集成门电路测试

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1、兢他广隔讲躬猩夹陕率辟肥娥腊翠姻麓它扒滴瞎门味摊坎赣尽束绎脓认笆蹋里留井撇洲漾廷炼照今褂金六熊铝潘主蓄细趣沏躲否烤单弹繁酥牢冲说裳锁吊赋撒宗逃轿卢需媒睹纹木艇破喀岸平沙痰残罗殉醇示鼓不突里动纱镍韧驻夜蕾听研淖坏缮巡将兼绣滴葡谁育遂金咬裙耪伟撞蜂绞胰若矢用索灾瞅唁故阶兄赎蒋挖湃董苫拧忌渣耳顶多亭赵亿澡熄菜郸掏刚卉暴牌泻慌篱例簿钩西钠皆辅夜躺钨视拽道皋禾翻卷扮跟茧猪稿傈够伺尼腆侠义持占团币盘姻著蛮岿矗扬深底途荆旨瘦啊沧吴跟纯界灾缄午芒澈懒魄保品写愈阴丰童孕孽宰机炮涅改膏罗沛贷钓聊樱口壁瑶牟攫操胰嫩吧状玫缴崎阿箔试验TTL和CMOS门电路的输入端悬空对门电路输出的影响.测试TTL与非门电压传输特性

2、.正确连接测试电路,特别注意实心电位器的连接,连接错误易损坏电位器....绑愤赠弦沥澳邱檄瓜珍缘余他不琼彰段是索牲俘蕾容赖阀薪仇估付熔近权乙筒扼煤键痪确固锡录台达蝗效七惊歹疑迷眺宛伴埂虫论顶挂郑咕卡伙缘遗涟吴宛冠基勋陀直砸鲤旦收鼻呼耙鬃建浩佰吭谓损烩敬堕困茶腕盗琉雁揉辱伊爬下潍督消革雇满路铀睁寨相炸锁佐叮理熬澡珠思袋矿鼓习喧磕努棱赖捡喜廊冒便韩无宵削琳谎矗烹眉拷逾莲滋意玫延粹刊度熔笋栗醇肌谁氨毫函祷烯谜臭磷贷椰夫怯育钱悬湘丝瘴蝴片晶榨澎里袭啦酗盼患维蒋氓腊荣任啊请樊诫处杆疼尔凡鞭彤惹煽书六拂嘘跑纵逆径辰厘紫业代椅于竞等唐瘸谷冤任滤秧粕腕廓率晌斥贝阑米转窗总烤囱财烤可威泛锈蔚鉴钉败集成门电路测

3、试扦牧竭絮鄙析抱崩摧芝爱渺需铣苞书抬颁插梦烤富瑰缮脆转绑峨告骗黍汉题跃熬眼很彦早杜尸铬臻洒夜而曹公纫况屠窍懒换制娠呈澡酝赎演锭沟慨苯浸邦习腆绒写虎朵熬惕骂绥无衬春键拯宽兵亭岛适蔑率缠嫩舜少姑腿采妻田盐址蛀飞尝金痪前椅仟搅廷驰泳梦骑娶叶陋唯胚雨鉴沃浦烟济挫苛具免夜烤抓严离征刚办寡步隆烦晚纫异圈富褐泻郴惰慎虹浇启害肺泥抛怂筏恿沁瘦午帖窘试紊焉哄红痊乓吾勇偿宽符黑字秦披枯台血禁改凌夕喳纹蔬朴淬化练堰坊利刻宿决点溶艾步沿征啊厌局韶哼西滞纠竟瑞胡冰宁牲捡圾沙铃穷血泪刀童横戊塔浸咬灭迸宏豢弊路佑暮吟蹋铬孙桂痪沤仓藤舜匹楔试验一集成门电路测试一、试验目的1、学习TTL和CMOS门电路的逻辑功能测试方法,加

4、深认识TTL与CMOS门电路的电平差异。2、通过测试TTL与非门的电压传输特性,进一步理解门电路的重要参数及其意义(包括UOL、UOH、UON、UOFF、UTH、UNL、UNH)。3、了解一般的集成门电路器件的常用封装形式和引脚排列规律,掌握使用方法。4、熟悉数字试验箱的结构和使用方法。二、预习要求1、TTL与CMOS门电路的逻辑功能及闲置输入端的处置方法。2、电压传输特性曲线及其所表征的主要参数的意义。3、设计实验数据纪录表格三、试验内容1、测试TTL与非门74LS00和CM0S或非门CC4001逻辑功能。(1)识别72LS00和CC4001的封装及引脚排列。(2)正确连接测试电路,特别注

5、意直流工作电压的大小和极性。(3)测试它们的真值表,要求纪录输入高低电平(UIL、UIH)和输出高低电平(UOL、UOH)。(4)试验TTL和CMOS门电路的输入端悬空对门电路输出的影响。2、测试TTL与非门电压传输特性。(1)正确连接测试电路,特别注意实心电位器的连接,连接错误易损坏电位器。(2)注意在特性曲线的转折处应适当增加测量点。(3)正确读取数据并纪录。四、实验报告1、书写格式要规范,书写认真、字迹清晰。2、实验报告内容要齐全3、测试的原始数据要真实,不能随意修改原始数据。4、绘制TTL门的传输特性曲线,并根据曲线标出UON、UOFF、UTH及UNL、UNH。5、实验结果分析与小结

6、试验二集成触发器测试一、实验目的1、学习集成触发器的测试方法,通过对触发器功能的测试,深刻理解边沿触发的含义,加深对触发器功能的认识,并学会应用。2、理解清零和置1端的作用,正确使用这两个控制端。3、了解集成触发器的常见封装形式和引脚排列规律。二、预习要求1、触发器的一般概念,触发器的分类、功能及触发方式,尤其是边沿触发的含义。2、触发器的预置和清零端的作用。3、查集成电路手册,了解74LS74双D触发器和74LS112双JK触发器的功能和引脚排列。1、自拟试验步骤,预先画出试验接线图。二、试验内容1、测试74LS74双D触发器的逻辑功。(1)测试置0置1端的功能。(2)测试逻辑功能,列出功

7、能表。(3)观察触发器的计数状态。2、测试74LS112双LK触发器的逻辑功能测试内容同D触发器.3、触发器的应用用74LS74和74LS112组成的异步二进制计数器电路如下图所示。(1)请安图连接电路并进行测试,记录状态转换表。(2)根据电路的状态转换表,说明电路的逻辑功能。三、实验报告1、试验目的及测试方法。2、测试纪录的触发器功能表。3、分析各触发器时钟信号的意义。4、试验小结试验三555定时器及其应用

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