者根据时域传输TDTTLP测试方法建立了ESD防护器件性能测试系统,图1为建立的ESD防护器件测试系统示意图。ESD防护器件测试系统主要由高频噪声发生器、同轴线、测试夹具、脉冲衰减器和示波器组成。由高频噪声发生器产生脉宽和幅值可调的方波,经过同轴线传输施加在固定在测试夹具上的器件上。同时器件两端的电压值(即夹具两端的电压值)经衰减器后在示波器上显示。由于采样电阻与器件串联在一起,测量采样电阻两端的电压,即可计算出流经器件上的电流值。为了满足测试系统的输入阻抗和特性阻抗的匹配,系统采用的高频噪声发生器、同轴线、测试夹具和示波器的特性阻抗都是50Ω。50赘同轴线测器件A样

5、电阻50赘同轴线图1ESD防护器件测试系统示意图系统中使用的方波源为日本Noiseken公司生产的ISN-4040高频噪声模拟发生器,使用的示波器为收稿日期:2011-06-25;责任编辑:张士莹基金项目:国家自然科学基金面上项目(60971042)高频噪声发生器测试夹具被A示波器脉冲衰减器采400.0M0.0400.0MTektronix公司生产的7154B型示波器。系统将2个MS2-4000型30dB脉冲衰减器串联使用,以达到60dB衰减。采样电阻选择阻值1Ω、最大功率为10W的无感电阻。ESD防护器件测试系统性能研究2方波源波形分析ESD在时域上具有较快的上升沿(ns甚至

6、ps级),HBM放电波形的上升沿为2~10ns,而BMM放电波形的上升时间为0.7~1ns;在频域上,则覆盖较宽的频带,达到GHz的特点。为了使测试结果更加精确,TLP测试采用的方波波形的上升时间也应当为ns级,且频域覆盖范围也必须较宽。图2是ISN-4040型高频噪声模拟发生器产生的方波波形,图3是日本Noiseken公司生产的ESS-200AX静电放电枪产生的人体金属模型的静电电压(BMM)波形。2.1图2ISN-4040型高频噪声模拟发生器产生的方波波形图3ESS-200AX静电放电枪产生的BMM波形从时域波形可以看出,方波波形和BMM波形的上升时间均小于1ns,同时由于

7、方波的电压波形更加规整,电压值较为稳定,因此可以更好地看出器件在一定电压下的行为。分别对方波波形和静电放电BMM波形进行频域分析[4],比较两者的频域范围,其结果如图4和图5所示。300.80.6200.4100.2200.0M400.0M600.0M800.0M1.0G1.2G1.4G200.0M400.0M600.0M800.0M1.0G1.2G1.4G1.6G0频率/Hz频率/Hz图4方波波形频域范围图5BMM波形频域范围通过比较方波波形和BMM放电波形的频域范围可以看出:方波和BMM

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