集成门电路功能测试.doc

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1、个人收集整理勿做商业用途第三次实验报告20100820217通信工程二班王绪先一、实验名称：集成门电路功能测试。二、实验基本知识点:1)逻辑值与电压值的关系。2)常用逻辑门电路逻辑功能及其测试方法.3)硬件电路基础实验箱的结构、基本功能和使用方法.三、实验仪器设备与元器件：硬件电路基础实验箱、导线、万用电表四、实验概述：门电路的基本功能下图所示是TTL和非门74LS00的逻辑符号及逻辑电路.五、实验内容:1、基本门电路的逻辑功能测试测试74LS08（与门)、74LS32（或门）、74LS04（非门

2、）、74LS00（与非门）、74LS86（异或门）的功能。将被测芯片插入试验区的空插座，连接好测试电路，拨动开关，改变输入信号，观测输出输入端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验证TTL电路的逻辑功能，记录实验数据.输入输出Y74LS0874LS3274LS0474LS0074LS86ABYU/VYU/VYU/VYU/VYU/V0000.21　14。5414.4700。190100.21　　14。5314.4714。421000.21　　00。1814。4814.431114。53　

3、　00。1800。2500。192、逻辑门的转换利用74S00与非门组成非门,2输入与门,2输入或门电路A、与非门组成非门电路图：+513A2实验数据记录如下表：输入输出0110B、74LS00与非门组成2输入与门逻辑符号图如下：个人收集整理勿做商业用途实验数据记录如下表输入输出ABY000100010111C、74LS00与非门组成2输入或门逻辑符号图如下：YBA实验数据记录如下表输入输出ABY000011101110三、门电路的基本应用根据半加器的逻辑表达式克制，半加器的输出的和数S是输入A、

4、B(二进制）的“异或”，而进位数C是A、Ｂ的相“与”，故半加器可用一个集成“异或"门和两个“与非”门组成,如下图：个人收集整理勿做商业用途①在实验箱上用“异或"门（74LS86）和“与非”门按下图逻辑电路连接.输入端A、B接“逻辑电平”开关，输出端S、C接“电平显示”发光二级管。②通过点评开关改变输入A、B的路基状态位置，观测输出端的逻辑状态，列表记录。实验数据记录如下表：实验数据输入输出ABCS0000010110011110六、实验心得：本次试验，我加深了对逻辑门电路的理解,自己基本可以独自完

5、成对每一种逻辑门的逻辑功能的测试，对每一种门的组合运用也有了新的体会，当然还需要加强理解，加强对每种门的组合运用。