ausn共沉积无氰电镀的研究

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1、大连理工大学硕士学位论文摘要LED作为一种节能环保、寿命长和多用途的光源,越来越多的应用在现代生活中。倒装芯片技术(Flip.ChipTechnology)解决了大功率LED散热能力差和出光率低的缺点,但FC技术对封装工艺的要求更加苛刻。本文即是对适用于大功率LED倒装芯片技术中凸点制各工艺进行的研究工作。本文主要对无氰电镀共沉积制备金锡合金凸点的方法进行了研究,内容包括镀液稳定性,电镀参数对镀层的影响以及Au70Sn30共晶凸点的制备方法等,通过研究发现:1.以仅在室温稳定的D.G.Ivey无氰金锡合金镀液为基础,添加E

2、DTA作为金离子的第二络合剂,添加焦磷酸钾作为锡离子络合剂,并将镀液pH从6.0调整到8.0,得到了一种新的无氰金锡合金镀液。新镀液有较好的稳定性,室温下放置数周,高温加热至50℃不分解。2.在T=45℃、镀液中其他成分及其浓度保持不变的条件下,当氯金酸钠浓度依次取4、10、15、209rL时,以10∥L时镀液稳定性最好且合金镀层的生长速度最快。氯金酸钠浓度太低,施加稍大的电流会造成镀层的致密度严重下降。而氯金酸钠浓度过高又会严重影响镀液的稳定性。在本实验条件下适宜的氯金酸钠浓度为10e./L。3.施镀温度对镀层影响较明显

3、。当施镀温度在35~65℃之问取值时,温度较低时,镀层表面平整性差;温度过高则有可能造成镀层烧焦、粗糙并增加镀层内应力。综合考虑,本文认为45"C作为旌镀温度较合适。4.氯金酸钠浓度为】09/L、T=45℃时,电流密度(,)依次取1、2、3、4、5、6、6.5、7、8、8.5、10mA/cm2时,镀层锡含量呈阶梯状变化:./=1mA/em2时的镀层锡含量接近16%,为AusSn相镀层;d=2mA/em2时镀层锡含量为30%,为Au5Sn相和AuSn相的混合镀层;也3mA/cm2后镀层锡含量接近50%,为AuSn相镀层。随着

4、电流密度的增加,镀层表面起伏增加,晶粒粗化。镀速在J=7mA/cm2出现一峰值,增加或减小电流均降低镀速。5.用制作Au5Sn相和AuSn相双层膜的方法,可以形成Au70%Sn30%(at.%)共晶成分的镀层,但受到Au,Sn相镀速的影响,总体镀速不快。而用直接沉积30%锡含量镀层的方法,通过改变正向脉冲参数,在平均电流密度6.05mA/cm2,T--45。C的条件下,Au70Sn30沉积速度可达131ma/h。关键词:Au-Sn共晶:无氰电镀;共沉积;无铅钎料Au-Sn共沉积无氰电镀的研究Non-cyanideElect

5、roplatingofAu·SnAlloyAbstractLEDswereappliedinmanyfieldsasalong-life,energyefficient,environmentallyfriendlyandmulti—uselightsourceinmodemlife.Theflip—chiptechnologyimprovedthethermaldissipationandluminescenceefficiencyofHigh—powerLEDs,buthigherrequirementsweresub

6、mittedtothepackagingtechnology.OurpurposewastodevelopanAu—Snbumpingprocessonhigh-powerLEDflip-chiptechnology.Thispaperfocusedontheinfluenceofnon—cyanideplatingsolutionstability,theelectroplatingparametersonthethicknessofcladding,andthepreparationofAu70Sn30eutectic

7、bump.Themainresultsindicatedthat:1.Anewnon—cyanideco-electroplatingsolutionforAu—SnalloyswasdevelopedbasedonD.G.1vey’ssolutionwhichwasstableatroomtemperature.NaS03andEDTAwereusedasgoldencomplexingagent,potassiumpyrophosphateasstannouscomplexingagent,pHvaluewasadju

8、stedfrom6.0to8.0.Thehi曲-temperaturestabilityofthissolutionwasimproved(itwasstillstableafterheatingto50V).2.WhentheNaAuCl4·2H20concentrationinbathwas4,l0

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