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时间:2019-03-02
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1、论文题目A公司老化测试设备整体设备效率的分析与提升策略专业学位类别工商管理(MBA)学号201132110255作者姓名熊伟指导教师陈旭教授万方数据万方数据分类号密级注1UDC学位论文A公司老化测试设备整体设备效率的分析与提升策略(题名和副题名)熊伟(作者姓名)指导教师陈旭教授电子科技大学成都(姓名、职称、单位名称)申请学位级别硕士专业学位类别工商管理(MBA)提交论文日期2013.11.15论文答辩日期2013.11.27学位授予单位和日期电子科技大学2013年12月24日答辩委员会主席评阅人注1:注明《国际十进分类法UDC》的类号。万方数据万方数据THEANALYSISANDSTRAG
2、YOFCAPACITYIMPROVEMENTFROMBURN-INEQUIPMENTINCOMPANYAAMasterThesisSubmittedtoUniversityofElectronicScienceandTechnologyofChinaMajor:BusinessAdministration(MBA)Author:XiongWeiAdvisor:ChenXuSchool:SchoolofManagementandEconomicsofUESTC万方数据万方数据独创性声明本人声明所呈交的学位论文是本人在导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。据我所知,除了文中特别加以标注和致
3、谢的地方外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成果,也不包含为获得电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说明并表示谢意。作者签名:日期:年月日论文使用授权本学位论文作者完全了解电子科技大学有关保留、使用学位论文的规定,有权保留并向国家有关部门或机构送交论文的复印件和磁盘,允许论文被查阅和借阅。本人授权电子科技大学可以将学位论文的全部或部分内容编入有关数据库进行检索,可以采用影印、缩印或扫描等复制手段保存、汇编学位论文。(保密的学位论文在解密后应遵守此规定)作者签名:导师签名:日期:年月日万方数据万方数据摘要
4、摘要众所周知,半导体封装测试工厂的设备十分昂贵,与产品配套的各种测试接口模块(TIU,TestInterfaceUnit)价格也不菲,而且往往由于产品快速的更新换代,测试接口模块更新换代的速度也在加快,因此如何有效地提高半导体封装测试设备的有效利用率、提高设备的产能从而控制企业的生产成本就是各大半导体厂商需要研究的重点问题。在笔者工作的A封装测试公司,在新产品CW引进的过程中,就由于老化测试设备的实际产能和预期产能存在着巨大的差距,给A公司带来推迟供货甚至违约的风险。那么在半导体行业中,如何有效度量、有效控制并提高半导体设备的实际有效利用率呢?为了更好的控制和度量半导体设备的效能,国际半导
5、体设备与材料(SEMI,SemiconductorEquipmentandMaterialsInternational)在SEMIE79的规范中提出了一种能够有效的度量设备效能的方法-整体设备效率(OEE,OverallEquipmentEfficiency),这种OEE的方法因为适应半导体产业的要求,弥补了传统计算设备效率方法的不足,因而得到了广发的应用。本论文通过对A公司的老化测试设备在引进新产品CW过程中遇到的产能瓶颈为研究对象,引入整体设备效率的方法,通过对A公司老化测试设备的整体设备效率三个关键性能指标的研究分析,得到该公司老化测试设备产能损失的环节以及损失程度,从而制定相应的改
6、进措施并加以实施。通过提高该公司老化测试设备有效产能、缩短生产周期、提高人工效率最终得到降低生产制造成本的目的。论文通过大量的数据分析以及结合各种管理上的工具(FEMA,PDCA,SPC,SWI,SOP,JIBS,Statistics)以及对工作人员建立有效的培训机制和绩效监督反馈制度,从而成功的解决了论文中涉及到的提高老化测试设备的有效产能的问题。关键词关键词:关键词:::封装测试,老化测试,整体设备效率,产能提升I万方数据ABSTRACTABSTRACTAsweallknowthatit’sveryexpensiveforthestrategiccapitalequipmentandc
7、orrespondingTIUofsemi-conductorassemblingandtesting(ATM)industry.Ontopofthat,withtheincreasinglygenerationchangeofsemi-conductorproducts,thechangeofcorrespondingTIUisveryfastaswellduetothemarketrequirement.Sohowt
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